何為飛針測試-

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1、何為飛針測試?

2、第1本文介紹，以更低的成本增加產(chǎn)品裝配效率-而且不犧牲品質(zhì)?！　　帮w針”測試是測試的一些主要問題的最新解決辦法。名稱的出處是基于設(shè)備的功能性，表示其靈活性。飛針測試的出現(xiàn)已經(jīng)改變了低產(chǎn)量與快速轉(zhuǎn)換(quick-turn)裝配產(chǎn)品的測試方法。以前需要幾周時(shí)間開發(fā)的測試現(xiàn)在幾個(gè)小時(shí)就可以了。對(duì)于處在嚴(yán)重的時(shí)間到市場(time-to-market)壓力之下的電子制造服務(wù)(EMS,ElectronicManufacturingServices)提供商，這種后端能力大大地補(bǔ)償了時(shí)間節(jié)省的前端技術(shù)與工藝

3、，諸如連續(xù)流動(dòng)制造和剛好準(zhǔn)時(shí)的(just-in-time)物流?！　】焖俎D(zhuǎn)換生產(chǎn)的不利之事是，PCB可以在各種環(huán)境下快速裝配，取決于互連技術(shù)與板的密度。顧客經(jīng)常愿意對(duì)這種表現(xiàn)額外多付出一點(diǎn)?？墒?，當(dāng)PCB已經(jīng)裝配但不能在可接受的時(shí)間框架內(nèi)測試，他們不愿意付出拖延的價(jià)格。不可接受的測試時(shí)間框架延誤最終發(fā)貨有兩個(gè)理由。一個(gè)理由是缺乏靈活的硬件；第二個(gè)是在給定產(chǎn)品上所花的測試開發(fā)時(shí)間?！　≡S多原設(shè)備制造商(OEM)在做傳統(tǒng)上一樣快并沒有價(jià)格懲罰的電路板時(shí)，不愿意承擔(dān)快速轉(zhuǎn)換(fast-turn)裝配的費(fèi)用。具有快

4、速轉(zhuǎn)換服務(wù)的EMS，但是不能在OEM的時(shí)間框架內(nèi)出貨的，一定要尋找一個(gè)解決方案?！　∈裁词秋w針測試？　　飛針測試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面，飛針測試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針，移動(dòng)到測試中的元件。在測單元(UUT,unitundertest)通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機(jī)內(nèi)。然后固定，測試機(jī)的探針接觸測試焊盤(testpad)和通路孔(via)從而測試在測單元(UUT)的單個(gè)元件。測試探針通過多路傳輸(multi

5、plexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來測試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾(圖一)?！　★w針測試機(jī)可檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個(gè)相機(jī)來幫助查找丟失元件。用相機(jī)來檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測試機(jī)可精密地探測UUT?！　★w針測試解決了在PCB裝配中見到的大量現(xiàn)有問題，如在開發(fā)時(shí)缺少金樣板(goldenstan

6、dardboard)。問題還包括可能長達(dá)4-6周的測試開發(fā)周期；大約$10,000-$50,000的夾具開發(fā)成本；不能經(jīng)濟(jì)地測試少批量生產(chǎn)；以及不能快速地測試原型樣機(jī)(prototype)裝配。這些情況說明，傳統(tǒng)的針床測試機(jī)缺少測試低產(chǎn)量的低成本系統(tǒng)；缺乏對(duì)原型樣機(jī)裝配的快速測試覆蓋；以及不能測試到屏蔽了的裝配?！　∫?yàn)榫哂芯o密接觸屏蔽的UUT的能力和幫助更快到達(dá)市場(time-to-market)的能力，飛針測試是一個(gè)無價(jià)的生產(chǎn)資源。還有，由于不需要有經(jīng)驗(yàn)的測試開發(fā)工程師，該系統(tǒng)可認(rèn)為是節(jié)省人力的具有附加

7、價(jià)值和時(shí)間節(jié)省等好處的設(shè)備?！　y試開發(fā)與調(diào)試　　編程飛針測試機(jī)比傳統(tǒng)的ICT系統(tǒng)更容易、更快捷。例如，對(duì)GenRad的GRPILOT系統(tǒng)，測試開發(fā)員將設(shè)計(jì)工程師的CAD數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成可使用的文件，這個(gè)過程需要1-4個(gè)小時(shí)。然后該新的文件通過測試程序運(yùn)行，產(chǎn)生一個(gè).IGE和.SPC文件，再放入一個(gè)目錄。然后軟件運(yùn)行在目錄內(nèi)產(chǎn)生需要測試UUT的所有文件。短路的測試類型是從選項(xiàng)頁面內(nèi)選擇。測試機(jī)在UUT上使用的參考點(diǎn)從CAD信息中選擇。UUT放在平臺(tái)上，固定。在軟件開發(fā)完成后，該程序被“擰進(jìn)去”，以保證選擇到盡可能

8、最佳的測試位置。這時(shí)加入各種元件“保護(hù)”(元件測試隔離)。一個(gè)典型的1000個(gè)節(jié)點(diǎn)的UUT的測試開發(fā)所花的時(shí)間是4-6個(gè)小時(shí)?！　≡谲浖_發(fā)和裝載完成以后，開始典型的飛針測試過程的測試調(diào)試。調(diào)試是測試開發(fā)員接下來的工作，需要用來獲得盡可能最佳的UUT測試覆蓋。在調(diào)試過程中，檢查每個(gè)元件的上下測試極限，確認(rèn)探針的接觸位置和零件值。典型的1000個(gè)節(jié)點(diǎn)的UUT調(diào)試可能花6-8小時(shí)。　　飛針測試機(jī)的開發(fā)容易和調(diào)試周期短，使得UUT的測試程序開發(fā)對(duì)測試工程師的要求相當(dāng)少。在接到CAD數(shù)據(jù)和UUT準(zhǔn)備好測試之間這段短

9、時(shí)間，允許制造過程的最大數(shù)量的靈活性。相反，傳統(tǒng)ICT的編程與夾具開發(fā)可能需要160小時(shí)和調(diào)試16-40小時(shí)?！　∪秉c(diǎn)　　由于具有編程容易，能夠在數(shù)小時(shí)內(nèi)測試原型樣機(jī)裝配，以及測試低產(chǎn)量的UUT而沒有典型的夾具開發(fā)費(fèi)用，飛針測試可解決生產(chǎn)環(huán)境中的許多問題。但是還不是所有的生產(chǎn)測試問題都可通過使用探針自動(dòng)解決?！　『腿魏问虑橐粯?，飛針測試有其缺點(diǎn)。因?yàn)闇y試機(jī)物理接觸通路孔和測試焊盤上的焊錫，可能在焊錫上留下小凹坑。