主板測試卡代碼71358

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1、主板測試卡代碼7135800.已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制INI19引導(dǎo)裝入?! ?1處理器測試1,處理器狀態(tài)核實,如果測試失敗,循環(huán)是無限的。處理器寄存器的測試即將開始,不可屏蔽中斷即將停用。CPU寄存器測試正在進行或者失敗。  02確定診斷的類型(正?;蛘咧圃欤?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。停用不可屏蔽中斷;通過延遲開始。CMOS寫入/讀出正在進行或者失靈。  03清除8042鍵盤控制器,發(fā)出TESTKBRD命令(AAH)通電延遲已完成。ROMBIOS檢查部件正在進行或失靈?! ?4使8042鍵盤控制器復(fù)位,核實TESTKBRD。鍵盤

2、控制器軟復(fù)位/通電測試。可編程間隔計時器的測試正在進行或失靈。  05如果不斷重復(fù)制造測試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復(fù)位/通電;即將啟動ROM。DMA初如準(zhǔn)備正在進行或者失靈?! ?6使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視頻、奇偶性、DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁面寄存器和CMOS停機字節(jié)。已啟動ROM計算ROMBIOS檢查總和,以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。DMA初始頁面寄存器讀/寫測試正在進行或失靈?! ?7處理器測試2,核實CPU寄存器的工作。ROMBIOS檢查總和正常,鍵盤緩沖器已清除,向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測試)命

3、令。.  08使CMOS計時器作初始準(zhǔn)備,正常的更新計時器的循環(huán)。已向鍵盤發(fā)出BAT命令,即將寫入BAT命令。RAM更新檢驗正在進行或失靈?! ?9EPROM檢查總和且必須等于零才通過。核實鍵盤的基本保證測試,接著核實鍵盤命令字節(jié)。第一個64KRAM測試正在進行?! ?A使視頻接口作初始準(zhǔn)備。發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼,即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。第一個64KRAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈,移位?! ?B測試8254通道0。寫入鍵盤控制器命令字節(jié),即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。第一個64KRAM奇/偶邏輯失靈?! ?C測試8254通道1。鍵盤控制器引

4、腳23、24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。第一個64KRAN的地址線故障?! ?D1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試,如果失敗,則鳴喇叭。已處理NOP命令;接著測試CMOS停開寄存器。第一個64KRAM的奇偶性失靈  0E測試CMOS停機字節(jié)。CMOS停開寄存器讀/寫測試;將計算CMOS檢查總和。初始化輸入/輸出端口地址?! ?F測試擴展的CMOS。已計算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié);CMOS開始初始準(zhǔn)備。.  10測試DMA通道0。CMOS已作初始準(zhǔn)備,CMOS狀態(tài)寄存器即將

5、為日期和時間作初始準(zhǔn)備。第一個64KRAM第0位故障?! ?1測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備,即將停用DMA和中斷控制器。第一個64DKRAM第1位故障?! ?2測試DMA頁面寄存器。停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。第一個64DKRAM第2位故障?! ?3測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示器已停用,端口B已作初始準(zhǔn)備;即將開始電路片初始化/存儲器自動檢測。第一個64DKRAM第3位故障?! ?4測試存儲器更新觸發(fā)電路。電路片初始化/存儲器處自動檢測結(jié)束;8254計時器測試即將開

6、始。第一個64DKRAM第4位故障。  15測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。第2通道計時器測試了一半;8254第2通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第5位故障?! ?6建立8259所用的中斷矢量表。第2通道計時器測試結(jié)束;8254第1通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第6位故障。  17調(diào)準(zhǔn)視頻輸入/輸出工作,若裝有視頻BIOS則啟用。第1通道計時器測試結(jié)束;8254第0通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第7位故障?! ?8測試視頻存儲器,如果安裝選用的視頻BIOS通過,由可繞過。第0通道計時器測試結(jié)束;即將開始更

7、新存儲器。第一個64DKRAM第8位故障?! ?9測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。已開始更新存儲器,接著將完成存儲器的更新。第一個64DKRAM第9位故障?! ?A測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。正在觸發(fā)存儲器更新線路,即將檢查15微秒通/斷時間。第一個64DKRAM第10位故障?! ?B測試CMOS電池電平。完成存儲器更新時間30微秒測試;即將開始基本的64K存儲器測試。第一個64DKRAM第11位故障。  1C測試CMOS檢查總和。.第一個64DKRAM第12位故障?! ?D調(diào)定CMOS配置。.第一個64DKRA

8、M第13位故障?! ?E測定系統(tǒng)存儲器的大小,并且把它和CMOS值比較。.第一個64DKRAM第14位故障?! ?F測試64K存儲器至最高640K。.第一個64DKRAM第15位

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