電腦主板故障診斷卡代碼對照表(主板測試卡說明書)

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2、控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH）通電延遲已完成。ROMBIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。04使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。鍵盤控制器軟復(fù)位／通電測試。可編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。05如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動(dòng)ROM。DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。06使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。已啟動(dòng)ROM計(jì)算ROMBIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進(jìn)行或失靈。07處理器測試2，核實(shí)C

3、PU寄存器的工作。ROMBIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。.08使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備，正常的更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。09EPROM檢查總和且必須等于零才通過。核實(shí)鍵盤的基本保證測試，接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。第一個(gè)64KRAM測試正在進(jìn)行。0A使視頻接口作初始準(zhǔn)備。發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。第一個(gè)64KRAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。0B測試8254通道0。寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。第一個(gè)64KRAM奇／偶邏輯失靈。

4、0C測試8254通道1。鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。第一個(gè)64KRAN的地址線故障。0D1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。第一個(gè)64KRAM的奇偶性失靈0E測試CMOS停機(jī)字節(jié)。CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計(jì)算CMOS檢查總和。初始化輸入／輸出端口地址。0F測試擴(kuò)展的CMOS。已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準(zhǔn)備。.10測試DMA通道0。CMOS已作初始準(zhǔn)備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準(zhǔn)備

5、。第一個(gè)64KRAM第0位故障。11測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控制器。第一個(gè)64DKRAM第1位故障。12測試DMA頁面寄存器。停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。第一個(gè)64DKRAM第2位故障。13測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示器已停用，端口B已作初始準(zhǔn)備；即將開始電路片初始化／存儲(chǔ)器自動(dòng)檢測。第一個(gè)64DKRAM第3位故障。14測試存儲(chǔ)器更新觸發(fā)電路。電路片初始化／存儲(chǔ)器處自動(dòng)檢測結(jié)束；8254計(jì)時(shí)器測試即將開始。第一個(gè)64DKRAM第4位故障。15測試開頭64K的系統(tǒng)存儲(chǔ)器。第2通道計(jì)時(shí)

6、器測試了一半；8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。第一個(gè)64DKRAM第5位故障。16建立8259所用的中斷矢量表。第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。第一個(gè)64DKRAM第6位故障。17調(diào)準(zhǔn)視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。第1通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。第一個(gè)64DKRAM第7位故障。18測試視頻存儲(chǔ)器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。第0通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；即將開始更新存儲(chǔ)器。第一個(gè)64DKRAM第8位故障。19測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。已開始更新存儲(chǔ)器，接著將完成存儲(chǔ)器的更新。第一個(gè)

7、64DKRAM第9位故障。1A測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。正在觸發(fā)存儲(chǔ)器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時(shí)間。第一個(gè)64DKRAM第10位故障。1B測試CMOS電池電平。完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲(chǔ)器測試。第一個(gè)64DKRAM第11位故障。1C測試CMOS檢查總和。.第一個(gè)64DKRAM第12位故障。1D調(diào)定CMOS配置。.第一個(gè)64DKRAM第13位故障。1E測定系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小，并且把它和CMOS值比較。.第一個(gè)64DK