淺談綜合物探方法的選擇和應(yīng)用

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1、淺談綜合物探方法的選擇和應(yīng)用摘要：在地質(zhì)找礦程度越來(lái)越高的今天，隱伏礦床尋找的難度越來(lái)越人，綜合物探方法的應(yīng)用更顯出其迫切性。常規(guī)物探方法很多，比如：電阻率中間梯度法，口然電位法，激發(fā)極化法，重力法，磁法及瞬變電磁法等等，有效綜合應(yīng)用，獲得物探綜合異常，通過(guò)分析異常地質(zhì)成因，總結(jié)岀致礦異常標(biāo)志，從而提出成礦預(yù)測(cè)靶區(qū)，為深部地質(zhì)找礦服務(wù)。關(guān)鍵詞：物探找礦；方法應(yīng)用；成礦分析中圖分類(lèi)號(hào)：0741+.2文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A文章編號(hào)：1應(yīng)用物探方法前堤條件物探方法找礦就是通過(guò)測(cè)量地下巖（礦）石物性差異,推斷巖（礦）石在地下的賦存位置、范圍大小以及產(chǎn)狀,從而達(dá)到間接找礦的日的。表現(xiàn)

2、圍巖、礦體的物性參數(shù)有電阻率、極化率、磁化強(qiáng)度、密度等。它們的數(shù)值大小可以通過(guò)對(duì)巖（礦）石標(biāo)本（露頭）測(cè)量或鉆孔井壁測(cè)井取得。圍巖與礦體之間物性差異越大，應(yīng)用物探找礦越有效。表1屮，統(tǒng)計(jì)出某物探測(cè)區(qū)部分巖（礦）石物性特征，顯示出巖（礦）石各項(xiàng)物性參數(shù)的羌杲：表1某礦區(qū)物性參數(shù)統(tǒng)計(jì)表1.1電阻率參數(shù)差異圍巖比如角礫巖、白云質(zhì)灰?guī)r及黑云母花崗巖等，電阻率為1000?10000Q?m,頁(yè)巖、泥灰?guī)r電阻率為100~1000Q?m,而鐵閃鋅礦石電阻率僅為100Q?in左右，與圍巖電阻率差異明顯。1.2極化率參數(shù)差界泥灰?guī)r、黑云母花崗巖等，極化率均小于3?5%,礦石極化率依其導(dǎo)

3、電物質(zhì)含量變化、結(jié)構(gòu)不同差異較大，但一般只要是致密狀礦石，極化率都較高，與闈巖的極化率差異也比較明顯。1.3磁性差異黑云母花崗巖、泥灰?guī)r和頁(yè)巖的磁化強(qiáng)度都較弱，與礦石有十倍以上差異，是區(qū)分圍巖與礦體的重要指標(biāo)。1.4密度差異礦石密度值較高，與黑云花崗巖等I韋I巖存在0.77g/cm3的密度差，是有效區(qū)分圍巖與礦體的重要指標(biāo)；花崗巖密度很低，形成低密度異常，又為區(qū)分花崗巖與巖層接觸帶位置，尋找賦礦部位提供依據(jù)。2物探方法應(yīng)用2.1某1鋅礦綜合物探找礦應(yīng)用該區(qū)地層為上三疊系的砂頁(yè)巖、白云巖、灰?guī)r及凝灰?guī)r，巖體附近的砂頁(yè)巖已變質(zhì)為角礫巖。巖漿巖類(lèi)型為黑云母花崗巖、花崗斑巖

4、等。本區(qū)巖石露頭較少，浮土覆蓋范圍較廣，厚度約5?10m不等，地形起伏不大。附近民窿揭露出巖體兩側(cè)接觸帶，局部形成致密塊狀鋅礦體（脈）。為了尋找?guī)r體賦礦接觸帶，了解測(cè)區(qū)淺部地質(zhì)分布特征，先投入視電阻率中間梯度法、自然電位法和激發(fā)極化法，圈定出平面上物探界常分布規(guī)律。然后,選取綜合異常清晰、異常幅度大的剖面線(xiàn)作為精測(cè)剖面，應(yīng)用TEM法，圈出測(cè)區(qū)中深部范用物性特征，并半定量解析地質(zhì)體產(chǎn)狀、埋藏深度及頂部寬度等。圖1是測(cè)區(qū)中梯視電阻率界常平面圖。供電極距AX3600ni，測(cè)量極距MN=20m,測(cè)量范圍區(qū)約為供電距AB中部1/3范圍。圖1可見(jiàn)視電阻率平面剖面圖中出現(xiàn)兩個(gè)低阻

5、帶Ml和M2,Ml低阻帶近南北向分布，10?50號(hào)線(xiàn)剖面中MI的視電阻率最小數(shù)值在300?500Q?m,異常1/2寬度約為15m左右，反映淺部地質(zhì)體呈低視電阻率現(xiàn)象，近南北向帶狀分布；M2異常帶沿北西向分布，視電阻率最小數(shù)值在350-500Q-m,反映淺部地質(zhì)體呈低視電阻率現(xiàn)象，成北西向帶狀分布。具體地質(zhì)體分布情況如圖4所zjlO圖1屮間梯度視電阻率平面剖面圖圖2是自然電位法平面剖面圖。自然電位U異常分布特征與視電阻率中梯法的視電阻率形態(tài)特征大致相似，出現(xiàn)兩個(gè)低峰值負(fù)電位異常帶，電位幅值在-220—280mV之間，低電位異常反映淺部地質(zhì)體具良導(dǎo)電性，?且成帶狀分布。

6、圖2自然電位平面剖面圖圖3綜合物探精測(cè)剖面（30號(hào)線(xiàn)）反映出測(cè)區(qū)物探異常突出、清晰、明顯，峰值較高，異常穩(wěn)定，趨勢(shì)性好，綜合異常一致性較強(qiáng)。中間梯度視電阻率剖面：視電阻率Ps在300號(hào)點(diǎn)和在1050號(hào)點(diǎn)附近均呈低阻，最小值分別為：450Q?iii和350Q-m,異常清晰明顯。1-第四系浮土；2-鋅礦（化）體；3-白石質(zhì)灰?guī)r；4-角礫巖：5-黑石母花崗巖圖3北流XX鋅礦30號(hào)線(xiàn)綜合地質(zhì)剖面圖自然電位剖面：在300號(hào)點(diǎn)和1050號(hào)點(diǎn)附近均呈負(fù)電位，最低值分別為：-260mV和-250mV,異常清晰穩(wěn)定。激電異常視極化率剖面；在300號(hào)點(diǎn)和1050號(hào)點(diǎn)附近均呈高極化率異常

7、,異常峰值分別為:15.5%和14.5%,異常清晰穩(wěn)定。瞬變電磁法TEM剖面：有多個(gè)斷面電阻異常段，200號(hào)點(diǎn)和620號(hào)點(diǎn)為視電阻率低阻異常段，異常低值小于50Q?m；250號(hào)點(diǎn)和500號(hào)點(diǎn)為視電阻率高阻段，異常高值大于400Q?in。低阻異常反映地下可能存在鋅礦（化）體等良導(dǎo)地質(zhì)體，高阻異常則可能反映巖體和圍巖等高阻地質(zhì)體；斷面異常趨勢(shì)走向可以初步判斷地質(zhì)體的人致走向，為進(jìn)一步了解中深部地質(zhì)體分布特征提供重要指示。綜上所述，并結(jié)合本區(qū)物性特征，推測(cè)在300號(hào)點(diǎn)附近和1050號(hào)點(diǎn)附近獲得的物探綜合異常（低阻、低電位，高極化率和低電阻斷面）段的中深部，可能存在較好