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1、電子科技大學UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA碩士學位論文MASTERDISSERTATION論文題目：基于多特征的模擬電路多信號建模及軟件實現(xiàn)學科專業(yè)：測試計量技術及儀器指導教師：龍兵副教授作者姓名：張巧炫班級學號：200921070128萬方數(shù)據(jù)分類號密級注1UDC學位論文基于多特征的模擬電路多信號建模及軟件實現(xiàn)（題名和副題名）張巧炫（作者姓名）指導教師姓名龍兵副教授電子科技大學成都（職務、職稱、學位、單位名稱及地址）申請專業(yè)學位級別碩士專業(yè)名稱測試計量技術及儀器
2、論文提交日期2012.04論文答辯日期2012.05學位授予單位和日期電子科技大學答辯委員會主席評閱人年月日注1：注明《國際十進分類法UDC》的類號。萬方數(shù)據(jù)獨創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學位論文是本人在導師指導下進行的研究工作及取得的研究成果。據(jù)我所知，除了文中特別加以標注和致謝的地方外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果，也不包含為獲得電子科技大學或其它教育機構的學位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻均已在論文中作了明確的說明并表示謝意。簽名：日期：年月日關于論文使用授權的說明本學位論文作者完
3、全了解電子科技大學有關保留、使用學位論文的規(guī)定，有權保留并向國家有關部門或機構送交論文的復印件和磁盤，允許論文被查閱和借閱。本人授權電子科技大學可以將學位論文的全部或部分內(nèi)容編入有關數(shù)據(jù)庫進行檢索，可以采用影印、縮印或掃描等復制手段保存、匯編學位論文。（保密的學位論文在解密后應遵守此規(guī)定）簽名：導師簽名：日期：年月日萬方數(shù)據(jù)摘要摘要可測性指的是產(chǎn)品能及時準確地確定其狀態(tài)并隔離其內(nèi)部故障的一種設計特性。隨著電子技術的發(fā)展，電路系統(tǒng)復雜性提高，測試難度加大，對電路的可測性指標要求也越來越高。但現(xiàn)有電路可測性的建模方法比較復雜，受人為因
4、素的影響比較大。針對這些問題，本文以模擬電路可測性設計為切入點，主要研究了電路故障自動仿真、多信號建模、依賴矩陣生成技術和測點優(yōu)選方法等方面的問題，并在此基礎上搭建了模擬電路多信號自動建模軟件平臺。具體內(nèi)容如下：提出基于多特征的多信號建模方法，用于解決電路元件的故障模式不易確定的問題。通過提取多種特征（包括時域特征、頻域特征、統(tǒng)計特征量，以及小波特征向量等）作為模擬電路的故障特征進行多信號建模，使得模擬電路的多信號建模更加高效和準確。改進了最優(yōu)測試信號集選取方法，用于減少測試數(shù)目和降低測試成本。對測點優(yōu)選算法的包含法進行改進，提出
5、了基于依賴矩陣的測試優(yōu)選算法，從多個測試中選擇對故障影響最明顯的幾個特征，得到了最優(yōu)測試信號集，達到了用最少的測試隔離最多的故障元件的目的，并用可測性指標評價了該算法的合理性。設計并實現(xiàn)了模擬電路的多信號建模軟件平臺，并且成功的集成到“可測性輔助設計軟件”主體軟件中。該軟件平臺通過自動調(diào)用Pspice仿真引擎獲取電路的初始電壓，使用Matlab程序?qū)崿F(xiàn)了各個故障特征的提取算法，以及基于依賴矩陣的測試優(yōu)選算法，利用VC操作平臺，將這些算法融合到多信號建模軟件平臺上。為了說明電路的多信號建模平臺的實用性，在文中用實例進行了驗證。另外為
6、了體現(xiàn)本文采用基于多特征的多信號建模算法的優(yōu)越性，以典型的低通濾波電路為例，將其與可測性設計軟件TEAMS中手動建模的指標分析結果進行了比較分析，結果顯示：在故障檢測率均為100%的同時，故障隔離率由手動建模時的69.08%提高到了100%，用鮮明的對比，體現(xiàn)了模擬電路多信號自動建模的優(yōu)越性。關鍵詞：多特征提取，多信號建模，測試信號優(yōu)化，指標分析I萬方數(shù)據(jù)ABSTRACTABSTRACTTestabilityisadesigncharacteristicoftheproduct,whichthestateoftheproducts
7、canbedeterminedtimelyandaccurately,anditsinternalfaultisisolated.Withthedevelopmentofelectronictechnology,thecomplexityofcircuitsystemanddifficultiesoftestareincreasing,testabilityismoreandmoreimportant.Buttheexistingmodelingmethodsofcircuittestabilityareverycomplex,a
8、ndareeasilyinfluencedbyhumanfactors.Therefore,tosolvetheseproblems,thispaperfocusesontheanalogcircuittestabilitydesign;mainl
