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1、第四節(jié)堆焊層超聲波探傷一、堆焊層中常見缺陷1.堆焊金屬缺陷:氣孔、夾渣等。2.堆焊層與母材(基板)間的未熔合(未結(jié)合、或未貼合)。此缺陷取向:基本平行于母材表面。3.堆焊下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋。取向基本垂直于母材表面。二、堆焊層晶體結(jié)構(gòu)特點1.奧氏體晶粒組織晶粒粗大,柱狀結(jié)晶,晶間距離大2.超聲波探傷特點縱波比橫波在柱子狀方向衰減少,出現(xiàn)草狀回波少一些。三、探傷方法1.堆焊層內(nèi)缺陷檢測①探頭:1)縱波雙晶直探頭及雙晶斜探頭,2.5MHZ,K=2.75(β=75°),交點深度位于堆焊層與母材結(jié)合
2、部位,有效聲場覆蓋檢測區(qū)域。探頭面積≤325mm2,相當于Φ18×182)縱波斜探頭,2MHZ~5MHZ,K=1(β=45°)②試塊堆焊層側(cè)探測,T1試塊;反射體為Φ2、Φ3和Φ4平底孔,Φ1.5×40橫孔。母材側(cè)探測,T2試塊;反射體為Φ2、Φ3和Φ4平底孔。Φ1.5×40橫孔△試塊母材和堆焊層□材質(zhì)與工件相同或相近。③檢測靈敏度基準靈敏度:1)雙晶直探頭置T1試塊堆焊層表面,移動探頭使Φ3平底孔最大回波達80%滿幅。2)雙斜探頭置T2試塊堆焊層表面,移動探頭使Φ1.5mm長橫孔最大回波達80
3、%滿幅。3)縱波斜探頭,在試塊基板一側(cè)移動探頭使Φ1.5mm長橫孔最大回波達80%滿幅?!鲯卟殪`敏度比上述基準靈敏度高6dB。④掃查方式:探頭在工件堆焊層一側(cè)掃查時,雙晶探頭隔聲層平面應(yīng)平行于堆焊方向,且在堆焊方向和垂直于堆焊方向兩個互相垂直方向掃查。△焊道之間重合區(qū)、起弧、熄弧區(qū)應(yīng)重點檢查。⑤缺陷測量發(fā)現(xiàn)缺陷后用試塊比較當量大小,用6dB法測指示長度。⑥驗收標準按JB/T4730-2005評定:存在超過Ⅱ級或出現(xiàn)裂紋類等危害性缺陷評為Ⅲ級,評為不合格。2.堆焊層與母材間的未結(jié)合缺陷檢測①探頭:
4、縱波單晶直探頭或雙晶直探頭,f=2MHZ~5MHZ。②試塊:T3試塊。③檢測靈敏度1)單晶直探頭:探頭在T3試塊母材(基板)一側(cè)探傷使Φ10mm平底孔回波幅度為80%滿幅。2)雙晶直探頭,探頭在T3試塊堆焊層一側(cè)探傷使Φ10mm平底孔回波幅度為80%滿幅。掃查靈敏度在此基準靈敏度基礎(chǔ)提高6dB。④掃查方式縱波單晶直探頭在工件母材側(cè)掃查。縱波雙晶探頭在工件堆焊層側(cè)掃查。⑤缺陷測量發(fā)現(xiàn)缺陷用6dB法測長和面積。⑥驗收按JB/T4730-2005不允許存在缺陷直徑大于40mm未結(jié)合部位。缺陷直徑小于2
5、5mm的未結(jié)合區(qū)評為Ⅰ級,允許存在。缺陷直徑在25mm~40mm范圍內(nèi)的未結(jié)合區(qū)評為Ⅱ級,是否允許存在根據(jù)檢測委托確定。3.堆焊層下母材熱影響區(qū)再熱裂紋及堆焊層界面缺陷檢測。①用縱波雙晶直探頭和縱波斜探頭從堆焊層側(cè)檢測,以T1試塊調(diào)靈敏度。②用縱波斜探頭從母材側(cè)檢測,用T1長橫孔調(diào)靈敏度。③驗收:按JB/T4730-2005標準不允許存在超過Ⅱ級及發(fā)現(xiàn)裂紋等危害性缺陷。當用縱波雙晶斜探頭和縱波斜探頭發(fā)現(xiàn)當量小于Φ1.5mm-2dB缺陷,評為Ⅰ級,允許存在。當用縱波雙晶斜探頭和縱波斜探頭檢測發(fā)現(xiàn)Φ
6、1.5mm-2dB至Φ1.5mm+2dB缺陷,評為Ⅱ級,是否允許根據(jù)檢測委托確定。4.堆焊層厚度測定儀器:數(shù)字式雙晶探頭測厚儀試塊:探測:在堆焊層側(cè)測量校正儀器,工件上在堆焊層側(cè)測量。第五節(jié)奧氏體不銹鋼焊縫超聲波探傷一、組織特點奧氏體柱狀結(jié)晶,晶粒粗大,直徑0.1~0.5mm,長度最長達10mm。手工焊多道焊,焊縫中多處不均勻。超聲波傳播困難,出現(xiàn)林狀反射晶間反射。二、探測條件1.波型:縱波2.探頭:窄脈沖聚焦探頭,大晶片斜射縱波,斜探頭[單晶(檢測深度大的缺陷)和雙晶(檢測較淺的缺陷)縱波斜探
7、頭]。縱波折射角β2=45°必要時用60°或70°。3.頻率:(目的:提高信噪比)□2.5MHZ三、儀器調(diào)整和探測1.掃描線比例調(diào)節(jié)①借助直探頭調(diào)掃描線比例用普通探頭對準厚40mmⅡW2試塊大平底將B1和B2對準4格和8格。換上縱波斜探頭,將R50園弧波B1對準5格,即完成聲程1:1。②在不銹鋼焊縫專用試塊上利用不同深度橫孔直接將掃描線比例按深度或水平1:1調(diào)節(jié)。2.靈敏度對板厚T≤50mm的奧氏體不銹鋼焊縫,判廢線Φ2×30-4dB,定量線Φ2×30-12dB,評定線Φ2×50-18dB。3.
8、探測方式利用縱波斜射的一次波探測,因二次波探測將會產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換,對缺陷難于分辨。4.缺陷指示長度測量反射波高位于定量線及以上缺陷只有一個高點時用6dB法測指示長度,有多個高點時,用端點6dB法測指示長度。反射波高位于Ⅰ區(qū)的缺陷,以評定線靈敏度采用絕對靈敏度法測指示長度。5.缺陷評定相鄰兩缺陷小于較小缺陷長度作為一條缺陷處理,兩缺陷長度之和作為單個缺陷指示長度。條狀缺陷近似分布在一條直線上,以兩端點距離作為其間距,點狀缺陷以兩缺陷中心距離作為間距,指示長度小于10mm時按5mm計。經(jīng)評定,判斷為裂