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《2009高考物理電學(xué)實(shí)驗(yàn)復(fù)習(xí)系列5電阻定律課件》由會(huì)員上傳分享,免費(fèi)在線閱讀,更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。
1、電學(xué)實(shí)驗(yàn)復(fù)習(xí)(五)電阻定律與長(zhǎng)度有關(guān)與橫截面積有關(guān)與材料有關(guān)一、探究電阻與其影響因素的定量關(guān)系1、明確目的:探究電阻與導(dǎo)體的材料、橫截面積、長(zhǎng)度之間的關(guān)系。2、實(shí)驗(yàn)方法:控制變量法。材料、長(zhǎng)度一定:AB材料、橫截面積一定:CA長(zhǎng)度、橫截面積一定:AD實(shí)驗(yàn)探究電路圖(一)1、結(jié)論:導(dǎo)體的電阻跟長(zhǎng)度成正比,跟橫截面積成反比,還跟材料有關(guān)2、適用條件:溫度一定,粗細(xì)均勻的金屬導(dǎo)體,或濃度均勻的電解質(zhì)溶液。實(shí)驗(yàn)電路圖實(shí)驗(yàn)探究電路圖(二)理論探究和驗(yàn)證電阻串聯(lián)電阻并聯(lián)R∝L二、測(cè)定金屬的電阻率1、實(shí)驗(yàn)原理:2、電阻、長(zhǎng)
2、度、橫截面積的測(cè)量方法橫截面積:繞制線圈或用螺旋測(cè)微器測(cè)出直徑(要求多次測(cè)量取平均值)長(zhǎng)度測(cè)量:刻度尺。電阻測(cè)量:(伏安法)或(一)螺旋測(cè)微器的讀數(shù)固定刻度示數(shù)+可動(dòng)刻度示數(shù)×精確度例、2.0mm+16.4×0.01mm=2.164mm.1.(1)為了準(zhǔn)確測(cè)量導(dǎo)線直徑d與長(zhǎng)度L,應(yīng)多次測(cè)量取平均值.(2)由于被測(cè)導(dǎo)線電阻較小,測(cè)量電路應(yīng)選用電流表外接,且測(cè)電阻時(shí),電流不宜過大,通電時(shí)間不宜太長(zhǎng).(3)為準(zhǔn)確求出R平均值,應(yīng)采用U-I圖象法求電阻.(4)對(duì)螺旋測(cè)微器讀數(shù)時(shí),毫米的整數(shù)部分由固定刻度讀出,并
3、且注意半毫米刻度線是否露出.2.實(shí)驗(yàn)誤差的來源與分析來源:(1)直徑測(cè)量;(2)長(zhǎng)度測(cè)量;(3)測(cè)量電路中電流表及電壓表對(duì)電阻測(cè)量的影響;(4)通電電流大小,時(shí)間長(zhǎng)短,致使電阻絲發(fā)熱,電阻率隨之變化.(5)由于本實(shí)驗(yàn)采用電流表外接法,所以R測(cè)4、、阻值為0~1kΩ,額定電流為0.5A的滑動(dòng)變阻器;F、阻值為0~10Ω,額定電流為2A的滑動(dòng)變阻器;G、蓄電池(6V);H、開關(guān)一個(gè),導(dǎo)線若干;(1)選用的器材有(填代號(hào))(2)畫出測(cè)上述電阻絲電阻的電路圖。ACFGH(08江蘇卷)某同學(xué)經(jīng)實(shí)驗(yàn)測(cè)量及相關(guān)計(jì)算得到如下數(shù)據(jù):電阻R(Ω)121.O50.O23.9IO.O3.1導(dǎo)線直徑d(mm)O.80l0.9991.20l1.4941.998導(dǎo)線截面積S(mm2)O.5040.7841.1331.7533.135(1)請(qǐng)你根據(jù)以上數(shù)據(jù)判斷,該種導(dǎo)線的電阻R與截
5、面積S是否滿足反比關(guān)系?若滿足反比關(guān)系,請(qǐng)說明理由;若不滿足,請(qǐng)寫出R與S應(yīng)滿足的關(guān)系.(2)若導(dǎo)線的電阻率ρ=5.1×10-7Ω·m,則表中阻值為3.1Ω的導(dǎo)線長(zhǎng)度L=m(結(jié)果保留兩位有效數(shù)字)答案:(1)不滿足,R與S2成反比(或RS2=常量)(2)19【例1】如右圖所示,P是一根表面均勻地鍍有很薄的發(fā)熱電阻膜的長(zhǎng)陶瓷管(其長(zhǎng)度L為50cm左右,直徑D為10cm左右),膜的電阻率為ρ,管的兩端有導(dǎo)電箍M、N,現(xiàn)給你米尺,電壓表V,電流表A,電源E,滑動(dòng)變阻器R,開關(guān)S和若干導(dǎo)線,請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)定膜層厚度d的
6、實(shí)驗(yàn)方案.(1)實(shí)驗(yàn)中應(yīng)測(cè)量的物理量:.(2)在下面的虛線框內(nèi)畫出測(cè)量電路圖.(3)計(jì)算膜層厚度的公式是.(4)誤差分析.