CHT3530高阻測試

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1、高阻測試指南j部門：研發(fā)部文獻(xiàn)類別技術(shù)文獻(xiàn)日期：2012-06-10編號：HP201-12061000ACHT3530采用加電壓測電流的方法，電壓輸出1mV~1000VDC，源內(nèi)阻100kΩ。15電阻測量范圍達(dá)10Ω~10Ω，電流測試范圍2mA~1pA，可有效有小分辨至10fA。測量功能還包括各種：表面絕緣電阻測試、絕緣材料和半導(dǎo)體的表面電阻率測量以及體積電阻率測量等。量程有效分辨率精度±（%+分辨率）溫度系數(shù)（ppm/℃）2mA0.1uA0.1+525200uA10nA0.1+52520uA1nA0.1+5252uA0.1nA0.1+1050200nA1

2、0pA0.1+105020nA1pA0.3+202001nA0.01pA5+20200量程有效分辨精度±（%+分辨率）溫度系數(shù)ppm/℃測試率電壓10kΩ?1?Ω?0.1+52550V100kΩ?10?Ω?0.1+52550V1MΩ?100?Ω?0.1+52550V10MΩ?1kΩ?0.1+55050V0.1GΩ?10kΩ?0.1+55050V1GΩ?100kΩ?0.1+1050500V10GΩ?1MΩ?0.35+2050500V100GΩ?10MΩ?0.35+20200500V1TΩ?10GΩ?2+1002001000V10TΩ?100GΩ?5+1000

3、2001000V100TΩ?1TΩ?10+10005001000V1000TΩ?10TΩ?20+10005001000V1、前言在進(jìn)行小信號測試時，信號很容易被淹沒在噪聲環(huán)境中，如果要獲得準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果，除了依靠測試儀器本身優(yōu)異性能外和先進(jìn)的測試原理外，還取決于正確的測試方法和適合的測試環(huán)境。測試高阻的本質(zhì)是測試微電流，而微電流的測試極易受環(huán)境、介質(zhì)、材料等因數(shù)的影響。仔細(xì)閱讀說明書和該指南有助您正確、可靠的實(shí)現(xiàn)高阻和微電流測試。2、高絕緣電阻阻測量前的準(zhǔn)備在進(jìn)行高阻測量前，用戶需要做好以下準(zhǔn)備：1）環(huán)境選擇在進(jìn)行高阻測試時，為了能真實(shí)測量出被測物的阻

4、值，建議用戶在空氣干燥的情況下進(jìn)行測試。因?yàn)?，過度潮濕的空氣絕緣阻抗很低，雖然CHT3530的前端放大器被密封在防水的金屬盒里，但潮濕空氣會污染測試端和被測物，會影響測試的精度。測試環(huán)境需要避免機(jī)械振動，因?yàn)檎駝訒?dǎo)致測試線內(nèi)芯和頻蔽層的摩擦，導(dǎo)致摩擦靜電干擾。2）治具準(zhǔn)備在測試前，請先準(zhǔn)備好測試治具，如果是需要測試高阻，請準(zhǔn)備好靜電箱。平時應(yīng)保管好測試治具，保證它們的清潔，被污染的夾具由于電化學(xué)作用，會是絕緣阻抗的下降會，導(dǎo)致測試誤差或失敗。被污染的夾具，建議用戶使用少許易揮發(fā)的有機(jī)溶劑（如甲醇）清洗。3）靜電屏蔽帶電物體接近被測電路的輸入端時，就會發(fā)生

5、靜電耦合和干擾。在低阻抗之下，由于電荷迅速消散，所以干擾的影響不明顯。然而，高阻材料不允許電荷迅速衰減，就可能產(chǎn)生不穩(wěn)定的測量結(jié)果。由于錯誤的讀數(shù)可能由直流或交流靜電場引起，所以靜電屏蔽有助于盡量降低這種電場的影響。有條件的情況下，我們建議用戶在靜電箱內(nèi)進(jìn)行測試。沒條件的情況下，建議用戶在被測物下鋪一塊金屬板，并將金屬板和頻蔽地相連，這樣也可以起到很好的靜電保護(hù)作用。4）正確連接電源線和測試線保證儀器的電源線能有良好的接地。儀器接地不好，嚴(yán)重的共模干擾，會影響測試精度和穩(wěn)定性。開機(jī)后，電壓輸出處于關(guān)閉狀態(tài)，為了您的安全，在測試線未連接好之前請勿打開充電按鈕

6、。按說明書，正確的連接號測試線。如果您使用的靜電箱，請正確連接好和靜電箱的接線。3、測試步驟1）開機(jī)預(yù)熱為了能達(dá)到儀器所標(biāo)稱的精度和穩(wěn)定性，開始測量前儀器需開機(jī)預(yù)熱15分鐘。2）系統(tǒng)校零前端放大器由于存在失調(diào)電壓和失調(diào)電流引起的失調(diào)誤差，如果不進(jìn)行“調(diào)零”修正，所產(chǎn)生的偏置量就會疊加到輸入信號上產(chǎn)生誤差。偏置通常都按與時間或溫度的函數(shù)來表示。在一定時間和一定溫度范圍內(nèi)的零點(diǎn)偏置應(yīng)在規(guī)定的指標(biāo)之內(nèi)。由溫度跳變引起的偏置在其達(dá)到穩(wěn)定之前可能超過規(guī)定的指標(biāo)。典型的室溫變化速率（1℃/15分鐘）通常不會引起這種過沖。一般在儀器第一次開機(jī)或長時間測試后，由于環(huán)境發(fā)生

7、較大變化時才需要進(jìn)行系統(tǒng)校零操作。執(zhí)行：進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)圖標(biāo)，不用鍵入密碼，即可進(jìn)入菜單，在測試端口保持5秒鐘的良好開路的情況下（5秒為建立時間，以下部分會介紹），按確定鍵執(zhí)行系統(tǒng)清零，等待清零達(dá)到100%后退出。3）清除背景電流（面板清零）背景電流是測試過程中，由于保護(hù)器件、測試線等的漏電變化或測試環(huán)境的變化或電場變化等因數(shù)引起的偏流變化而導(dǎo)致的底數(shù)漂移。輸入偏置電流疊加到被測電流上，所以儀表測量的是兩個電流之和：IM=IS+IOFFSET。圖1是產(chǎn)生背景電流的一些因數(shù)。在進(jìn)行背景電流清除時，盡量使所有帶電物體（包括人員）和導(dǎo)體遠(yuǎn)離測試電路的敏感區(qū)域，在測試

8、區(qū)域附近避免運(yùn)動和振動。圖1執(zhí)行：如果在測試端開路的情況下，發(fā)現(xiàn)儀