專家支招:如何快速解決隔離FPGA設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤.doc

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1、專家支招:如何快速解決隔離FPGA設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤  如果您的FPGA設(shè)計(jì)無法綜合或者沒能按預(yù)期在開發(fā)板上正常工作,原因往往不明,要想在數(shù)以千計(jì)的RTL和約束源文件中找出故障根源相當(dāng)困難,而且很多這些文件還可能是其他設(shè)計(jì)人員編寫的??紤]到FPGA設(shè)計(jì)迭代和運(yùn)行時(shí)間的延長,設(shè)計(jì)人員應(yīng)該在設(shè)計(jì)流程的早期階段就找出可能存在的諸多錯(cuò)誤,并想方設(shè)法重點(diǎn)對設(shè)計(jì)在開發(fā)板上進(jìn)行驗(yàn)證?! ≡谔囟l件下采用更智能的技術(shù)來隔離特定錯(cuò)誤,找到問題電路的源頭并漸進(jìn)式修復(fù)錯(cuò)誤,這很重要。為了節(jié)省時(shí)間,您可以對時(shí)鐘、約束和模塊級接口

2、進(jìn)行初步設(shè)置檢查以確保符合設(shè)計(jì)規(guī)范,這樣就不必在綜合與布局布線(P&R)時(shí)浪費(fèi)大量時(shí)間。  Synopsys公司的SynplifyPremier和SynplifyProFPGA設(shè)計(jì)工具以及IdenTIfyRTLDebugger等產(chǎn)品能幫助設(shè)計(jì)人員完成上述工作。這些工具的特性使得設(shè)計(jì)人員能快速隔離錯(cuò)誤,有效縮短運(yùn)行時(shí)間,并減少開發(fā)板啟動所需的迭代次數(shù)?! 【_找到開發(fā)板上的問題  如果開發(fā)板出現(xiàn)明顯的功能性錯(cuò)誤,要縮小查找問題根源的范圍可能會相當(dāng)困難。為了進(jìn)行設(shè)計(jì)調(diào)試,我們應(yīng)當(dāng)創(chuàng)建附加電路并保留某些節(jié)

3、點(diǎn),以便我們對設(shè)計(jì)運(yùn)行時(shí)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行探測、檢查和分析。下面我們就看看如何用板級調(diào)試軟件來查找錯(cuò)誤?! “聪铝兴牟椒ú⒗肦TL調(diào)試器,您能精確查找問題,并對信號和關(guān)注的條件采樣,然后將觀察結(jié)果關(guān)聯(lián)至原始RTL,從而將問題鎖定在RTL規(guī)范或約束設(shè)置范圍內(nèi)。  第一步:指定探測。在RTL中明確要監(jiān)控哪些信號和條件。在此要聲明您所感興趣的觀察點(diǎn)(要觀察的信號或節(jié)點(diǎn))和斷點(diǎn)(RTL控制流程聲明,如IF、THEN和CASE等)?! 〉诙剑和ㄟ^探測構(gòu)建設(shè)計(jì)。利用附加的監(jiān)控電路——即用于根據(jù)您的監(jiān)控要求捕捉并

4、導(dǎo)出調(diào)試數(shù)據(jù)的智能內(nèi)部電路仿真器(IICE)——對FPGA設(shè)計(jì)進(jìn)行綜合?! 〉谌剑悍治龊驼{(diào)試。設(shè)計(jì)綜合完成之后,運(yùn)行設(shè)計(jì)并用RTL調(diào)試器觀察數(shù)據(jù)。在開發(fā)板上運(yùn)行測試時(shí),觀察點(diǎn)和斷點(diǎn)共同觸發(fā)數(shù)據(jù)采樣,使您能在您所關(guān)注的非常明確的條件下觀察并調(diào)試特定節(jié)點(diǎn)的電路的行為。您可將觀察到的采樣數(shù)據(jù)寫入VCD文件并將其關(guān)聯(lián)到RTL?! 〉谒牟剑簼u進(jìn)性修復(fù)錯(cuò)誤(incrementaLfix)。一旦找到了錯(cuò)誤所在,就可以通過分級、漸進(jìn)式流程在RTL或約束中漸進(jìn)地進(jìn)行修復(fù)。  時(shí)序和功能性錯(cuò)誤的可視檢查  FPGA設(shè)

5、計(jì)和調(diào)試工具還有一大優(yōu)點(diǎn),就是能顯示RTL和網(wǎng)表級原理圖。舉例來說,具有互動調(diào)試功能的原理圖查看器能夠顯示設(shè)計(jì)的RTL和網(wǎng)表原理圖,便于您進(jìn)行觀察并將時(shí)序報(bào)告和VCD數(shù)據(jù)(設(shè)計(jì)在開發(fā)板上運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生)關(guān)聯(lián)至RTL源文件。查看器包含一個(gè)RTL視圖,用來以圖示的方式描述設(shè)計(jì)。該視圖在綜合RTL編譯階段后提供,由技術(shù)獨(dú)立的加法器、寄存器、大型多路選擇器和狀態(tài)機(jī)等組件構(gòu)成。通過RTL原理圖,您可以交叉探測原始RTL,對不符合預(yù)定規(guī)范的設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)整,同時(shí)也可以探測到約束編輯器,從而更簡便地更新和指定約束(圖1)

6、?!   ∫獙㈠e(cuò)誤操作的源頭追溯到RTL,您可以利用RTL調(diào)試器在RTL原理圖上方實(shí)時(shí)插入觀察到的操作數(shù)據(jù)?! ≡韴D查看器包括一個(gè)網(wǎng)表級技術(shù)視圖,用于顯示綜合后的實(shí)際設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)情況。在HDLAnalyst原理圖查看器中,該視圖基于查找表、寄存器和DSPslice等基本的賽靈思器件原語。您可在原理圖中對路徑進(jìn)行交叉探測,追溯到原始的RTL以及綜合后和布局布線后的最終時(shí)序報(bào)告,以便分析和提高整體性能?! ≡贔PGA中原型設(shè)計(jì)的ASIC門控時(shí)鐘結(jié)構(gòu)并非FPGA實(shí)現(xiàn)中的必要環(huán)節(jié),這會導(dǎo)致FPGA資源使用效率

7、低下。解決該問題的有效辦法就是用FPGA綜合軟件轉(zhuǎn)換時(shí)鐘?! 〈笮驮O(shè)計(jì)的調(diào)試  在大型設(shè)計(jì)中探測所有信號是不可能,因?yàn)樯傻臄?shù)據(jù)量極為龐大,而且探測數(shù)據(jù)所需的額外調(diào)試邏輯也太大。片上調(diào)試方法的一個(gè)常見弊病是難以提前預(yù)測需要對哪些信號進(jìn)行探測和監(jiān)控?! ∫恍┱{(diào)試軟件通過分治法能夠在一定程度上解決這個(gè)問題。利用多路復(fù)用的采樣組,設(shè)計(jì)人員可以有選擇性地進(jìn)行采樣并通過多路復(fù)用的路徑和共享的IICE在信號組之間切換。這種方法增加了可觀察的信號和條件,而且不會增加數(shù)據(jù)存儲要求。您可以即時(shí)切換感興趣的信號組,不必

8、花時(shí)間進(jìn)行重新調(diào)整或重新綜合新的設(shè)計(jì)?! 〔恍业氖牵谔綔y和采樣數(shù)據(jù)時(shí)用使的調(diào)試IICE邏輯會占用包括存儲器BRAM在內(nèi)的芯片資源。您可在SRAM存儲卡中對IICE采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行片外存儲,以減少片上BRAM的使用。這種方法的另一個(gè)好處是能增加采樣數(shù)據(jù)的深度。

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