基于insar的形變監(jiān)測(cè)技術(shù)研究

基于insar的形變監(jiān)測(cè)技術(shù)研究

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1、電子科技大學(xué)UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA專(zhuān)業(yè)學(xué)位碩士學(xué)位論文MASTERTHESISFORPROFESSIONALDEGREE論文題目基于InSAR的形變監(jiān)測(cè)技術(shù)研究專(zhuān)業(yè)學(xué)位類(lèi)別工程碩士學(xué)號(hào)201022020615作者姓名陳怡曲指導(dǎo)教師汪學(xué)剛教授萬(wàn)方數(shù)據(jù)分類(lèi)號(hào)密級(jí)注1UDC學(xué)位論文基于InSAR的形變監(jiān)測(cè)技術(shù)研究(題名和副題名)陳怡曲(作者姓名)指導(dǎo)教師汪學(xué)剛教授電子科技大學(xué)成都(姓名、職稱(chēng)、單位名稱(chēng))申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別碩士專(zhuān)業(yè)學(xué)位類(lèi)

2、別工程碩士工程領(lǐng)域名稱(chēng)電子與通信工程提交論文日2013.04論文答辯日期2013.05學(xué)位授予單位和日期電子科技大學(xué)2013年6月28日答辯委員會(huì)主席評(píng)閱人注1:注明《國(guó)際十進(jìn)分類(lèi)法UDC》的類(lèi)號(hào)。萬(wàn)方數(shù)據(jù)THESTUDYOFDEFORMATIONMONITORINGBASEDONSARINTERFEROMETRYAThesisSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaMajor:ElectronicandCommuni

3、cationEngineeringAuthor:ChenYiquAdvisor:WangXuegangSchool:SchoolofElectronicEngineering萬(wàn)方數(shù)據(jù)獨(dú)創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學(xué)位論文是本人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。據(jù)我所知,除了文中特別加以標(biāo)注和致謝的地方外,論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫(xiě)過(guò)的研究成果,也不包含為獲得電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書(shū)而使用過(guò)的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中作了明確的說(shuō)明并表示謝意

4、。作者簽名:日期:年月日論文使用授權(quán)本學(xué)位論文作者完全了解電子科技大學(xué)有關(guān)保留、使用學(xué)位論文的規(guī)定,有權(quán)保留并向國(guó)家有關(guān)部門(mén)或機(jī)構(gòu)送交論文的復(fù)印件和磁盤(pán),允許論文被查閱和借閱。本人授權(quán)電子科技大學(xué)可以將學(xué)位論文的全部或部分內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行檢索,可以采用影印、縮印或掃描等復(fù)制手段保存、匯編學(xué)位論文。(保密的學(xué)位論文在解密后應(yīng)遵守此規(guī)定)作者簽名:導(dǎo)師簽名:日期:年月日萬(wàn)方數(shù)據(jù)摘要摘要形變監(jiān)測(cè)廣泛應(yīng)用于各類(lèi)地質(zhì)災(zāi)害和大型建筑物的安全監(jiān)測(cè)中。在多種形變監(jiān)測(cè)方法中,合成孔徑雷達(dá)干涉(InSAR)測(cè)量

5、技術(shù)具有全天候?qū)崟r(shí)遠(yuǎn)程監(jiān)控的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。合成孔徑雷達(dá)干涉測(cè)量系統(tǒng)有星載、機(jī)載和地基三種,本文討論星載和地基兩種模式。針對(duì)星載InSAR和地基InSAR在測(cè)量形變的原理和數(shù)據(jù)處理方面的不同之處,以及如何通過(guò)數(shù)據(jù)處理來(lái)提高形變測(cè)量的精度,本文主要做了以下幾個(gè)方面的工作。1、結(jié)合星載InSAR觀(guān)測(cè)模型分析其測(cè)量原理和干涉相位的組成,分析星載InSAR獲取DEM的數(shù)據(jù)處理步驟。分析InSAR測(cè)量中的去相干性因素,探討如何去除“去相干源”的影響。利用ENVI+SARscape軟件進(jìn)行星載InSAR獲取DEM實(shí)

6、驗(yàn)。對(duì)SLC圖像對(duì)進(jìn)行基線(xiàn)估算、干涉圖生成、干涉圖去平、干涉圖自適應(yīng)濾波和相干生成、相位解纏、軌道精煉和重去平、高程轉(zhuǎn)換,最終獲取DEM,精度為15米。2、結(jié)合星載DInSAR觀(guān)測(cè)模型分析差分干涉相位的組成,分析星載DInSAR測(cè)量地表形變值的原理。利用ENVI+SARscape軟件進(jìn)行星載DInSAR測(cè)量地表形變值的實(shí)驗(yàn)。利用“二過(guò)法”對(duì)兩幅SLC數(shù)據(jù)及DEM進(jìn)行DInSAR數(shù)據(jù)處理,利用配準(zhǔn)、去平、相位解纏等方法增加圖像的相干性,最終得到差分干涉條紋圖,從干涉圖上獲取形變信息,測(cè)量精度達(dá)到厘米

7、級(jí)。3、建立地基InSAR系統(tǒng)的觀(guān)測(cè)模型,結(jié)合其零空間基線(xiàn)等特點(diǎn),推導(dǎo)出地基InSAR測(cè)量形變的原理和處理流程。由于實(shí)驗(yàn)條件限制,形變前后的SLC由MATLAB仿真生成。根據(jù)SFCW信號(hào)原理以及地基SAR方位合成孔徑觀(guān)測(cè)方式,模擬出回波信號(hào)并根據(jù)地基SAR成像算法生成兩幅復(fù)影像作為實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。在隨后的地基InSAR數(shù)據(jù)處理實(shí)驗(yàn)中,重點(diǎn)分析相位解纏算法對(duì)干涉條紋圖的影響。采用枝切線(xiàn)法以及質(zhì)量圖引導(dǎo)法兩種解纏算法進(jìn)行解纏,可以看到質(zhì)量圖引導(dǎo)法更簡(jiǎn)單有效。從解纏后的干涉圖上獲取形變發(fā)生的位置及形變值,測(cè)量

8、精度達(dá)到厘米級(jí)。關(guān)鍵詞:形變監(jiān)測(cè),InSAR,DInSAR,地基SAR,相位解纏I萬(wàn)方數(shù)據(jù)ABSTRACTABSTRACTDeformationmonitoringiswidelyusedinthesafetymonitoringofthevarioustypesofgeologicaldisastersandlargebuildings.Duringthevariousmethodsofdeformationmonitoring,theRadarInterferometryhas

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