電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗犇犫

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1、犐犆犛１９．０４０犓０４中華人民共和國國家標準犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３電工電子產品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗犇犫：交變濕熱（１２犺＋１２犺循環(huán)）犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱—犜犲狊狋犇犫：犇犪犿狆犺犲犪狋，犮狔犮犾犻犮（１２犺＋１２犺犮狔犮犾犲）（ＩＥＣ６００６８２３０：２００５，Ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇ—Ｐａｒｔ２３０：Ｔｅ

2、ｓｔｓ—ＴｅｓｔＤｂ：Ｄａｍｐｈｅａｔ，ｃｙｃｌｉｃ（１２ｈ＋１２ｈｃｙｃｌｅ），ＩＤＴ）２００８０５１９發(fā)布２００９０１０１實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５目次前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３一般說

3、明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１４試驗箱———構造要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１５嚴酷程度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２６初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２７條件試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２８中間檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３９恢復!!!!!!!!!!!!!

4、!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３１０最終檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３１１相關規(guī)范中應給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３附錄Ａ（資料性附錄）導則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８Ⅰ犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５前言本部分為ＧＢ／Ｔ２４２３的第４部分。本部分等同采用ＩＥＣ６００６８２３０：２００５《環(huán)境試驗第２３０部分：試驗方法試驗Ｄｂ：交變濕熱（１２ｈ＋１２

5、ｈ循環(huán)）》（英文版）。主要做了以下編輯性修改：———刪除了國際標準的前言和引言；———增加了國家標準前言；———引用了采用國際標準的國家標準。本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３，與其相比，主要不同之處有：———圖２改為圖２ａ）和圖２ｂ）；———在降溫階段中，方法２允許相對濕度和溫度下降速率有較大的容差；———恢復條件相對濕度由原來的“（７５±３）％”改為“（７５±２）％”，溫度由“實驗室溫度±２Ｋ”改為“實驗室溫度±１Ｋ”；———增加了附錄Ａ。本部分的附錄Ａ為資料性附錄。本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會提

6、出并歸口。本部分起草單位：中國電器科學研究院、上海工業(yè)自動化儀表研究所。本部分主要起草人：顏景蓮、王捷。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３。Ⅲ犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５電工電子產品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗犇犫：交變濕熱（１２犺＋１２犺循環(huán)）１范圍本部分適用于確定元件、設備或其他產品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產生凝露的條件下使用、運輸和貯存的適應性。如果本試驗用于檢驗帶包裝樣品在運輸和貯存過程中的性能時，

7、應帶包裝一起進行試驗。對于小的，質量輕的樣品使用本試驗，在樣品表面產生凝露可能比較困難；用戶應考慮使用其他替代試驗，如ＧＢ／Ｔ２４２３．３４—２００５。２規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產品環(huán)境試驗第１部分：總則（ｉｄｔＩＥＣ６００６８１：１９８８）Ｇ

8、Ｂ／Ｔ２４２２—１９９５電工電子產品環(huán)境試驗術語（ｅｑｖＩＥＣ６００６８５２：１９９０）ＧＢ／Ｔ２４２３．３４—２００５電工電子產品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｚ／ＡＤ：溫度／濕度組合循環(huán)試驗（ＩＥＣ