電子元器件低頻電噪聲測試技術(shù)及應(yīng)用的論文的研究

電子元器件低頻電噪聲測試技術(shù)及應(yīng)用的論文的研究

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1、作者簡介陳文豪,四川遂寧人。2006年畢業(yè)于西安電子科技大學(xué)、獲學(xué)士學(xué)位。同年于西安電子科技大學(xué)攻讀碩士學(xué)位,并于2007年攻讀博士學(xué)位。2012年獲西安電子科技大獲工學(xué)博新華士學(xué)位。導(dǎo)師:杜磊教授圖主要研究方向:電子器件可靠性、可靠性測試、電子器片社件噪聲等。照片代表成果及經(jīng)歷:已在《物理學(xué)報》、《ChinesePhysicsB》、《紅外技術(shù)》、第十六屆電子元件學(xué)術(shù)年會等權(quán)威、核心刊物和國內(nèi)學(xué)術(shù)會議發(fā)表學(xué)術(shù)論文14余篇。曾榮獲國家電子設(shè)計大賽全國二等獎、陜西省一等獎。授權(quán)發(fā)明專利一項,申請受理發(fā)明專利一項。參與國家自然基金項

2、目兩項,國家重點基礎(chǔ)研究發(fā)展計劃子項目一項。參與制定電子器件噪聲測試標(biāo)準(zhǔn),負(fù)責(zé)完成多種電子器件噪聲測試設(shè)備與系統(tǒng)。WenhaoChen,wasborninSuining,SiChuanProvince,China,in1983.HereceivedhisB.A.inMaterialScienceTechnologyfromXiDianUniversity,Xi’an,China,in2006.ThenhestudiedatXiDianUniversitysinceAugust2006foraMaster’sdegree,bec

3、omingadoctoralcandidateinAugust2007,andconferredaPh.D.degreeinMaterialPhysicsandChemistryatXiDianUniversity,Xi’an,China,in2012.HisresearchinterestsincludeElectronicDevicereliability,ReliabilityTesting,andTheNoiseofElectronicDevice.In2005hehasgotthe2ndlevelofNational

4、UndergraduateElectronicDesignContest,andthe1stlevelofNationalUndergraduateElectronicDesignContestinShaanxiProvince.From2009to2010hehaspublishedover14journalandconferencepapers.Hehasalsoauthored2ChinaissuedandpendingPatents.Hehasparticipatedintheprojects“TheFundament

5、alTheoryResearchonNoiseCharacterizingInformationofSemiconductorSpintronics”and“Mesoscopicscalematerialcharacteristicsandthebasicresearchoftheservicebehaviorcharacterization”,whicharesupportedbyTheNationalNaturalScienceFoundationofChinaandTheNationalBasicResearchProg

6、ramofChina,respectively.Hehaspresidedovertheprojectof“ElectronicDeviceNoiseMeasurementSystem”form2008to2011.西安電子科技大學(xué)學(xué)位論文獨創(chuàng)性(或創(chuàng)新性)聲明秉承學(xué)校嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶W(xué)風(fēng)和優(yōu)良的科學(xué)道德,本人聲明所呈交的論文是我個人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知,除了文中特別加以標(biāo)注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外,論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果;也不包含為獲得西安電子科技大學(xué)或其它教育機構(gòu)的學(xué)位或證書而使

7、用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中做了明確的說明并表示了謝意。申請學(xué)位論文與資料若有不實之處,本人承擔(dān)一切的法律責(zé)任。本人簽名:日期:西安電子科技大學(xué)關(guān)于論文使用授權(quán)的說明本人完全了解西安電子科技大學(xué)有關(guān)保留和使用學(xué)位論文的規(guī)定,即:研究生在校攻讀學(xué)位期間論文工作的知識產(chǎn)權(quán)單位屬西安電子科技大學(xué)。學(xué)校有權(quán)保留送交論文的復(fù)印件,允許查閱和借閱論文;學(xué)??梢怨颊撐牡娜炕虿糠謨?nèi)容,可以允許采用影印、縮印或其它復(fù)制手段保存論文。同時本人保證,畢業(yè)后結(jié)合學(xué)位論文研究課題再攥寫的文章一律署名單位為西安電子

8、科技大學(xué)。(保密的論文在解密后遵守此規(guī)定)本學(xué)位論文屬于保密,在年解密后適用本授權(quán)書。本人簽名:導(dǎo)師簽名:日期:日期:摘要I摘要電子元器件低頻電噪聲是載流子微觀運動的表現(xiàn),其精確測量可為噪聲特性、產(chǎn)生機理研究及其分析應(yīng)用奠定基礎(chǔ)。通過噪聲測試能夠有效驗證電子元器件中與載流子輸

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