saki AOI 新SAKI入門(mén)指南

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1、制作:劉海明審核:王建先生核準(zhǔn):林世強(qiáng)先生入門(mén)指南SAKIAOISAKIAOI程式的編制SAKIAOI算法簡(jiǎn)介機(jī)器的驗(yàn)收與維護(hù)保養(yǎng)AOI技術(shù)員的工作職責(zé)1234INDEXAOI的算法AOI的認(rèn)識(shí)ⅠⅡSAKIAOI算法簡(jiǎn)介返回目錄機(jī)器的認(rèn)識(shí)返回目錄氣閥門(mén)和氣壓表顯示器信號(hào)燈鍵盤(pán),鼠標(biāo)復(fù)位開(kāi)關(guān)緊急制動(dòng)開(kāi)關(guān)電源主開(kāi)關(guān)微機(jī)箱電源箱運(yùn)輸軌道SAKIAOI外觀斷路器AOI:AutomaticOpticalInspection檢出不良品,反饋生產(chǎn)數(shù)據(jù),逐步取代人工目檢,加速生產(chǎn)自動(dòng)化.可檢查內(nèi)容:漏料、偏移、極性、短路、反面、墓碑、側(cè)

2、立、假焊、少錫、氧化等外觀不良.AOI在自動(dòng)生產(chǎn)線的位置及作用印刷機(jī)高速貼片機(jī)中速貼片機(jī)迴流爐AOI目檢區(qū)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)TOPLight使用頂部(90度)光源照明(形成黑白/二進(jìn)制圖像)SIDELight使用側(cè)面(90度和45度)光源照明(形成彩色圖像)PCBAAOI的光源AOI的光學(xué)原理頂部光源燈箱結(jié)構(gòu)側(cè)面光源TOPLight圖像當(dāng)錫點(diǎn)較好時(shí)將沒(méi)有反射光線反射到CCD,錫點(diǎn)的圖像較黑.當(dāng)錫點(diǎn)較差時(shí)將有一部分反射光線反射到CCD,錫點(diǎn)的圖像有一部分較亮.TOPLight的燈光示意圖錫點(diǎn)良好錫點(diǎn)假焊入射光線(90度直射)反射

3、光線TopLight入射光線(90和45度)反射光線錫點(diǎn)良好錫點(diǎn)假焊SideLight圖像錫點(diǎn)良好時(shí)SideLight照射下的錫點(diǎn)圖像在沒(méi)料時(shí)SideLight照射下的錫點(diǎn)圖像SideLight通過(guò)燈箱照射PCBA得到元件的圖片信息通過(guò)三組折射鏡片將圖片信息反射到CCD由CCD收錄的圖片將自動(dòng)存入電腦內(nèi)存中BF軟件通過(guò)對(duì)圖片的分析處理完成對(duì)PCBA元件的檢測(cè)判斷成像模型PCBA圖片SAKIAOI機(jī)器基本原理:AOI檢測(cè)原理(算法)返回目錄<>算法原理:這個(gè)算法可以獲得窗口內(nèi)亮區(qū)域的面積占整個(gè)窗口

4、面積的百分比.所謂亮區(qū)域的亮度範(fàn)圍根據(jù)具體情況設(shè)定.計(jì)算檢測(cè)窗口內(nèi)給定灰度值占整個(gè)窗口的百分比.亮度值范圍0255亮度值:是用來(lái)描述二進(jìn)制圖像的明暗程度.它將亮度值分成255種不同的明暗程度.0表示最暗的亮度值,255表示最亮的亮度值.有物料時(shí)檢測(cè)窗口內(nèi)的錫點(diǎn)有一定的上錫坡度,根據(jù)AOI的TopLight的光學(xué)原理,此時(shí)的亮度值趨向于0無(wú)物料時(shí)檢測(cè)窗口內(nèi)的錫點(diǎn)沒(méi)法形成較好的上錫坡度,根據(jù)AOI的TopLight的光學(xué)原理,此時(shí)的亮度值趨向于255"Sample"value=S1/S2x100[%]參數(shù)設(shè)置:應(yīng)用實(shí)例:應(yīng)用

5、于Chip料中,可測(cè)出Chip料是否少錫.假焊.無(wú)錫等不良OKNG使用此算法檢測(cè)錫點(diǎn)時(shí)一般使用Toplight的照明方式使用0-100的設(shè)置表示尋找較暗的亮度值OkRange的Lower設(shè)置一般不能低于70該算法可以在Sidelight下尋找較白的灰度值(200/220-255),OKRange一般為0-35;還可以在Toplight下尋找(100/120-255)之間的灰度值,OKRange一般為0-20.算法原理:獲得檢測(cè)窗口內(nèi)的亮度梯度.窗口內(nèi)各像素沿著長(zhǎng)邊方向的亮度差就是”Distribution”.”Width

6、”值是用來(lái)屏蔽掉窗口內(nèi)灰塵或其它瑕疵的檢測(cè)結(jié)果的影響,灰塵或其它瑕疵會(huì)給亮度值起很大的干擾並影響我們的檢測(cè)結(jié)果的精準(zhǔn).當(dāng)檢測(cè)窗口內(nèi)有一強(qiáng)光束橫穿整個(gè)窗口時(shí),Sample值會(huì)很大.檢測(cè)窗口的像素的灰度值分布圖檢測(cè)窗口內(nèi)的像素分布檢測(cè)窗口外的像素分布(僅僅是超過(guò)檢測(cè)窗口的一排的像素)由于雜物等影響而使圖像受到干擾從而使該點(diǎn)的像素值異常,在下一步的處理之後可有效的降低這種干擾.選取每列的最大值和最小值,最後得出兩行數(shù)據(jù)將最大值減去最小值,再將相鄰三個(gè)數(shù)值進(jìn)行平均得出最後一行數(shù)據(jù),然後選取最小一個(gè)數(shù)值作為“Sample”值計(jì)算S

7、ample值的詳細(xì)過(guò)程ICBridge根據(jù)右邊Sample的計(jì)算原理IC腳未短路時(shí)Sample值較低根據(jù)右邊Sample的計(jì)算原理IC腳短路時(shí)Sample值較高<>參數(shù)設(shè)置:應(yīng)用實(shí)例1:在IC元件中的應(yīng)用,可測(cè)出IC腳短路﹑移位等不良.參數(shù)設(shè)置如下:OKNGOkRange的設(shè)置不適宜太大,一般為0至80之間;燈光的選擇必須可以完整地看清楚整個(gè)IC引腳此參數(shù)一般設(shè)為2應(yīng)用實(shí)例2:在Chip料中的應(yīng)用,可測(cè)出移位不良.參數(shù)設(shè)置如下:適當(dāng)?shù)脑O(shè)置此參數(shù)可有效的降低由髒物帶來(lái)的干擾,一般設(shè)為2OKNGO

8、KRange的設(shè)置由物料及其周邊的環(huán)境來(lái)決定此算法的OKRange由燈光和具體環(huán)境決定,選用的燈光必須能夠清楚地看到元件白色金屬端;在TopLight下最大一般給定為80/100;在SideLight下最大一般給定為100/120.算法原理:此算法可計(jì)算出窗口內(nèi)最高亮度與最低亮度之間的差值.參數(shù)”AveragingX