led芯片進料檢驗實用標準

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1、實用標準文案修訂記錄日期版次修訂條款修訂內容簡述修訂人備注編制/日期：審核/日期：批準/日期：會簽□總經辦□財務中心□營銷中心□市場部□研發(fā)□資材中心□采購□倉庫□體系課□項目辦□人力資源□行政□事業(yè)部□品保□工程設備處□OJT□運營中心□照明（SMD）□燈絲□插件□COB□工程□設備□IE本資料為源磊科技有限公司之所有財產，未經書面許可——不準透露或使用本資料，亦不準復印、復制或轉變成其它形式使用。精彩文檔實用標準文案1.目的規(guī)范公司內LED正裝芯片檢驗判定標準。避免不合格原材料流入產線，提高生產良率。2.范圍適用于公司LED正裝芯片類產品3.定義CR：功能不正常﹑嚴重影響信

2、賴性或嚴重影響成品規(guī)格或嚴重影響客戶作業(yè)等。MA：成品質量有明顯性或潛在性的影響而不能正常使用。MI：使用上有一定的影響，但不是功能上的影響。4.權責品保部：品質標準的建立、修改、執(zhí)行及相關品質記錄。5.內容5.1抽樣依據：依照《MIL-STD-105E》并結合實際情況。5.2必須是合格供應商，承認書和環(huán)保資料齊全，才可進行下一步，否則拒絕檢驗。5.3檢驗標準:檢驗項目檢驗內容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷資料檢查1.型號、數量、參數與送貨單據一致無全檢目視送貨單CR包裝標識1.包裝完好，紙盒整齊、芯片靜電袋、藍膜完好無破損，無受潮現象2.可使用期限必須在保質期

3、內一半及以上無包裝全檢，藍膜抽10張檢查目視CR外觀檢測電極變色芯片正負極氧化變色允收標準：不可有10張藍膜/批顯微鏡*20MA電極色差同一片中不同芯片間和一顆芯片正負電極間顏色差異大允收標準：不可有10張藍膜/批顯微鏡*20MA探針痕跡電極上探針痕跡不得超過電極面積的1/3，不可露底材，不可偏移超過電極范圍10張藍膜/批顯微鏡*20MA檢驗項目檢驗內容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷精彩文檔實用標準文案外觀檢測切割不良芯片破損、增生、形狀大小不規(guī)則、裂紋，允收標準：芯片破損（增生）面積≤1/5芯片面積,裂紋不可有。10張藍膜/批顯微鏡*20MA電極刮花芯片表面的

4、電極區(qū)域有刮傷的痕跡允收標準：電極區(qū)：芯片任一電極刮傷面積＜該電極面積的1/5非電極區(qū)：非電極區(qū)刮傷面積＜該芯片面積的1/4且不可損傷到PN結。10張藍膜/批顯微鏡*20MA芯片表面臟污芯片表面有污染痕跡允收標準：電極區(qū)：污染面積＜該電極面積的1/5非電極區(qū)：污染面積＜該芯片面積的1/410張藍膜/批顯微鏡*20MA掉電極1.電極脫落，有缺口允收標準：不可有1.金手指脫落允收標準：距離電極1/2以內脫落不可接受10張藍膜/批顯微鏡*20CR排列方向錯誤芯片中有一排（列）或幾排（列）與其他多數材料排列方向相反，排列不整齊10張藍膜/批顯微鏡*20CR檢驗項目檢驗內容及標準不良圖示

5、及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷外觀檢測表面多金芯片表面任何地方有多出的殘金允收標準：不可有10張藍膜/批顯微鏡*20CR精彩文檔實用標準文案外表漏洞芯片任何部位有漏洞、燒黑或其他疑似擊穿現象允收標準：不可有10張藍膜/批顯微鏡*45CR尺寸檢測芯片尺寸每批抽10PCS檢驗芯片的長、寬，及電極正負極尺寸是否在規(guī)格范圍內無10PCS二次元CR性能檢測DVF校正過的廠商芯片每批抽0.5K測試DVF，VFM11和VFM12設置1uA，DVF1設置為規(guī)格電流，時間設置為5ms，未校正的廠商芯片暫無法測試。允收標準：-0.1V

6、片每批進料抽0.5K測試VFD2，未校正的廠商芯片暫無法測試允收標準：電流5mA時3V檔芯片VFD2<0.05V9V檔芯片VFD2<0.1V18V檔芯片VFD2<0.15V無0.5K裸晶測試儀CR正向電壓校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試。允收標準：標簽電壓±0.1V，且平均值在標簽范圍內；無0.5K/10PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR檢驗項目檢驗內容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷反向電流校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試，測試條件和判定按規(guī)格書標準。無0.5K/1

7、0PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR波長校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試。允收標準：標簽波長±1nm，且平均值在標簽范圍內無0.5K/10PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR精彩文檔實用標準文案亮度檢測正裝雙電極芯片每批進料抽0.5K測試PO值（mw），其它類型的芯片暫無法測試允收標準：實測平均值在標簽范圍內，最小值不低于芯片標簽下限的5%，且低于標簽下限的數量占測試數量比例不得超過10%，不管控上限。無0.5K裸晶測試儀MA靜電檢測每批進料