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1、電子科技大學UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA專業(yè)學位碩士學位論文MASTERTHESISFORPROFESSIONALDEGREE（電子科技大學圖標）論文題目材料電磁屏蔽性能測試技術研究專業(yè)學位類別工程碩士學號201522020638作者姓名羅顯云指導教師郭高鳳副教授分類號密級注1UDC學位論文材料電磁屏蔽性能測試技術研究（題名和副題名）羅顯云（作者姓名）指導教師郭高風副教授電子科技大學成都（姓名、職稱、單位名稱）申請學位級別碩士專業(yè)學位類別工程碩士工程領域名稱電子與通信工程提交論文日期2018.03.31
2、論文答辯日期2018.5.11學位授予單位和日期電子科技大學2018年6月答辯委員會主席評閱人注1：注明《國際十進分類法UDC》的類號。ResearchonElectromagneticShieldingPerformanceTestingTechnologyofMaterialsAMasterThesisSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaDiscipline:MasterofEngineeringAuthor:LuoXianyunSupervisor:AssociateProfesso
3、rGuoGaofengSchool:SchoolofElectronicScienceandEngineering獨創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學位論文是本人在導師指導下進行的研究工作及取得的研究成果。據(jù)我所知,除了文中特別加以標注和致謝的地方外,論文中不包含其他人己經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果,也不包含為獲得電子科技大學或其它教育機構的學位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻均己在論文中作了明確的說明并表示謝意。勹厶作者簽名:7顯日期:”年y月日沼刁論文使用授權、使用學位論文本學位論文作者完全了解電子科技大學有關保留的規(guī)定,有權保留并向國家有關部門或機
4、構送交論文的復印件和磁盤,允許論文被查閱和借閱。本人授權電子科技大學可以將學位論文的全、縮印或掃描部或部分內(nèi)容編入有關數(shù)據(jù)庫進行檢索,可以采用影印等復制手段保存、匯編學位論文。(保密的學位論文在解密后應遵守此規(guī)定)作者簽名:導師簽名:日期:鈔.∫鈔年5艮日亻摘要摘要隨著電子設備的功率越來越大、接收靈敏度越來越低、電磁污染越來越嚴重，電磁屏蔽和電磁干擾成為電子設計中必須考慮的重要因素。為了減少電磁污染和提高設備抗干擾能力，需要在輻射源周圍和抗電磁干擾的部分添加一層屏蔽材料，屏蔽材料的選擇就顯得尤為重要，材料電磁屏蔽效能是不可缺少的參數(shù)之一。傳統(tǒng)屏蔽測試系統(tǒng)體積大、重量重、成
5、本高，極大地限制了屏蔽性能測試的應用推廣。本文針對材料屏蔽性能測試，開展小型輕量化及低成本的屏蔽材料測試系統(tǒng)研究，具有重要的研究價值和實用價值。本文首先對屏蔽測試系統(tǒng)的背景、研究意義以及國內(nèi)外動態(tài)做了簡要描述，然后對屏蔽性能測試原理進行了詳細闡述，根據(jù)不同應用場景，分別設計了兩套屏蔽材料性能參數(shù)測試夾具。1、采用耦合微帶線的結構進行小型化設計，利用電磁耦合理論和HFSS軟件分別優(yōu)化設計了共面波導電、磁探針，制作了耦合微帶線、電磁耦合探針和探針三維移動裝置，并組建了10MHz~18GHz耦合微帶線材料屏蔽性能測試夾具。該夾具具有加載樣品前后平行帶線串擾測試、傳輸線插損比對測
6、試、傳輸線周圍輻射能量快速方便測試等功能，為片狀材料在微帶線應用中的屏蔽性能和傳輸性能的綜合參數(shù)獲取提供了測試手段。2、采用方同軸傳輸線設計了阻抗為50?的方形同軸腔，利用同軸傳輸線理論和HFSS軟件優(yōu)化設計了N型頭到方形同軸腔的匹配過渡，制作了N型頭到方同軸匹配結構、方同軸傳輸線和樣品定位裝置，并組建了1MHz~1GHz方同軸材料屏蔽性能測試夾具。同時，基于該屏蔽系統(tǒng)結構，設計并制作了終端短路的方同軸傳輸線材料反射率測試夾具，該夾具具有內(nèi)導體橫截面較小、樣品制備難度低、場分布近似于均勻平面波等特點，為低頻段平板材料在平面波狀態(tài)下屏蔽性能與反射性能的綜合參數(shù)獲取提供有效測
7、試手段。利用上述研制的兩套材料屏蔽性能測試夾具，結合矢量網(wǎng)絡分析儀搭建測試系統(tǒng)，針對不同類型材料、不同尺寸的樣品進行了屏蔽性能測試，獲得了實際測試結果，最后對測試結果進行了誤差分析。所建立的兩套測試夾具可為材料屏蔽性能評估提供依據(jù)。關鍵詞：屏蔽性能，耦合微帶線，方同軸IABSTRACTABSTRACTWiththeincreasingpowerofelectronicdevices,lowerandlowerreceptionsensitivity,andincreasinglyseriouselectromagneticpo
