粉體粒度與研磨技術(shù)

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1、第6卷第4期中國粉體技術(shù)Vol16No142000年8月ChinaPowderScienceandTechnologyAugust2000粉體粒度與研磨技術(shù)王云,陳寧(淄博賽德克陶瓷顏料有限公司,山東淄博255129)摘要:概括介紹了最常見的幾種粉體粒度的測試方法,初粒度測試方法和儀器的選擇則必須要根據(jù)粉體粒度步探討了在超細(xì)粉碎過程中的逆研磨問題以及研磨條件(分范圍、材質(zhì)、顆粒形態(tài)及測試目的的不同要求來確散介質(zhì)、分散劑)對研磨效率的影響。定。本文對常用的幾種粒度測試方法做一簡單介關(guān)鍵詞粉體;粒度;逆研磨;研

2、磨平衡紹,供從事粉體工作的技術(shù)人員參考。中圖分類號:O764,TD453文獻(xiàn)標(biāo)識碼:B1.2.1篩分法文章編號:1008-5548(2000)04-0013-04篩分法是采用一系列不同篩孔大小的標(biāo)準(zhǔn)篩,將粉體試樣分成若干級別后,分別稱重,得到以質(zhì)量眾所周知,粉體作為一種工業(yè)用原料和人們?nèi)辗謹(jǐn)?shù)表示的粒度分布。該方法的特點(diǎn)是:(1)成本常生活中的必需品,已越來越廣泛地應(yīng)用于冶金、化低,操作簡單,但重現(xiàn)性差;(2)不能對粘結(jié)和團(tuán)聚性工、陶瓷、顏料、染料、造紙、食品、醫(yī)藥、化妝品等行強(qiáng)的物料進(jìn)行篩分;(3)只適用于

3、大顆粒(大于業(yè)。粒度是粉體的一項(xiàng)重要的物理指標(biāo)。隨著科學(xué)40Lm)的測定。在實(shí)際生產(chǎn)中,一般適用于原料的技術(shù)和粉體工程學(xué)的日益發(fā)展,人類與粉體的關(guān)系分選及細(xì)粉碎前的預(yù)處理。也越來越密切,因而粉體粒度的測試、超細(xì)粉碎及分1.2.2顯微鏡法級等技術(shù)正在日新月異。本文介紹了最常見的幾種該方法是唯一一種直觀的測試方法,采用的儀粒度測試方法,供生產(chǎn)及科研工作者在進(jìn)行方法和器有電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡。由于采用電子顯微儀器的選擇時(shí)做參考。本文也對超細(xì)粉碎過程中出鏡測試,樣品的制備很復(fù)雜、耗費(fèi)時(shí)間長、范圍窄、儀現(xiàn)的逆研磨現(xiàn)

4、象進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)探討。器貴,故不適用于實(shí)際生產(chǎn)的需要,在此不做贅述。1粉體粒度光學(xué)顯微鏡法通常是使用目鏡上帶有測微尺或方格網(wǎng)的偏光顯微鏡來進(jìn)行。所得到的粒度分布是以面1.1粒度測試的重要性積分?jǐn)?shù)來表示的。顆粒大小即粒度的確定,在科學(xué)研究和實(shí)際生其特點(diǎn)是:(1)直觀,可以直接觀察顆粒的形態(tài)產(chǎn)中有著普遍性的重要意義,在陶瓷行業(yè)也不例外。并測量其大小,還可以直接判斷粉體樣品的分散程粉體的顆粒特性對粉體技術(shù)、工藝控制和產(chǎn)品質(zhì)量度;(2)利用正交偏光,還可對混合物中的某些礦物起著非常重要的作用。粉體的顆粒特性包括粒度、有

5、選擇性地進(jìn)行測定,如陶瓷泥漿中的石英、陶瓷色粒度分布、顆粒形狀、孔隙度、比表面積等,其中粒度料中的某些礦物等;(3)由于是唯一一種直觀的測試及粒度分布是粉體最重要的特性。因此,把粉體粒方法,故可用于標(biāo)定其它方法,且測試費(fèi)用低;(4)所度及粒度分布的測試作為保證產(chǎn)品質(zhì)量和開發(fā)新產(chǎn)用樣品極少,因而代表性較差;(5)這是一項(xiàng)經(jīng)驗(yàn)性品的重要手段早已成為人們的共識。很強(qiáng)的工作,因此對測試人員的要求較高;(6)該法1.2粒度測試方法簡介適用于粒度范圍在1~850Lm的測試,可用于生產(chǎn)由于粒度可大至厘米,小至微米、亞微米

6、甚至納控制和對粒度分布的測量精度要求不太高的場合。米數(shù)量級,而且顆粒的形狀、分布、表面性質(zhì)及凝聚1.2.3沉降法性質(zhì)等方面存在著很大的差異,因而難以用一種方沉降法系根據(jù)不同大小的顆粒在力場中沉降速法來實(shí)現(xiàn)粒度的測試?？茖W(xué)技術(shù)的發(fā)展為粒度和粒度不同這一原理而研制的粒度分析儀器。該方法分度分布的測試提供了各種各樣的方法和儀器,而對重力沉降和離心沉降兩大類。(1)重力沉降法收稿日期:1999-11-30將粉體試樣在介質(zhì)中分散處理后,置于重力場14#PowderPreparation#ChinaPowderScie

7、nceandTechnology2000No14中,自由沉降。根據(jù)Stokes沉降原理,顆粒在介質(zhì)新一代粒度分析儀0。中的沉降速度與其粒徑的平方成正比這一原理進(jìn)行激光粒度儀是根據(jù)Frannhoffer衍射和Mie散計(jì)算。這類儀器也稱為沉降天平。其特點(diǎn)是:成本射理論研制而成的。根據(jù)衍射角與粒度成反比的原低,操作簡單。但由于是僅依靠重力沉降,故測微細(xì)理,再通過對衍射光強(qiáng)度及衍射角的測量加以計(jì)算顆粒時(shí),測量時(shí)間過長。即可確定被測樣品的粒度分布情況。所得到的粒度(2)離心沉降法分布是由質(zhì)量分?jǐn)?shù)來表示的。對于微細(xì)顆粒

8、,為了彌補(bǔ)重力沉降的不足而加其特點(diǎn)是:(1)測試速度快,自動化程度高,應(yīng)用上一個(gè)離心力場,使試樣高速旋轉(zhuǎn),因此大大加快了范圍廣;(2)測試結(jié)果不受人為因素干擾,具有良好試樣的沉降速度,縮短了測試時(shí)間。測量下限可由的重現(xiàn)性;(3)適用于粒度范圍在0.1~500Lm的測2Lm減至0.1Lm甚至更小。試。但經(jīng)與其它方法的測試結(jié)果比較,相對來說,對沉降法中有個(gè)非?，F(xiàn)實(shí)的問題,即必須知道試于粒度分布在0.1~500Lm的微