基于壓電陶瓷的納米定位與掃描平臺(tái)模型辨識(shí)算法研究

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1、基于壓電陶瓷的納米定位與掃描平臺(tái)模型辨識(shí)算法研宄【摘要】針對(duì)納米定位與掃描平臺(tái)具有的遲滯特性,使得運(yùn)動(dòng)平臺(tái)輸出位移變差的問題,文章基于Bouc-wen模型建立了納米與掃描平臺(tái)的模型,采用最小二乘法實(shí)現(xiàn)了模型參數(shù)辨識(shí)。通過傳統(tǒng)PID控制,實(shí)現(xiàn)信號(hào)實(shí)時(shí)跟蹤。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所建模型對(duì)信號(hào)的跟蹤,大約需要經(jīng)過2ms便可達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),穩(wěn)態(tài)誤差保持在4nm之內(nèi),因此,可以達(dá)到降低輸出位移誤差的效果?!娟P(guān)鍵詞】納米定位與掃描平臺(tái)bouc-wen模型最小二乘法參數(shù)辨識(shí)一、引言近年來,隨著納米技術(shù)的發(fā)展,微納米控制的運(yùn)動(dòng)平臺(tái)也

2、成為了研宄的熱點(diǎn)。但是,壓電陶瓷具備的動(dòng)態(tài)特性、耦合特性、遲滯特性、蠕變特性以及運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的機(jī)械振動(dòng)特性會(huì)使得系統(tǒng)的精度降低、運(yùn)行速度減慢,并且會(huì)引起系統(tǒng)的不穩(wěn)定。其中,由于遲滯特性具備非局部記憶性、多值映射和率相關(guān)等性能,對(duì)納米定位與掃面平臺(tái)的定位精度影響較大,因此,本文將對(duì)納米定位與掃描平臺(tái)的遲滯特性進(jìn)行研宄,旨在消除遲滯誤差,提高納米定位與掃面平臺(tái)的定位精度。目前,有關(guān)納米定位與掃描平臺(tái)遲滯特性研宄的方法主要有,Lin等[1]采用Bouc-Wen模型,設(shè)計(jì)了以PI反饋控制器控制運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的方案,使得系統(tǒng)的魯

3、棒性更高。BoucWen模型,由于具有參數(shù)少、數(shù)值化簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn),本文將在研宄前人成果的基礎(chǔ)上,基于Bouc-Wen模型,利用最小二乘法,對(duì)納米定位與掃描平臺(tái)的遲滯特性進(jìn)行建模以及模型參數(shù)辨識(shí),以減小位移誤差,實(shí)現(xiàn)納米定位與掃描平臺(tái)的精確定位。二、納米定位與掃描平臺(tái)的模型建立2.1納米定位與掃描平臺(tái)的基本結(jié)構(gòu)納米定位與掃描平臺(tái)的基本組成一般包含三個(gè)模塊,分別為:納米定位與掃描平臺(tái)、檢測(cè)裝置和控制系統(tǒng)。本文中納米定位與掃描平臺(tái)是由壓電陶瓷進(jìn)行驅(qū)動(dòng),且由兩路獨(dú)立的電壓信號(hào)分別控制X、Y方向位移,輸入電壓范圍為-10

4、V-10V,納米定位與掃描平臺(tái)的位移范圍為100umX100um2.2基于Bouc-wen模型的納米定位與掃描平臺(tái)遲滯建模Bouc-Wen模型是一種經(jīng)典的微分多項(xiàng)式類的遲滯模型,該模型一般通過構(gòu)建微分方程的方式來呈現(xiàn)輸出信號(hào)隨輸入信號(hào)的變化,從而通過微分方程來對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行遲滯建模。標(biāo)準(zhǔn)Bouc-Wen模型的數(shù)學(xué)表達(dá)式為:OBW(t)=ak?u(t)+(1-a)Dk?z(t)(1)其中,u(t)為系統(tǒng)的輸入;①BW(t)代表系統(tǒng)的遲滯輸出;k為系統(tǒng)的初始等效剛度系數(shù);a為權(quán)重系數(shù),z為模型的遲滯非線性項(xiàng)。(1)式

5、中的z(t)進(jìn)行微分,可得,其中,C為p轉(zhuǎn)置的一個(gè)列矩陣,b為一個(gè)常量列矩陣。由于參數(shù)n主要影響遲滯曲線的光滑程度,并無對(duì)其他方面的影響,且參數(shù)n不屬于敏感參數(shù),因而,當(dāng)參數(shù)D,A,3,Y固定不變時(shí),n的變化對(duì)遲滯模型曲線并無明顯的影響。四、MATLAB實(shí)驗(yàn)仿真針對(duì)本文所確定的納米定位與掃描平臺(tái)遲滯模型,通過傳統(tǒng)PID控制,經(jīng)MATLAB實(shí)驗(yàn)仿真,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的實(shí)時(shí)跟蹤,檢驗(yàn)其對(duì)輸入信號(hào)的跟蹤性能。(1)在采樣頻率f=50kHz時(shí),輸入一個(gè)階躍信號(hào),幅值為lum,得到的仿真實(shí)驗(yàn)結(jié)果,如圖1所示。由圖1可知,在采樣

6、頻率f=50kHz,輸入一個(gè)幅值為lum的階躍信號(hào),系統(tǒng)輸出位置信號(hào)大約需要2.0ms進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)。(2)在采樣頻率f=50kHz時(shí),輸入一個(gè)方波信號(hào):幅值為-lumXlum,得到的仿真實(shí)驗(yàn)結(jié)果,如圖2所示在采樣頻率f=50kHz,幅值在-1umXlum范圍內(nèi)時(shí),由圖2可知,每當(dāng)信號(hào)方向發(fā)生改變時(shí),系統(tǒng)輸出位置信號(hào)大約需要2.0ms進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài),且輸出位移穩(wěn)態(tài)誤差大約在4nm之內(nèi)。五、總結(jié)本文通過最小二乘法對(duì)所建模型進(jìn)行參數(shù)辨識(shí)。而且通過對(duì)納米定位與掃描平臺(tái)建模,以減小系統(tǒng)遲滯特性對(duì)運(yùn)動(dòng)平臺(tái)輸出位移的影響。分

7、別輸入一個(gè)階躍信號(hào)和一個(gè)方波信號(hào),經(jīng)MATLAB實(shí)驗(yàn)仿真可知,系統(tǒng)輸出位置信號(hào)均大約需要2.0ms進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài),很大程度上提高了運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的定位精度。參考文獻(xiàn)[1]UnC,YangS.Precisepositioningofpiezo-actuatedstagesusinghysteresis-observerbasedcontrol[C].Prague,CzechRepublic:IFACSecretariat,2005.[2]李玲,蔡安江,蔡力鋼,阮曉光,趙永勝.基于Bouc-Wen模型辨識(shí)結(jié)合面動(dòng)態(tài)特性研

8、宄[」].振動(dòng)與沖擊.2013,32(20):139-144.[3]張建明,周傳勇.基于最小二乘法的bouc-wen模型參數(shù)辨識(shí)[」].科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào).2013,06:150-151.

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