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《項(xiàng)目測(cè)試報(bào)告模板v.(通用模板)(精品)》由會(huì)員上傳分享,免費(fèi)在線閱讀,更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫(kù)。
1、.模板版本號(hào)V1.0模板編號(hào)安全級(jí)別限公司內(nèi)部使用項(xiàng)目測(cè)試報(bào)告..修訂歷史記錄注:改版說明中填寫C-創(chuàng)建,A-追加,M-修改,D-刪除,R-評(píng)審(如果是評(píng)審,請(qǐng)?jiān)趥渥谧⒚鳎欠衽鷾?zhǔn)發(fā)布)版本改版日期改版說明*作者備注(是否批準(zhǔn))1.02014-07-01C創(chuàng)建xxx..目錄1概述41.1目的41.2背景說明41.3術(shù)語(yǔ)及縮寫詞41.4參考資料42測(cè)試概要42.1測(cè)試差異說明42.2測(cè)試方法和工具43測(cè)試執(zhí)行53.1測(cè)試執(zhí)行過程概述53.2測(cè)試質(zhì)量綜合分析54測(cè)試結(jié)果及缺陷分析54.1缺陷統(tǒng)計(jì)54.1.1缺陷嚴(yán)重等級(jí)分類統(tǒng)計(jì)54.1.2缺陷狀態(tài)分類(fo
2、und、fixed、closed)總數(shù)-時(shí)間變化曲線圖54.1.3缺陷類型分類統(tǒng)計(jì)64.1.4不同嚴(yán)重等級(jí)缺陷在模塊中分布統(tǒng)計(jì)64.1.5不同模塊在不同測(cè)試階段(即不同階段版本)缺陷統(tǒng)計(jì)[可選]64.2重要缺陷摘要64.3遺留問題65測(cè)試分析與結(jié)論65.1測(cè)試結(jié)論65.2建議6..1概述1.1目的本測(cè)試報(bào)告為xxx(項(xiàng)目名稱)的測(cè)試報(bào)告,目的在于總結(jié)測(cè)試階段的測(cè)試以及分析測(cè)試結(jié)果,描述系統(tǒng)是否符合業(yè)務(wù)方需求。預(yù)期參考人員包括業(yè)務(wù)方、測(cè)試工程師、軟件工程師、項(xiàng)目經(jīng)理和需要閱讀本報(bào)告的高層經(jīng)理。1.2背景說明請(qǐng)描述測(cè)試報(bào)告所屬的項(xiàng)目名稱、開發(fā)項(xiàng)目功能概要介紹
3、、說明制訂該測(cè)試報(bào)告之前必須完成的各項(xiàng)工作。1.3術(shù)語(yǔ)及縮寫詞術(shù)語(yǔ)、縮寫解釋1.4參考資料請(qǐng)列出要用到的參考資料序號(hào)文檔名稱文檔編號(hào)作者發(fā)布日期備注2測(cè)試概要2.1測(cè)試差異說明2.2測(cè)試方法和工具主要是黑盒測(cè)試,測(cè)試方法可以寫上測(cè)試的重點(diǎn)和采用的測(cè)試方法,這樣可以一目了然的知道是否遺漏了重要的測(cè)試點(diǎn)和關(guān)鍵塊。3測(cè)試執(zhí)行3.1測(cè)試執(zhí)行過程概述項(xiàng)目各階段版本發(fā)布與測(cè)試說明。說明開發(fā)步驟與測(cè)試步驟活動(dòng),包括不同階段開發(fā)發(fā)布的版本,回歸測(cè)試次數(shù),回歸測(cè)試與開發(fā)的同步情況,測(cè)試變更情況說明。..1.1測(cè)試質(zhì)量綜合分析需求總數(shù)10覆蓋的需求數(shù)10測(cè)試用例總數(shù)176執(zhí)
4、行測(cè)試用時(shí)240缺陷總數(shù)115已解決的缺陷數(shù)106測(cè)試覆蓋率=覆蓋的需求數(shù)/需求總數(shù)×100%=100%用例執(zhí)行率=執(zhí)行的測(cè)試用例數(shù)/測(cè)試用例總數(shù)×100%=100%用例通過率=測(cè)試用例通過數(shù)/測(cè)試用例總數(shù)×100%=100%用例發(fā)現(xiàn)問題率=缺陷總數(shù)/測(cè)試用例總數(shù)=0.65測(cè)試效率=缺陷總數(shù)/執(zhí)行測(cè)試用時(shí)=0.48缺陷解決率=已解決的缺陷數(shù)/缺陷總數(shù)×100%=92.17%2測(cè)試結(jié)果及缺陷分析這部分主要匯總各種數(shù)據(jù)并進(jìn)行度量,度量包括對(duì)軟件產(chǎn)品的質(zhì)量度量和產(chǎn)品評(píng)估、對(duì)測(cè)試過程的度量和能力評(píng)估。缺陷統(tǒng)計(jì)主要涉及到被測(cè)系統(tǒng)的質(zhì)量,因此,這部分成為軟件工程師、
5、質(zhì)量人員重點(diǎn)關(guān)注的部分。2.1缺陷統(tǒng)計(jì)2.1.1缺陷嚴(yán)重等級(jí)分類統(tǒng)計(jì)..分析:1.1.1缺陷類型分類統(tǒng)計(jì)分析:..1.1.1不同嚴(yán)重等級(jí)缺陷在模塊中分布統(tǒng)計(jì)分析:1.2重要缺陷摘要缺陷編號(hào)簡(jiǎn)要描述分析結(jié)果備注1.3遺留問題缺陷編號(hào)簡(jiǎn)要描述解決措施和說明備注2測(cè)試分析與結(jié)論2.1測(cè)試結(jié)論1.測(cè)試執(zhí)行是否充分(可以增加對(duì)安全性、可靠性、可維護(hù)性和功能性描述)..2.對(duì)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)的控制措施和成效3.測(cè)試目標(biāo)是否完成4.測(cè)試是否通過5.是否可以進(jìn)入下一階段項(xiàng)目目標(biāo)6.若項(xiàng)目定義了多輪次的測(cè)試,則應(yīng)記錄每一輪次的測(cè)試結(jié)果,并判斷是否可進(jìn)入下一輪次的測(cè)試。1.1建議1
6、.對(duì)系統(tǒng)存在問題的說明,描述測(cè)試所發(fā)現(xiàn)的缺陷和遺留的一些問題可能在項(xiàng)目交付實(shí)施和運(yùn)行帶來的影響;2.可能存在的潛在缺陷和后續(xù)工作;3.對(duì)缺陷修改和設(shè)計(jì)的建議;4.對(duì)測(cè)試管理過程的改進(jìn)建議。單純的課本內(nèi)容,并不能滿足學(xué)生的需要,通過補(bǔ)充,達(dá)到內(nèi)容的完善教育之通病是教用腦的人不用手,不教用手的人用腦,所以一無所能。教育革命的對(duì)策是手腦聯(lián)盟,結(jié)果是手與腦的力量都可以大到不可思議。.