安捷倫液相儀器的故障排除

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1、1.系統(tǒng)(二元泵)進(jìn)氣系統(tǒng)進(jìn)氣會導(dǎo)致泵性能較差、檢測器基線噪音、系統(tǒng)壓力不穩(wěn)定(壓力波動),極端情況下會導(dǎo)致保留時間精度較差。系統(tǒng)中出現(xiàn)空氣可能是以下原因引起:溶劑過濾器堵塞(過濾器中得壓力梯度導(dǎo)致流動相中出現(xiàn)氣泡)未對流動相進(jìn)行脫氣微量泄漏(空氣進(jìn)入系統(tǒng),但沒有流動相泄漏的明顯跡象)未對泵進(jìn)行充分吹掃泵部件有缺陷波動值波動值以系統(tǒng)壓力的百分比形式表示壓力波動(峰-峰)。波動值能夠很好地反映泵性能。通常,波動值大于1%表明系統(tǒng)中含有空氣壓力測試壓力測試用于測試從泵頭的出口球形閥到檢測器入口的系統(tǒng)部件的密閉性。泄漏測試失敗表明系統(tǒng)中存在泄漏情況。泄漏測試泄漏測試用于驗證泵部件的運(yùn)行是否正常,并排

2、除導(dǎo)致問題的泵模塊。PressureTest(binarypump)LeakTest(binarypump)1.系統(tǒng)(單元泵和四元泵)進(jìn)氣PressureTest(isocraticandquaternarypumps)LeakTest(isocraticandquaternarypumps)2.校正錯誤(DAD/MWD)正確的波長校正取決于檢測器的光學(xué)和電子部件的正確對齊。校正不正確可能是以下原因引起的:新燈(建議在更換燈之后進(jìn)行波長校正)燈安裝不正確流通池安裝不正確在先前的校正過程中,流通池未填滿水(有氣泡)波長校正波長校正測試檢查使用氘燈的α(656.1nm)和β(486nm)發(fā)射線進(jìn)行

3、的校正。如果測試表明校正不正確,則必須執(zhí)行WavelengthRecalibration。WavelengthCalibrationTest2.校正錯誤(VWD)正確的波長校正取決于檢測器的光學(xué)和電子部件的正確對齊。校正不正確可能是以下原因引起的:新燈(建議在更換燈之后進(jìn)行波長校正)燈安裝不正確流通池安裝不正確在先前的校正過程中,流通池未填滿水(有氣泡)光柵未對齊波長校正測試波長校正測試用于檢查檢測器的校正設(shè)置。如果波長校正偏離了測試限值,則應(yīng)執(zhí)行波長重新校正。波長校正測試3.濾光片馬達(dá)出現(xiàn)故障(DAD/MWD)氧化鈥測試使用內(nèi)置氧化鈥濾光片的三個特征吸光度最大值來驗證波長準(zhǔn)確度。在測試過程中

4、,濾光片馬達(dá)將濾光片移動到光程中。如果馬達(dá)出現(xiàn)故障,則氧化鈥測試失敗。濾光片測試濾光片測試檢查濾光片馬達(dá)是否運(yùn)轉(zhuǎn)正常,并檢查氧化鈥濾光片的吸光度,以確定濾光片是否受到污染。如果馬達(dá)無法運(yùn)轉(zhuǎn),則測試失敗。FilterTest3.濾光片馬達(dá)出現(xiàn)故障(VWD)氧化鈥測試使用內(nèi)置氧化鈥濾光片的三個特征吸光度最大值來驗證波長準(zhǔn)確度。在測試過程中,濾光片馬達(dá)將濾光片移動到光程中。如果濾光片無法移動,則氧化鈥測試失敗。濾光片/光柵馬達(dá)測試濾光片/光柵測試計算將濾光片馬達(dá)和光柵馬達(dá)移回到參比(傳感器)位置所需的馬達(dá)步徑數(shù)目。如果到達(dá)參比位置所需的步徑數(shù)目不同于預(yù)期的步徑數(shù)目,則測試失敗(表明濾光片馬達(dá)可能出現(xiàn)

5、故障)。Filter/GratingMotorTest4.DAD/MWD氧化鈥濾光片受到污染或出現(xiàn)故障氧化鈥測試使用內(nèi)置氧化鈥濾光片的三個特征吸光度最大值來驗證波長準(zhǔn)確度。如果未檢測到這三個最大值,則氧化鈥測試失敗。受到污染的氧化鈥濾光片或出現(xiàn)故障的濾光片馬達(dá)會導(dǎo)致氧化鈥測試失敗。DAD濾光片測試濾光片測試檢查濾光片馬達(dá)是否運(yùn)轉(zhuǎn)正常,并檢查氧化鈥濾光片的吸光度,以確定濾光片是否受到污染。5.VWD氧化鈥濾光片或光柵組件出現(xiàn)故障氧化鈥測試使用內(nèi)置氧化鈥濾光片的三個特征吸光度最大值來驗證波長準(zhǔn)確度。如果未檢測到這三個最大值,則氧化鈥測試失敗。受到污染的氧化鈥濾光片或出現(xiàn)故障的濾光片馬達(dá)會導(dǎo)致氧化鈥

6、測試失敗。VWD濾光片/光柵測試VWD濾光片/光柵測試檢查濾光片馬達(dá)和光柵馬達(dá)是否運(yùn)轉(zhuǎn)正常,并檢查馬達(dá)的實(shí)際位置與預(yù)期位置是否相同。如果濾光片馬達(dá)出現(xiàn)故障,則氧化鈥測試也將失敗。VWDFilter/GratingTest6.DAD/MWD非線性DADFilterTest如果吸光度值較高(大于2AU)或存在電子故障,可能會導(dǎo)致檢測器非線性。一個或多個光二極管的泄露電流過多可能會導(dǎo)致特定波長處的非線性。暗電流測試(DAD)暗電流測試測量每個光二極管的泄漏電流。該測試用于檢查在特定波長處可能會導(dǎo)致非線性或過多噪音的泄漏二極管。DADDarkCurrentTest7.有缺陷的主動進(jìn)口閥(二元泵)有缺陷

7、或泄漏的主動進(jìn)口閥(AIV)會導(dǎo)致溶劑量的損失,從而導(dǎo)致泵性能較差、檢測器基線噪音、系統(tǒng)壓力不穩(wěn)定(壓力波動),在極端情況下會導(dǎo)致保留時間精度較差。進(jìn)口閥周期AIV周期值表明主動進(jìn)口閥的磨損程度。針對左側(cè)和右側(cè)主動進(jìn)口閥提供該值。泄漏測試泄漏測試用于驗證泵部件的運(yùn)行是否正常,并排除導(dǎo)致問題的泵模塊部件。LeftInlet-ValveCvclesRightInlet-ValveCvclesLeakT

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