SJT198-2001計(jì)數(shù)管總規(guī)范.pdf

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1、三CS31.1oL39備案號(hào):9886-2002中華人民共和國(guó)電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T198-2001計(jì)數(shù)管總規(guī)范Generalspecificationforcountertubes2002-01--31發(fā)布2002-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部發(fā)布前言近年來，國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局連續(xù)發(fā)布了GB/T1.1-1992,GB/T1.3-1997,GB/T1.22-1993等《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則》系列標(biāo)準(zhǔn)，SJ1564-1574-80《計(jì)數(shù)管測(cè)試方法》已被GB/T9588-1988《蓋革一彌勒計(jì)數(shù)管測(cè)試方法》所代

2、替，原第四機(jī)械工業(yè)部部標(biāo)準(zhǔn)SJ198-80《計(jì)數(shù)管總技術(shù)條件》無論結(jié)構(gòu)形式，還是技術(shù)內(nèi)容都無法適應(yīng)計(jì)數(shù)管科研生產(chǎn)的需要。根據(jù)技術(shù)發(fā)展的需要，參照電子行業(yè)可供認(rèn)證用標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容和編寫格式，編制了本規(guī)范。本規(guī)范與SJ198-80《計(jì)數(shù)管總技術(shù)條件》相比，結(jié)構(gòu)形式和技術(shù)內(nèi)容均作了較大調(diào)整，主要有:1.結(jié)構(gòu)形式由總技術(shù)條件格式調(diào)整為電子元器件可供認(rèn)證用標(biāo)準(zhǔn)格式;2.檢驗(yàn)類別由成品檢驗(yàn)、例行試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、交收系列試驗(yàn)調(diào)整為質(zhì)量一致性檢驗(yàn)、鑒定批準(zhǔn)試驗(yàn);3.抽樣要求由百分抽樣法改為IEC410計(jì)數(shù)抽樣法:4.電性能測(cè)

3、試方法由廢止的SJ1564-1574-80《計(jì)數(shù)管測(cè)試方法》改為現(xiàn)行的GB/'r9588-1988《蓋革一彌勒計(jì)數(shù)管測(cè)試方法》，環(huán)境試驗(yàn)采用GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)。本規(guī)范由全國(guó)電真空器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本規(guī)范起草單位:華東電子集團(tuán)公司。本規(guī)范主要起草人:嚴(yán)增洪、陳顯志、吳仰東、馬田慶。本規(guī)范于1966年1月首次發(fā)布，于1980年10月第一次修訂。中華人民共和國(guó)電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)數(shù)管總規(guī)范SJ/T199-2001代替SJ/T198-80Generalspecificationforcountertubes1

4、范圍本規(guī)范規(guī)定了蓋革一彌勒(G-M)計(jì)數(shù)管的質(zhì)量評(píng)定程序，給出了電性能和核輻射探測(cè)性能、環(huán)境和壽命等要求及測(cè)試方法。本規(guī)范適用于G-M計(jì)數(shù)管(以下簡(jiǎn)稱計(jì)數(shù)管)的質(zhì)量評(píng)定，其他類型計(jì)數(shù)管可參照?qǐng)?zhí)行。2總則2.1優(yōu)先順序無論何種原因引起矛盾時(shí).應(yīng)按如下順序執(zhí)行:a)詳細(xì)規(guī)范;b)總規(guī)范;c)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn);d)中國(guó)電子元器件質(zhì)量認(rèn)證委員會(huì)和國(guó)家有關(guān)文件;e)其它文件。2.2有關(guān)文件下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本規(guī)范中引用而構(gòu)成為本規(guī)范的條文。本規(guī)范出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本規(guī)范的各方應(yīng)探討使用

5、下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB191-1990包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB/T787-1974電子管管基尺寸GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:

6、振動(dòng)(正弦)GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉GB/T2423.17-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法GB/T2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB/T2423.22-1987電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法GB/T2423.28-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部2002-01-31批準(zhǔn)2002-05-01實(shí)施1SJ/T19

7、8-2001GB/f2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度GB/T2987-1996電子管參數(shù)符號(hào)GB3100-1993國(guó)際單位制及其應(yīng)用GB/T3189-1982電子管引出帽連接尺寸GB/T4597-1996電子管詞匯GB/T4728.5-19%電氣圖用圖形符號(hào)半導(dǎo)體管和電子管GB/T4857.5-1992包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法GB/T4857.7-1992包裝運(yùn)輸包裝件定頻振動(dòng)試驗(yàn)方法GB/T9588-1988蓋革一彌勒計(jì)數(shù)管測(cè)試方法GJB921-

8、90電子管包裝總規(guī)范IEC410計(jì)數(shù)檢查抽樣方案和程序IECQQC001002IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系程序規(guī)則2.3單位、符號(hào)和術(shù)語(yǔ)除非另有規(guī)定，計(jì)數(shù)管所用的單位應(yīng)符合GB310。的規(guī)定，圖形符號(hào)應(yīng)符合GB/T4728.5的規(guī)定，參數(shù)符合應(yīng)符合GB/'r2987的規(guī)定.術(shù)語(yǔ)應(yīng)符合GB/T4597的規(guī)定.2.4標(biāo)志2.4.1在計(jì)數(shù)管或(和)包裝箱上應(yīng)有如下標(biāo)志:a)制造廠名稱或商標(biāo);b)型號(hào);c)