《自然電位測井》PPT課件.ppt

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1、測井方法原理電法測井（四）第三節(jié)SP曲線特征及其應(yīng)用第二節(jié)SP的影響因素第一節(jié)SP的成因緒言第二章自然電位測井1、自然電位、靜自然電位的概念2、井下自然電位產(chǎn)生機理前節(jié)知識回顧第二節(jié)影響自然電位的因素不同井眼和地層條件對所測的自然電位幅度影響很大。因此，在應(yīng)用其資料時，必須考慮其影響因素，否則將影響解釋精度。自然電位的幅度、特點主要取決于自然電場的靜自然電位SSP和自然電流I的分布。SSP的大小主要取決于巖性、溫度、地層水和泥漿中所含離子成分、泥漿濾液電阻率與地層水電阻率之比。自然電流I的分布主要取決于介質(zhì)的電阻率、地層厚度、井徑大小。一、地層水和泥漿中含鹽濃度比值（Cw

2、/Cmf)的影響擴散電動勢擴散吸附電動勢以泥巖為基線當(dāng)Cw>Cmf時，砂巖段出現(xiàn)自然電位負異常當(dāng)Cw

3、由離子的擴散吸附形成，故當(dāng)泥漿和地層水中的化學(xué)成分不同時，其所含離子不同，導(dǎo)致溶液中離子數(shù)的差異，不同離子的離子價和遷移率又不同，這就直接影響擴散吸附電動勢系數(shù)，最終使得Ed和Eda變化。18°C時幾種鹽溶液的Kd值溶質(zhì)NaClNaHCO3CaCl2MgCl2Na2SO4KClKd(Mv)-11.62.2-19.7-22.55-0.4五、地層電阻率的影響書中P8（1－8）式可寫成：地層較厚時，由于巖層的截面積比井的截面積大得多，所以，砂巖和泥巖對自然電流的電阻Rsd、Rsh比泥漿柱的電阻Rm小得多。此時，對于純砂巖來講，ΔUsp≈SSP。當(dāng)?shù)貙与娮杪试龈邥r，Rsd、Rsh

4、與Rm比較不能忽略，則ΔUsp

5、，曲線頂部變尖，根部變寬地層厚度達到h/d>4時，自然電位的半幅點對應(yīng)地層界面。厚地層可用半幅點確定地層界面地層變薄時，對應(yīng)地層界面的自然電位值向曲線頂部移動。此時不能用半幅點確定地層界面ab段——泥巖基線c點——半幅點d點——地層中部自然電位曲線特征多個砂巖層和泥巖互層會怎樣？一、判斷滲透層砂泥巖剖面中泥質(zhì)含量增加，負異常幅度變低。滲透層（砂巖）越純，負異常越大；Rw砂巖厚度h厚儲層

6、hh薄儲層三、估算泥質(zhì)含量泥質(zhì)一般把泥質(zhì)砂巖中的細粉砂和濕粘土的混合物叫做泥質(zhì)分散泥質(zhì)泥質(zhì)分散在砂巖顆粒間孔隙的表面層狀泥質(zhì)泥質(zhì)在砂巖中呈條帶狀結(jié)構(gòu)泥質(zhì)泥質(zhì)顆粒代替了某些砂巖顆粒的位置估算泥質(zhì)含量方法泥質(zhì)的含量及其存在狀態(tài)對砂巖產(chǎn)生的擴散吸附電動勢有直接影響→可以泥巖自然電位曲線估算泥質(zhì)含量。直接法間接法把某地區(qū)各種含泥質(zhì)的砂巖經(jīng)取樣測定，直接建立自然電位幅度ΔUsp(和相對自然電位Tsp）與泥質(zhì)含Vsh的相關(guān)關(guān)系直接法SPmax——本地區(qū)標準層（一般純砂巖）的自然電位幅度P11經(jīng)驗公式間接法PSP——泥質(zhì)砂巖假靜自然電位SSP——厚的純水砂巖層的靜自然電位現(xiàn)場應(yīng)用：以泥

7、巖的SPsh為基線，分別讀出(含泥）砂巖的自然電位SP和厚的純水砂巖層的自然電位SPsd，則有：計算機常用公式該公式對水層適用，油氣層和薄層計算的Vsh偏高P12→(1-12)為什么？四、確定地層水電阻率意義Rw是計算儲層含油氣飽和度的必要參數(shù)Rw確定方法直接法：試水間接法：測井(電法測井、SP測井)理論依據(jù)Rmfe——等效泥漿濾液電阻率Rwe——等效地層水電阻率選擇厚度較大、飽含水的純砂巖層，將其ΔUsp校正→SSP求純水砂巖地層水電阻率Rw方法1、確定靜自然電位SSP2、確定等效泥漿濾液電阻率Rmfe3、確定地層水電阻率R