考慮谷間散射效應的一維谷電子學器件輸運性質的研究

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1、:0285滬.學校代號:1’:::V學號20134208075巧;..°’...申..'^呼巧子'.'片:.;、-.。.遇—巧蘆,'軒托芒?:縣,搪靖乂爭如1麵SOOCHOWUNIVER別TY'考慮谷間散歷應的-維各電子學器件i‘m等拭.詞輸運性質麵究mj—■'扣巧麻.祉、.【'Effectsofintervalleyscatterinonthetransortgp'roert—roncevcesppiesinonedimensionalvallevtidi1^

2、1研究生姓名周嬌嬌m請評電心:指導教師姓名江華9...'、—.'1、'專業(yè)名稱物理學研究方向凝緊態(tài)物理?^物理與光電能源學部,所在院部蘇州大學_—就、論文提交日期2016年4月劇西評寺氏戶艇■記'齡'?。兌是蓱簦海崳姡蓮娊汩T學位論文使用授權聲明本人完全了解蘇州大學關于收集、保存和使用學位論文的規(guī)定,良P:學位論文著作權歸屬蘇州大學。本學位論文電子文檔的內容和紙一致、質論文的內容。蘇州大學有權向國家圖書館中國社科院文獻信()、、含萬方數(shù)據(jù)電出版中息情報

3、中也中國科學技術信息研究所子社()送電文盤版電子志學論文的印件和子國學術期刊光雜社交本位復、段,允論文查閱和,可W用影印印或其他復制手保檔許被借閱采縮,全內編入數(shù)據(jù)和匯編學位論文可論文的部或部分容有關存將學位進。索庫行檢論渉密文□解密后適用規(guī)定。論文屬年月本本學位在__/非密論文因涉'I藝。^2搗:論簽:聞文日期作者名^W(::;X日:瓜午,U簽名期導師?。牽紤]谷間散射效應的一維谷電子學器件輸運性質的研究中文摘要近幾年,谷作為一種全新的載流子自由度受到了廣泛的關注。并且,大家將基于谷自由度的電子調控稱為谷電子

4、學。本文提出了一個一維的異質結格點模型,并且詳細討論了基于該模型的谷極化載流子的界面隧穿問題。在這個格點模型中,假設電子僅在S軌道和最近鄰格點的PX軌道之間有躍遷,采用緊束縛模型的方法,我們可以計算出這個模型在動量空間上有兩個不等價的谷結構,K和K’,并得到它們所對應的波函數(shù)。考慮波函數(shù)在界面處的連續(xù)條件,我們可以得到透射系數(shù)和反射系數(shù)的解析形式。在這樣的情況下,我們帶入相關物理量的數(shù)值,就可以研究這些物理量對谷極化載流子界面輸運的影響。接下來的關于谷異質結的輸運性質被分為三個部分來討論:1)異質結界面兩端都為無帶隙的谷結構材料(????0);2)異質結界面

5、兩端只有一端是無帶隙的谷LR結構材料,另一端是有帶隙的谷結構材料(??0,??0或??0,??0);3)異質LRLR結界面兩端都為有帶隙的谷結構材料(??0,??0)。我們的解析結果清晰地表明LR載流子在異質結的界面處會受到很強的谷間散射作用,這一現(xiàn)象將會對谷電子學器件中的電子隧穿產(chǎn)生很大的影響。具體來說就是,當異質結界面兩端都為無帶隙的谷材料時,谷間散射會使得隧穿的載流子有一定的幾率發(fā)生反射,沒有100%的透射現(xiàn)象。然而,在這種谷異質結結構中,透射載流子仍然保持著原有的谷極化方向。與之對比的是,當異質結兩端存在有帶隙的谷結構材料時,載流子的谷極化方向在透射

6、過程中可以被改變。除此之外,在有帶隙的谷結構異質結中,我們發(fā)現(xiàn)了谷共振輸運的現(xiàn)象,并且給出了共振存在的條件。這一現(xiàn)象未來有可能在的谷電子學器件中得到應用。關鍵詞:谷電子學;緊束縛模型;谷間散射;谷共振輸運作者:周嬌嬌指導教師:江華IEffectsofintervalleyscatteringonthetransportpropertiesinone?dimensionalvalleytronicdevicesAbstractInrecentyears,thecommunityhavegeneratedextensiveinterestinmanipulati

7、ngandcontrollingofvalley,whichisanewdegreeoffreedomofthechargecarriers,andthusstimulateabloomingfieldofvalleytronics.Here,webeginwithconstructingaone-dimensionallatticemodelandaddresssuchanissueonthebasisofinvestigatingthevalleytransportpropertiesinthisvalleymaterialjunctiondevices

8、.Weassumethattheelectronho

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