雙狹縫掃描光束質(zhì)量分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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1、學(xué)號(hào)：S13040439碩士學(xué)位論文雙狹縫掃描光束質(zhì)量分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)研究生姓名：李蕾學(xué)科、專業(yè)：信息與通信工程二○一六年三月分類號(hào)：TN247密級(jí)：可公開UDC：621.3編號(hào)：雙狹縫掃描光束質(zhì)量分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)DESIGHOFQUALITYANALYSISSYSTEMFORDUALALITSCANNINGBEAM學(xué)位授予單位及代碼：長春理工大學(xué)（10186）學(xué)科專業(yè)名稱及代碼：信息與通信工程（081001）研究方向：光電傳感與光電探測技術(shù)申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：工學(xué)碩士指導(dǎo)教師：臧景峰副教授研究生：李蕾論文起止時(shí)間：2014.09—2015.11長春理工大學(xué)碩±學(xué)位論文原創(chuàng)性聲明》，《

2、雙本人鄭重聲明：所呈交的碩±學(xué)位論文狹縫掃描光束質(zhì)量分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)是本人在指導(dǎo)教師的指導(dǎo)下，獨(dú)立進(jìn)行研巧工作所取得的成果。除文中已經(jīng)注明引用或集體己經(jīng)發(fā)表或撰寫過的作品成果。對(duì)本文的內(nèi)容外，本論文不包含任何其他個(gè)人。本人完全意識(shí)到本的研究做出重要貢獻(xiàn)的個(gè)人和集體，均己在文中Ｗ明確方式標(biāo)明。．聲明的法律結(jié)果由本入承擔(dān)．．．一化者答名：：！畫地（年玉月Ｊｊ（日長春理工大學(xué)學(xué)位論文版權(quán)使用授權(quán)書。本學(xué)位論文作者及指導(dǎo)教師完全了解長春理工大學(xué)碩±、博壬學(xué)位論文版權(quán)使，’、中國優(yōu)秀博碩壬學(xué)位論用規(guī)定，同意長春理工大學(xué)保留并向中國科學(xué)信息研究所文全文數(shù)據(jù)庫

3、和ＣＮＫＩ系列數(shù)據(jù)庫及其它國家有關(guān)部口或機(jī)構(gòu)送交學(xué)位論文的復(fù)印件。本人授權(quán)長春理工大學(xué)可Ｗ將本學(xué)位論文的全部和電子版，允許論文被查閱和借閱或部分內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢索，也可采用影印、縮印或掃描等復(fù)制手段保存和匯編學(xué)位論文。作者簽名：方賓年＿１月１＾日＇劇幣簽名；堿《峰］名！年＿３＿月＿１＿＾日．．‘．．．吉．．？．；摘要隨著激光越來越廣泛的應(yīng)用，激光光斑功率，光束質(zhì)量因子與描述光束質(zhì)量的其他參數(shù)的測量己成為熱門課題，而目前國內(nèi)對(duì)于激光各個(gè)參數(shù)的測量，雖然已經(jīng)研發(fā)出完整的成套測量系統(tǒng)，但是大多用于研發(fā)領(lǐng)域，還未出現(xiàn)可以簡單快速

4、且可被廣泛工業(yè)化的激光光束測量系統(tǒng)。如今對(duì)激光光束質(zhì)量的測量方法，測量速度與測量精度無法同時(shí)兼顧。為了兼顧測量速度與精度的目的，提出了雙狹縫掃描法。因?yàn)榇朔椒ú恍枰诠饴分惺褂盟p器，降低了數(shù)據(jù)分析復(fù)雜度。選用嵌入式技術(shù)完成對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的控制與數(shù)據(jù)處理，體積小便于攜帶，可實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理。進(jìn)行了理論分析和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，實(shí)現(xiàn)了快速同步測量兩軸軸功率分布，動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)到70dB，掃描速率為2到18Hz，可用于分析連續(xù)或脈沖激光光束。結(jié)果表示這個(gè)改進(jìn)可以同時(shí)兼顧測量速度與精度。關(guān)鍵詞：雙狹縫掃描法，激光光束質(zhì)量，圖像處理，功率IABSTRACTBecausethelaseriswidely

5、used,theimpactofvariousdisciplinestoproducegraduallybecomeslarge,thelaserspotpower,beamqualityfactormeasuredbeamqualityanddescriptionofotherparametershasbecomeahottopic,andthecurrentdomesticmeasurementparametersforeachlaser,Althoughalreadydevelopedacompletesuiteofmeasurementsystems,butmostlyf

6、orresearchanddevelopment,hasnotyetappearedquicklyandeasilyandcanbewidelyindustrializedlaserbeammeasurementsystem.Today,thelaserbeamqualitymeasurementmethods,measurementspeedandmeasurementaccuracycannotbetakingintoaccount.Inordertotakeintoaccountthepurposeofmeasuringthespeedandaccuracyofpropos

7、eddoubleslitscanningmethod.Becausethismethoddoesnotrequiretheuseofanattenuatorintheopticalpath,reducingthecomplexityofdataanalysis.Selectionofembeddedtechnologytocompletetheentiresystemcontrolanddataprocessing,smallsizeandeasytocarry,canachie