芯片測(cè)試報(bào)告范文

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1、Powerbank2000-4000芯片測(cè)試報(bào)告目的：鑒于原powerbank2000-4000芯片的輸出電流不能滿足不斷升級(jí)、更新手機(jī)的需求，繼而尋找高電流出去芯片，代替原有芯片，特針對(duì)此芯片芯片進(jìn)行測(cè)試，為今后的更改做好鋪墊。測(cè)試工具：電子負(fù)載、穩(wěn)壓電源、萬(wàn)用表、電子溫度計(jì)、數(shù)字電流表。測(cè)試內(nèi)容：1、輸出電流不斷上升，輸入電壓不斷下降的狀態(tài)下，輸出效率變化分布；2、輸入為恒壓的狀態(tài)下，不斷的提高輸出電流，輸出效率的變化；3、輸出電流不斷上升時(shí)，芯片發(fā)熱溫度變化；測(cè)試方案：1、控制輸出電流從0.3A-1.9A逐一遞升變化（每0.1A）；穩(wěn)壓電源輸出為4V，以實(shí)際電路輸入電壓為準(zhǔn)，并讀取電

2、子負(fù)載上的顯示參數(shù)（輸出電壓、電流）；電路板輸入電壓U0輸出電壓U1輸入電流I0輸出電流I12、控制輸出電流從0.3A-1.9A，不斷調(diào)整輸入電壓，使之為定值，并讀取電子負(fù)載上的顯示參數(shù)（輸出電壓、電流）；3、控制輸出電流從0.3A-1.9A逐一遞升變化（每0.1A）；芯片等周圍部件的溫度變化；測(cè)試數(shù)據(jù)：1、輸出電流不斷上升，輸入電壓不斷下降的狀態(tài)下，輸出效率變化分布；2、恒壓下的效率變化；2輸入3V恒壓時(shí)，隨電流的上升，轉(zhuǎn)換效率的變化情況2輸入3.7V恒壓時(shí)，隨電流的上升，效率的變化情況2輸入4V恒壓時(shí)，隨電流的上升，效率的變化情況3、常溫下，輸出電流不斷上升時(shí)，芯片發(fā)熱溫度變化