靜電放電測(cè)試規(guī)范

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1、交換式電源供應(yīng)器靜電放電測(cè)試規(guī)範(fàn)ElectrostaticDischargeTestofRegulation協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION靜電放電測(cè)試操作規(guī)則ElectrostaticDischargeTestofregulation1.測(cè)試目的:為使靜電干擾耐受性測(cè)試時(shí),能有一統(tǒng)一之規(guī)範(fàn)及流程可供依循,特訂定本程序書,本試驗(yàn)的目的是模擬靜電對(duì)電子產(chǎn)品所造成的干擾,並判別其耐受性。2.適用範(fàn)圍:執(zhí)行靜電干擾耐受性測(cè)試時(shí),適用之。3.名詞定義:3.1ESD:electro

2、staticdischarge(靜電放電),當(dāng)兩個(gè)不同電位的物體,直接接觸或非??拷鼤r(shí)所產(chǎn)生的電荷放電現(xiàn)象。3.2RGP:一個(gè)平坦之導(dǎo)電表面並以其電位作為共同的基準(zhǔn)。3.3Contactdischarge:接觸放電,直接的靜電放電試驗(yàn)方法的一種,由產(chǎn)生器的電極尖端直接接觸EUT,並以產(chǎn)生器之放電開關(guān)實(shí)施靜電放電。3.4Airdischarge:空間放電,直接的靜電放電試驗(yàn)方法的一種,由產(chǎn)生器的圓形充電電極快速接近EUT,而產(chǎn)生火花的靜電放電。3.5EUT:待測(cè)設(shè)備。3.6Degradation:劣化為EUT受電磁干擾所造成的產(chǎn)品功能障礙。3.7HCP:水

3、平耦合面,用以模凝鄰近EUT的物體對(duì)EUT的靜電放電所使用的水平金屬面板。3.8VCP:垂直耦合面,用以模凝鄰近EUT的物體對(duì)EUT的靜電放電所使用的垂直金屬面板。4.職責(zé):4.1測(cè)試服務(wù),案件執(zhí)行。4.2場(chǎng)地維護(hù)。4.3提供相關(guān)資訊於測(cè)試服務(wù)上。5.辦法:5.1試驗(yàn)等級(jí):試驗(yàn)等級(jí)如下試驗(yàn)等級(jí)接觸放電電壓空間放電電壓12KV2KV24KV4KV36KV8KV48KV15KVX特定值特定值X:此等級(jí)依廠商需求而定5.1.2接觸放電為優(yōu)先採(cǎi)用的測(cè)試方法,空氣放電必須是接觸放電不能使用時(shí)才使用。依不同的放電測(cè)試方法而有不同的電壓,其嚴(yán)酷度是不相同的。協(xié)益股份有

4、限公司-電子事業(yè)處Revision:A0Page6of6IssueDate:22004/10/13SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION靜電放電測(cè)試操作規(guī)則ElectrostaticDischargeTestofregulation5.2ESD產(chǎn)生器之特性-Rc充電電阻:50MΩ~100MΩ.-Cs儲(chǔ)能電容:150pF±10%。-Rd放電電阻:330Ω±10%。-輸出電壓極性:正與負(fù)。-輸出電壓指示值之容許誤差值:±5%。-具有圓形放電電極及尖形放電電極。-放電迴路電纜,長(zhǎng)2m。-具有接觸放電開關(guān)及空間放

5、電開關(guān)。-可調(diào)整之放電操作模式如單擊放電極及每秒20次之重複放電??煞螮N61000-4-2之放電電流波形,如下圖一所示。5.3實(shí)驗(yàn)室之測(cè)試場(chǎng)地配置:實(shí)驗(yàn)室之地面應(yīng)有一銅或鋁製的金屬GRP,其厚度至少0.25mm。如果使用別種金屬材料,其厚度至少應(yīng)有0.65mm。GRP尺寸至少1m×協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處Revision:A0Page6of6IssueDate:22004/10/13SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION靜電放電測(cè)試操作規(guī)則ElectrostaticDischargeTestofr

6、egulation1m,依EUT大小而定。其每一面應(yīng)超出EUT或HCP、VCP至少0.5m並連接至接地系統(tǒng)。EUT依使用狀態(tài)架設(shè)及連接。EUT與實(shí)驗(yàn)室牆面及其他金屬結(jié)構(gòu)的距離至少1m。EUT除了所規(guī)定接地系統(tǒng)外,不可再有其他之接地。ESD產(chǎn)生器的放電迴路電纜長(zhǎng)度為2m,需連接至GRP,測(cè)試時(shí)放電迴路電纜距離其他導(dǎo)電部分至少0.2m。HCP、VCP之材質(zhì)與厚度應(yīng)與GRP相同且使用兩端接有470KΩ之接地線連接至GRP。其他規(guī)定如下:5.3.1EUT為桌上型設(shè)備之場(chǎng)地配置:使用高0.8m之木桌立於RGP作測(cè)試,並使用一長(zhǎng)1.6m×寬0.8m之HCP置於桌面,

7、EUT及電纜以0.5mm絕緣墊與HCP隔離。EUT距離HCP各邊至少0.1m。若EUT過大可使用相同之HCP以較短邊相距0.3m連接,可用較大尺寸之桌面或兩組桌子,此兩組HCP不可搭在一起,並由兩端各接470KΩ電阻之接地線個(gè)別接至RGP。如下圖所示。協(xié)益股份有限公司-電子事業(yè)處Revision:A0Page6of6IssueDate:22004/10/13SIRTECINTERNATIONALCO.,LTDELECTRONICDIVISION靜電放電測(cè)試操作規(guī)則ElectrostaticDischargeTestofregulation5.3.2EUT

8、屬於沒有接地系統(tǒng)之設(shè)備的測(cè)試方法:EUT是屬於設(shè)備或設(shè)備的一部份、其裝設(shè)規(guī)格或設(shè)

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