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1、過套管電阻率測井解釋二0一0年八月一、概述二、過套管電阻率測井的地質應用三、過套管電阻率測井資料處理四、過套管電阻率測井資料解釋分析五、X井測井及解釋分析六、結論匯報內容過套管電阻率測井是一種電阻率測井方法，它實現(xiàn)了在套管內對套管外地層電阻率的測量，因具有比核測井更好的探測特性和動態(tài)探測范圍等優(yōu)勢，逐漸成為套管井看好的測井新技術，為解決儲層泥漿污染、發(fā)現(xiàn)遺漏油氣層、準確評價儲層含油性提供了有效技術手段，為在套管井中監(jiān)測剩余油飽和度開辟了一條新途徑。概述過套管電阻率測井和裸眼電阻率測井在物理上的顯著
2、區(qū)別是井眼套管本身就是一個巨大的導體。在鋼套管內絕大部分電流沿套管流到地面回路電極,而在鋼套管內壁以極低頻率流動的電流將鋼套管視為傳輸線,由于鋼套管周圍地層介質可視為導電介質,所以將有極小部分電流滲漏到地層,再流回到地面回路電極。通過檢測滲漏到地層中的這部分電流，就可以計算出地層電阻率。俄羅斯過套管電阻率測井原理俄羅斯過套管電阻率測井儀器適用條件設備用于確定直徑5或6in鋼套管后面的巖石電阻率，井深可達5000m，耐溫：-10－110℃，耐壓：100Mpa。適應于空井或填充任何洗井液的井。1、優(yōu)化
3、油藏管理措施：在油田開發(fā)中后期，在完井資料基礎上利用套后電阻率測井系列確定油水界面、劃分水淹層、計算剩余油飽和度，為油層產能接替、水淹狀況評價及剩余油分布規(guī)律研究提供技術手段，為區(qū)域開發(fā)方案調整提供可靠依據。2、尋找和評價漏失油氣層：對于老油田，由于技術發(fā)展水平落后或疏忽、漏判、錯判導致遺失的油氣層和多年開采后重新飽和的油氣層，利用套后電阻率測井系列與其它資料一起進行老井復查挖潛和重新評價。3、補充裸眼地層電阻率資料：由于井眼條件或其它因素導致不能進行裸眼井測井時，利用套管井測井技術可獲取與裸眼井
4、測井資料一樣的過套管地層電阻率并進行地層評價。過套管電阻率測井地質應用1、過套管電阻率測井資料與裸眼井測井資料深度匹配：在進行過套管電阻率測井之前，測量自然伽馬曲線和磁定位曲線，以裸眼井測井資料深度為基準，采用人工校深方法，將過套管電阻率曲線與裸眼井資料深度匹配。2、確定測井K因子，計算過套管電阻率：測井K因子的確定是獲得過套管電阻率數(shù)據的前提。過套管電阻率測井儀器自身沒有固定的K因子，要根據每口井的實際情況進行確定。方法是測量一段離目的層較近或在目的層段內的較厚的、井眼未垮塌的、電阻率比較穩(wěn)定的
5、泥巖層，將過套管電阻率資料與裸眼井資料深度匹配后，人工確定出適合本井的K因子，得到反映地層真實信息的過套管電阻率。3、繪制過套管電阻率測井曲線綜合圖：將經過預處理的過套管電阻率測井資料與裸眼井測井資料繪制成測井曲線綜合圖，進行資料解釋與評價。過套管電阻率測井資料處理1、過套管電阻率測井資料解釋標準：過套管電阻率大于或近似等于裸眼井電阻率：過套管電阻率與裸眼電阻率相當或略有升高，地層保持原始狀態(tài)或油運移所致，但應依據裸眼井解釋為油層、含水油層和油水同層，或在一次解釋中因疏忽、漏判、錯判而解釋為水層導
6、致遺失的油氣層，才能采取進一步增產措施。過套管電阻率小于裸眼井電阻率：過套管電阻率明顯低于裸眼井電阻率，或考慮地層水礦化度的影響，用油田提供的產出水礦化度計算剩余油飽和度，結合每口井的生產簡史，解釋水淹程度較高的層，建議采取措施進行封堵；而仍有較大的剩余油飽和度，即水淹程度較低的層，仍可能提高單井產能，建議采取措施求產。過套管電阻率測井資料解釋分析2、過套管電阻率測井資料定性解釋：油田初期注水一般采用淡水水驅方式，注入水礦化度小于地層水礦化度，油層水淹電阻率下降不明顯，利用自然電位變化特征定性解釋
7、水淹層，如自然電位基線偏移、自然電位偏頭等。油田開發(fā)中后期采用污水回注的方式注水，注入水礦化度接近地層水礦化度，但仍然小于地層水礦化度，自然電位受地層壓力等因素影響不能完全反映水淹特征，主要利用電阻率的變化解釋水淹層。過套管電阻率小于裸眼井電阻率，根據電阻率下降幅度的大小，解釋不同級別的水淹層。解釋水淹級別高的儲層，建議采取措施進行封堵；解釋水淹級別低的儲層，可能仍有一定的產油能力，建議采取措施求產。過套管電阻率高于裸眼井電阻率，應該是受水驅影響，油氣再次運移所至，可及時采取措施求產。過套管電阻率
8、測井資料解釋分析3、利用烴類衰竭指數(shù)定性解釋水淹層：衰竭指數(shù)=SWoh/SWecos=（Recos/Roh）1/2Roh——裸眼井時的地層電阻率；Recos——套管井條件下得到的地層電阻率；SWoh——裸眼井時的含水飽和度；SWecos——套管井條件下含水飽和度。衰竭指數(shù)一般在0～1之間變化。衰竭指數(shù)越低，說明油層水淹程度越高，這種方法的優(yōu)點是不需要知道地層孔隙度的大小，但必須假定地層水礦化度相同。過套管電阻率測井資料解釋分析X井單層分析第37層：該層套后地層電阻率明顯低于套前電阻
