磁粉探傷和著色探傷方法

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1、磁粉探傷和著色探傷方法現(xiàn)用磁粉探傷方法磁粉探傷方法[主要內(nèi)容]本標準規(guī)定了鐵磁材料及其制品磁粉探傷的一般方法和交叉磁軛探傷方法(以下稱探傷)、缺陷磁痕的分類等內(nèi)容。本標準適用于檢驗鐵磁材料及其制品(以下稱試件)表面或近表面的裂紋和其他缺陷。[應(yīng)用指要]本標準對磁粉探傷所用的各種設(shè)備器材及其技術(shù)要求、探傷時機安排，不同的探傷實施方法及各自的特長與適用范圍、檢驗程序與要領(lǐng)、顯示的磁痕判別與分類等進行了扼要的描述和規(guī)定，它可作為任何部件磁粉檢驗規(guī)程編制的依據(jù)。一個有效的磁粉探傷方法最基本的要求應(yīng)該是這樣的。其所用磁化方法建立于被檢件上的磁場，應(yīng)盡可能與缺陷預(yù)計方向垂直，

2、且應(yīng)有足夠的場強；當用選定的標準試片(塊)校驗時，試片上要求檢出的人工缺陷處形成的漏磁場應(yīng)能充分吸附施加的磁粉，形成清晰可見的磁痕。1.術(shù)語1.1有效探傷范圍在實際探傷條件下，被檢試件上能達到必要磁化狀態(tài)和所需探傷靈敏度的范圍。1.2交叉磁軛交叉磁軛是由兩個軛狀電磁鐵以一定的夾角進行空間或平面交叉，并用兩個不同相位的交流電激勵而產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場的探傷裝置。1.3本標準使用的其他術(shù)語按GB／T12604.5的規(guī)定。2.探傷人員資格2.1從事探傷的人員，應(yīng)具有必要的專業(yè)知識并取得國家主管部門頒發(fā)的與其工作相適應(yīng)的資格證書。2.2色盲及矯正后視力低于1.0的不得從事探傷操作

3、。3.探傷裝置3.1探傷裝置應(yīng)能對試件完成磁化、施加磁粉、提供觀察條件及退磁等四道工序。如無必要，可不帶退磁裝置。3.2探傷裝置應(yīng)適合試件的形狀、尺寸、材質(zhì)、表面狀態(tài)并滿足對缺陷的檢測要求。能有效和安全地進行探傷。3.3磁化裝置有電流法和永久磁鐵法兩種。電流法中又可分成交流、直流、脈動電流、沖擊電流、旋轉(zhuǎn)磁場等。3.4用電流磁化的裝置，應(yīng)能向試件提供檢測缺陷所需的磁勢，符合GB／T3721所規(guī)定的技術(shù)要求。3.5磁軛型或磁極型裝置應(yīng)標明在規(guī)定的磁極距離下的提升力數(shù)據(jù)，作為衡量該裝置能向試件輸入必要磁勢的依據(jù)。電磁鐵磁軛還必須標明電流的種類和頻率。交叉磁軛應(yīng)符合JB

4、／T6870技術(shù)要求。3.6濕法中的磁懸液施加裝置，應(yīng)在磁懸液槽內(nèi)設(shè)置攪拌機構(gòu)，使均勻彌散著磁粉的磁懸液能穩(wěn)定地施加到試件上去而不影響已生成的磁痕。3.7干法中的磁粉施加裝置，必須使干燥的磁粉始終呈均勻分散狀態(tài)，能穩(wěn)定地把磁粉施加到試件上去而不影響已生成的磁痕。3.8使用熒光磁粉或熒光磁粉磁懸液探傷時，要采用黑光燈照射裝置，該裝置輻射波長為320～400nm。在距離黑光燈380mm的試件表面。紫外線輻照度原則上應(yīng)大于800μW／cm2，或按GB／T5097間接進行測定。3.9退磁裝置應(yīng)能根據(jù)試件的用途將剩磁減小到指定的限度，剩磁感應(yīng)強度應(yīng)低于0.3mT。3.10探

5、傷裝置須定期校驗。一般規(guī)定每年校驗一次，包括對電流表、計時裝置、黑光燈照射裝置的性能確認。4磁粉及磁懸液4.1磁粉按施加時的不同分散媒介，可以分為干法和濕法兩種，按磁粉顯示方式的不同，可分為熒光磁粉和非熒光磁粉兩種。4.2根據(jù)試件的材質(zhì)、表面狀態(tài)的不同，磁粉應(yīng)具有適當?shù)拇判浴⒘６?、分散性及色彩。磁懸液還要具有懸浮性。4.3磁粉的粒度可以用顯微鏡測定其定向直徑，以累計篩選數(shù)的20％及80％粒子直徑的范圍來表示。測定方法見附件A。4.4濕法中用水作載液時應(yīng)加入適量分散劑、消泡劑、防銹劑和表面活性劑。用油作載液時，采用閃點不低于94℃的無味煤油或變壓器油，運動粘度需在5

6、mm2／s（5cSt）以下。4.5磁懸液中的磁粉濃度應(yīng)根據(jù)磁粉種類、粒度以及施加磁粉的方法、時間來確定，磁懸液中每單位容積(1L)所含磁粉的質(zhì)量為磁懸液的濃度單位(g/L)。一般非熒光磁粉采用2～10g／L，熒光磁粉采用0.2～2g／L。磁懸液磁粉探傷方法的磁粉濃度測定方法見附件B。5標準試片及對比試片5.1A型標準試片5.1.1A型標準試片用來檢查探傷裝置、磁粉、磁懸液的綜合性能以及連續(xù)法中試件表面的有效磁場強度和方向、有效探傷范圍、探傷操作是否正確等。這種試片必須經(jīng)有關(guān)計量部門鑒定。5.1.2A型標準試片分高、中，低三種靈敏度。其型號中的分數(shù)值越小，則要求能顯

7、示磁痕的有效磁場強度越高。此靈敏度不代表實際能檢測缺陷的大小。5.1.3A型標準試片中有圓形和十字形人工槽，幾何尺寸如圖1所示。A型標準試片型號，相對槽深與材質(zhì)如表l所示。表lA型標準試片型號相對槽深*μm靈敏度材料A—15／100高超高純低碳純鐵A—30／100中（C＜0.03%，HC＜80A/m經(jīng)退火處理）A—60／100低*試片相對槽深其分子為人工槽深度，分母為試片厚度。5.I.4應(yīng)根據(jù)對探傷靈敏度的要求，選用相應(yīng)的A型標準試片。當需要更強的有效磁場時，可用標準試片型號的倍數(shù)來表示，例如A—30／100×2表示進行探傷的磁化電流應(yīng)為A—30／100型試片上獲

8、得磁痕的磁