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《集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、.集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)ICTestingandDesignforTestability教學(xué)大綱課程名稱：集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)課程編號(hào)：M702004課程學(xué)分：3適用學(xué)科：集成電路工程、電子科學(xué)與技術(shù)一、課程性質(zhì)本課程的授課對(duì)象為集成電路工程專業(yè)研究生和電子與科學(xué)技術(shù)專業(yè)研究生，課程屬性為專業(yè)基礎(chǔ)必修課（對(duì)電子與科學(xué)技術(shù)專業(yè)研究生為專業(yè)選修課）。本課程主要講授集成電路測(cè)試尤其是大規(guī)模集成電路測(cè)試的基本概念、基本方法，數(shù)字集成電路測(cè)試向量生成算法、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、可測(cè)試性度量、數(shù)模混合信號(hào)電路測(cè)試方法以及
2、測(cè)試設(shè)備和測(cè)試過程等內(nèi)容。通過基本思想、基本算法的引入、推導(dǎo)并配以大量的實(shí)例進(jìn)行分析，使學(xué)生能夠?qū)y(cè)試相關(guān)理論有全面的理解，并能夠利用所學(xué)的方法解決實(shí)際的電路測(cè)試及可測(cè)試性設(shè)計(jì)方面的問題。二、課程教學(xué)目的...學(xué)生通過本課程的學(xué)習(xí)，應(yīng)能夠理解集成電路測(cè)試及可測(cè)性的基本概念、基本思想；掌握重要的測(cè)試向量生成算法以及典型的可測(cè)性設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)；了解集成電路測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)及面臨的主要問題。通過利用可測(cè)性設(shè)計(jì)方法構(gòu)建實(shí)際的可測(cè)性方案，鍛煉培養(yǎng)解決測(cè)試問題的實(shí)踐動(dòng)手能力。同時(shí)通過對(duì)主要算法的發(fā)展歷程、思想演變等的學(xué)習(xí)，培
3、養(yǎng)發(fā)現(xiàn)問題、解決問題的能力以及創(chuàng)新思維。為今后從事集成電路測(cè)試方面的工程或研究工作打下基礎(chǔ)。三、教學(xué)基本內(nèi)容及基本要求第一章測(cè)試?yán)碚摶A(chǔ)教學(xué)內(nèi)容：1.1引言1.2VLSI測(cè)試過程和設(shè)備教學(xué)要求： 1、掌握：集成電路測(cè)試的工作原理和工作過程?！ ?、理解：集成電路測(cè)試的基本概念。3、了解：集成電路測(cè)試的特點(diǎn)，測(cè)試技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀。第二章測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)故障和故障模擬教學(xué)內(nèi)容：2.1測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量2.2故障模型教學(xué)要求： 1、掌握：測(cè)試的經(jīng)濟(jì)性和故障定義?！ ?、理解：故障的含義和分類方法。3、了解：測(cè)試與
4、產(chǎn)品質(zhì)量間的關(guān)系。第三章邏輯與故障模型教學(xué)內(nèi)容：3.1???用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證的模擬3.2用于設(shè)計(jì)評(píng)估的模擬3.3用于模擬的模型電路3.4用于真值模擬的算法...3.5故障模擬算法3.6故障模擬的統(tǒng)計(jì)學(xué)方法教學(xué)要求： 1、掌握：模型電路概念及類型，真值模擬的算法和故障模擬算法?！?、理解：用于真值模擬的算法以及故障模擬算法的原理及意義。 3、了解：設(shè)計(jì)驗(yàn)證和測(cè)試評(píng)估的模擬，故障模擬的統(tǒng)計(jì)。第四章可測(cè)試性度量教學(xué)內(nèi)容：4.1???SCOAP可控制性和可觀測(cè)性4.2???高層次可測(cè)試性度量教學(xué)要求： 1.掌握：集成電
5、路測(cè)試中SCOAP可控制性和可觀測(cè)性概念理論?！?.理解：SCOAP可控制性和可觀測(cè)性理論，以及VLSI電路可測(cè)試性的行為綜合?！?.了解：集成電路測(cè)試的可控制性和可觀測(cè)性概念。第五章組合電路測(cè)試生成教學(xué)內(nèi)容：5.1???算法與表示5.2???冗余識(shí)別5.3???全局測(cè)試問題5.4重要的組合ATPG算法5.5測(cè)試生成系統(tǒng)5.6測(cè)試矢量壓縮教學(xué)要求： 1、掌握：重要的組合ATPG算法，測(cè)試生成與壓縮?！?、理解：冗余識(shí)別，全局測(cè)試相關(guān)理論。 3、了解：算法與冗余識(shí)別的概念；算法在集成電路測(cè)試中的作用。第六章時(shí)
6、序電路的測(cè)試矢量生成教學(xué)內(nèi)容：...6.1???單時(shí)鐘同步電路的ATPG6.2???時(shí)間幀展開方法6.3???基于模擬的時(shí)序電路ATPG教學(xué)要求： 1、掌握：時(shí)間幀的展開方法。 2、理解：基于模擬的時(shí)序電路ATPG和時(shí)間幀的展開理論?！?、了解：時(shí)序電路的測(cè)試矢量生成的具體過程。第七章數(shù)字電路DFT和掃描設(shè)計(jì)教學(xué)內(nèi)容：12.1???特定的DFT方法12.2???掃描設(shè)計(jì)12.3???部分掃描設(shè)計(jì)12.4掃描的變種教學(xué)要求： 1、掌握：數(shù)字電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)以及掃描設(shè)計(jì)的相關(guān)理論?！?、理解：掃描設(shè)計(jì)的原理和實(shí)
7、現(xiàn)方法?！?、了解：特定的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，掃描設(shè)計(jì)和它的演變。第八章內(nèi)建自測(cè)試教學(xué)內(nèi)容：13.1???BIST的經(jīng)濟(jì)性情況13.2???隨機(jī)邏輯BIST13.3???存儲(chǔ)器BIST13.4延遲故障BIST教學(xué)要求： 1、掌握：內(nèi)建自測(cè)試的工作原理和實(shí)現(xiàn)方法?！?、理解：內(nèi)建自測(cè)試的工作原理和實(shí)現(xiàn)方法。 3、了解：內(nèi)建自測(cè)試的經(jīng)濟(jì)性情況。第九章邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：...14.1???邊界掃描的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)14.2???邊界掃描的描述語言教學(xué)要求： 1、掌握：邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)定義的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)?！?、理解：邊界掃描語言。
8、 3、了解：邊界掃描的相關(guān)知識(shí)。第十章模擬測(cè)試總線標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：15.1???模擬電路的可測(cè)試性設(shè)計(jì)15.2???模擬測(cè)試總線教學(xué)要求： 1、掌握：模擬電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)相關(guān)理論，模擬測(cè)試總線要求?！?、理解：模擬測(cè)試和測(cè)試總線的相關(guān)概念和具體要求?！?、了解：模擬電路可測(cè)試性和測(cè)試總線的具體實(shí)現(xiàn)方法。四、本課程與其它相關(guān)課程的聯(lián)系與分工在學(xué)習(xí)本課程之前，應(yīng)對(duì)數(shù)字集成電路、模擬集成電路和超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)有深入的
