浪涌沖擊測試規(guī)范

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1、交換式電源供應(yīng)器浪涌衝擊測試規(guī)範(fàn)SurgeImmunityTestofRegulation協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION浪涌衝擊測試規(guī)則SurgeImmunityTestofregulation1.目的：為使雷擊突波干擾耐受性測試時，能有統(tǒng)一之規(guī)範(fàn)及流程可供依循，特訂定本程序書，本試驗(yàn)的目的是模擬雷擊突波對電子產(chǎn)品所造成的干擾，並判別其耐受性。2.適用範(fàn)圍：執(zhí)行雷擊突波干擾耐受性測試時,適用之。3.名詞定義：3.1耦合：在電路間的交互作用，

2、其作用在使能量由一個電路轉(zhuǎn)換至另一個電路。3.2耦合網(wǎng)路(couplingnetwork)：由一個電路到另一個，在所定義的阻抗轉(zhuǎn)換能量的電氣電路。備考：耦合及去耦合網(wǎng)路裝置能被整合在一個盒子。3.3去耦合網(wǎng)路(decouplingnetwork)：避免Surge測試信號加在待測設(shè)備，影響到不在測試的其他裝置設(shè)備或系統(tǒng)。3.4突波（surge）：電流、電壓或能量沿著一條線或電路傳遞的暫態(tài)波形，其特性為快速增加然後緩慢的減少。3.5功能失常(malfunction)：設(shè)備得到非預(yù)期的結(jié)果或運(yùn)作功能中斷。3.6輔助設(shè)備(auxil

3、iaryequipment)AE：此設(shè)備必須提供待測設(shè)備正常操作所需的信號，且此設(shè)備可確認(rèn)待測設(shè)備的性能。3.7EUT：待測設(shè)備。3.8Degradation：劣化為EUT受電磁干擾所造成的產(chǎn)品功能障礙。3.9暫態(tài)（Transient）：相鄰兩個穩(wěn)態(tài)之間極短暫的現(xiàn)象或量的變化。3.10上升時間（risetime）：在極短時間內(nèi)脈衝振幅從到達(dá)10﹪至90﹪之間所經(jīng)過的時間。3.11持續(xù)時間：脈衝振幅維持超出峰值的50﹪之期間。3.12接地參考平面（RGP）：一個平坦之導(dǎo)電表面並以其電位作為共同的基準(zhǔn)。3.13平衡線：對稱的驅(qū)動

4、導(dǎo)線，由異模轉(zhuǎn)成共模的損失少於20dB。3.14交互連接線：包括平衡線、通訊線、I/O線。4.辦法：4.1試驗(yàn)等級：試驗(yàn)等級優(yōu)先考慮的範(fàn)圍如下表：等級開路測試電壓±10KV10.521.032.0協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處Revision:A0Page5of5IssueDate:22004/10/15SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION浪涌衝擊測試規(guī)則SurgeImmunityTestofregulation4.2.1.2測試產(chǎn)生器的功能特性的驗(yàn)證：為了比較不同產(chǎn)生器的測

5、試結(jié)果，產(chǎn)生器的功能特性必須驗(yàn)證依照下列所述：測試產(chǎn)生器的輸出，必須能接到具有足夠頻寬和電壓能力的測量系統(tǒng)，以觀測波形的特性，產(chǎn)生器的特性必須在開路的條件（負(fù)載大於或等於10KV），和在短路的條件（負(fù)載小於或等於0.1Ω），在相同的充電電壓下量測。備考：短路電流：在開路電壓設(shè)定在0.5KV時，其最小為0.25KA，開路電壓設(shè)定在4.0KV時，其最小為2KA。4.2.2依照CCITT10/700us測試產(chǎn)生器產(chǎn)生器的簡化電路圖如下圖所示。對不同元件於值Rc、Rs、Rm、Rm2、Cs、Cc定義為產(chǎn)生器能送出10/700us突波。

6、4.2.2.1產(chǎn)生器的功能和特性開路輸出電壓：－至少0.5KV~4KV。－電壓突波波形如圖所示。－開路輸出電壓的容許誤差：±10﹪。短路輸出電流：－至少12.5A~100A。－突波電流波形如圖所示。－短路輸出電流的容許誤差：±10﹪。極性：正/負(fù)。重複率：至少每分鐘一次。須使用浮動輸出的產(chǎn)生器。協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處Revision:A0Page5of5IssueDate:22004/10/15SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION浪涌衝擊測試規(guī)則SurgeImmuni

7、tyTestofregulation5.1測試程序：測試產(chǎn)生器的特性和性能必須依第4.2節(jié)所規(guī)定規(guī)定的測試配置如下：－產(chǎn)生器和其他所使用的設(shè)備；－測試位準(zhǔn)（電壓和電流）；－產(chǎn)生器的信號源阻抗；－突波的極性；－內(nèi)部或外部產(chǎn)生器的觸發(fā)器；－測試數(shù)量：在所選定的測試點(diǎn)上，正極至少五次和負(fù)極至少五次。－重複率：最大1/分鐘。備考：在一般使用上，大部分的保護(hù)器只有低的平均功率能力，既使其峰值功率或峰值能量，能處理較高的電流，因此最大的重複率（在兩個突波和恢復(fù)時間），是和待測設(shè)備的內(nèi)建保護(hù)裝置有關(guān)。－要測試的輸入和輸出埠。－EUT的輸入

8、電源埠必須測試。備考：對有一些相同的電路特性，則選擇數(shù)個電路的測量可能是足夠。－代表待測設(shè)備的操作條件。－對電路的突波應(yīng)用的序列。－對AC電源供應(yīng)的相位角。－實(shí)際裝設(shè)的情況：AC：中性的接地；DC：（+）或（-）接地以模擬實(shí)際接地的情況。協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處Revision:A0P