基線平直度

基線平直度

ID:47478453

大?。?1.50 KB

頁數(shù):5頁

時間:2020-01-11

基線平直度_第1頁
基線平直度_第2頁
基線平直度_第3頁
基線平直度_第4頁
基線平直度_第5頁
資源描述:

《基線平直度》由會員上傳分享,免費在線閱讀,更多相關內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。

1、一、基線平直度的重要性(對分析測試誤差的影響)如第四節(jié)所述,紫外可見分光光度計的光度噪聲直接影響儀器的信噪比,它是限制分析檢測濃度下限的主要因素。目前,各國紫外可見分光光度計的生產(chǎn)廠商,給出的整機光度噪聲都是指儀器在500nm處的光度噪聲(稱之為整機的光度噪聲),主要用于比較不同儀器的優(yōu)劣。而紫外可見分光光度計的使用者往往要在不同波長上使用,特別要在紫外區(qū)使用。所以,只給出500nm處的整機光度噪聲,不能滿足使用者的要求。因此,提出了基線平直度的概念。紫外可見分光光度計的基線平直度是指每個波長上的光度噪聲,它是用戶最關心的技術指標之一。它是紫外可見分光光度計各個波長上主要分

2、析誤差的來源之一。它決定紫外可見分光光度計在各個波長下的分析檢測濃度的下限。但是很可惜,目前很多儀器制造者、使用者都還沒有認識到或還沒有重視基線平直度這個技術指標。二、基線平直度的測試方法目前,國際上對紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法一般是冷態(tài)開機,預熱0.5h后,試樣和參比比色皿都為空氣,光譜帶寬SBW=2nm,吸光度值為0Abs,從長波向短波方向對儀器進行全波長慢速(或中速)掃描。而后,在全波長范圍內(nèi),找出峰-峰(P-P)值中最大的一點,作為該儀器的基線平直度。但是目前,國際上有許多科技工作者不注意這個問題。如日本某紫外可見分光光度計,給出的儀器波長范圍是190

3、~900nm,給出的基線平直度BF為±0.001Abs。但是筆者經(jīng)測試后發(fā)現(xiàn)該儀器的基線平直度只能在200~800nm內(nèi)才能保證為±0.001Abs。這就意味著該儀器能保證基線平直度為±0.001Abs的使用波長范圍只能是200~800nm,這種給基線平直度的方法是不對的。它既偏離了基線平直度的定義(每個波長上的噪聲),又會誤導使用者,認為該儀器在190~900nm都能達到光度噪聲為±0.001Abs。特別值得注意的是,還有的公司把基線平直度和基線漂移混為一談。如國外的某公司,對某紫外可見分光光度計給出了“基線漂移為±0.002Abs(200~950nm)”和“基線漂移為N

4、/A”的技術指標。顯然,這里的“基線漂移”指的是基線平直度。而該儀器的波長范圍為190~1100nm,但對波長范圍為190~1100nm的儀器,只給出200~950nm的基線平直度是不合理的。尤其對某儀器給出的“基線漂移為N/A”,這種給法更是莫名其妙。另外,該公司又給出了某紫外可見分光光度計儀器的“基線穩(wěn)定性為0.001Abs/h”,但未給出基線平直度。很顯然,該公司既未搞清穩(wěn)定性的含義,又把基線平直度和500nm處的光度噪聲混為一談了。目前除美國的P-E等少數(shù)公司以外,在基線平直度這個關鍵技術指標上,類似上述某公司做法的廠商為數(shù)不少。產(chǎn)生上述現(xiàn)象的主要原因是不懂得基線平

5、直度的重要性及其物理概念和含義,或者為了商業(yè)上的需要,如不這樣寫,怕影響銷售。三、影響基線平直度的主要因素(1)濾光片或光學元件上有灰塵此時會產(chǎn)生散射,從而引起基線平直度變壞。(2)濾光片未安裝好用于不同波段不同的濾光片切換時會產(chǎn)生噪聲,使基線平直度變壞。(3)光源(氘燈、鎢燈)切換時產(chǎn)生噪聲一般在340~360nm左右出現(xiàn),從而使基線平直度變壞。(4)基線平直度測試時掃描速度太快也會使基線平直度變壞。作者對北京普析通用公司生產(chǎn)的TU-1901紫外可見分光光度計(編號:01-192-06-050)的基線平直度進行了測試,發(fā)現(xiàn)慢速掃描時基線平直度為±0.0005Abs,中速和

6、快速掃描時,基線平直度分別為±0.0014Abs和±0.0035Abs。所以,國際上約定,測試紫外可見分光光度計的基線平直度時,掃描速度都用慢速。(5)電子學方面的噪聲過大也會直接影響基線平直度,特別是放大器和光電轉換元件的噪聲,對基線平直度的影響更大。(6)光學部分未調整好特別是單色器的光路未調整好,會使信號減小,信噪比變小,使基線平直度變壞。(7)環(huán)境因素包括振動、電場、磁場干擾、電壓不穩(wěn)等,都會使基線平直度變壞。四、正確認識及使用基線平直度(一)基線平直度與整機的光度噪聲的主要區(qū)別1.物理概念不同基線平直度:是指紫外可見分光光度計儀器全波段內(nèi)每個波長上的噪聲,與濾光片

7、切換和光源切換有關。光度噪聲:是指紫外可見分光光度計儀器在500nm波長上的噪聲,與濾光片切換和光源切換無關。2.測試時儀器狀態(tài)不同基線平直度:儀器處在運動狀態(tài),儀器的波長始終在變化。光度噪聲:儀器處在靜止狀態(tài),儀器的波長始終不變。3.測試波長位置不同基線平直度:測試儀器的全波長范圍內(nèi)每個波長的噪聲。光度噪聲:測試儀器固定在500nm處時的噪聲。4.測試時掃描方式不同基線平直度:測試時用波長掃描方式。光度噪聲:測試時用時間掃描方式。5.影響因素不同基線平直度:如“三”所述。光度噪聲:主要是電子學的元器件引起(特別是

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文

此文檔下載收益歸作者所有

當前文檔最多預覽五頁,下載文檔查看全文
溫馨提示:
1. 部分包含數(shù)學公式或PPT動畫的文件,查看預覽時可能會顯示錯亂或異常,文件下載后無此問題,請放心下載。
2. 本文檔由用戶上傳,版權歸屬用戶,天天文庫負責整理代發(fā)布。如果您對本文檔版權有爭議請及時聯(lián)系客服。
3. 下載前請仔細閱讀文檔內(nèi)容,確認文檔內(nèi)容符合您的需求后進行下載,若出現(xiàn)內(nèi)容與標題不符可向本站投訴處理。
4. 下載文檔時可能由于網(wǎng)絡波動等原因無法下載或下載錯誤,付費完成后未能成功下載的用戶請聯(lián)系客服處理。