部分電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書

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1、電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)（一）IC類檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有IC（包括BGA）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受

2、。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質(zhì),可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f.元件腳彎曲，偏位,缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。備注

3、：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開封裝的，IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。（二）貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感…)1.目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容,電阻,電感…）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4.允收

4、水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬(wàn)用表操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，

5、或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質(zhì),可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢測(cè)方法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管

6、檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1，而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注抽樣計(jì)劃說明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每盤中取3~5pcs元件進(jìn)行檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見＂LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引＂和＂數(shù)字萬(wàn)用表操作指引＂。（三）插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4

7、.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》、《數(shù)字電容表操作指引》。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受；b.電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c

8、.本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右