物探方法原理.doc

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1、第三章測(cè)線布置、物探方法及質(zhì)量評(píng)價(jià)第一節(jié)測(cè)線布置目的及精度一、測(cè)線布置總體規(guī)則（一）、測(cè)網(wǎng)布置應(yīng)根據(jù)任務(wù)要求、探測(cè)方法、被探測(cè)對(duì)象規(guī)模、埋深等因素綜合確定。測(cè)網(wǎng)和工作比例尺應(yīng)能觀測(cè)被探測(cè)的目的體，并可在平面圖上清楚反映探測(cè)對(duì)象的規(guī)模、走向。（二）、測(cè)線方向宜垂直于地層、構(gòu)造和主要探測(cè)對(duì)象的走向，應(yīng)沿地形起伏較小和表層介質(zhì)較為均勻的地段布置測(cè)線，測(cè)線應(yīng)與地質(zhì)勘探線和其它物探方法的測(cè)線一致，避開(kāi)干擾源。（三）、當(dāng)測(cè)區(qū)邊界附近發(fā)現(xiàn)重要異常時(shí)，應(yīng)將測(cè)線適當(dāng)延長(zhǎng)至測(cè)區(qū)外，以追蹤異常。（四）、在地質(zhì)構(gòu)造復(fù)雜地區(qū)，應(yīng)適當(dāng)加密測(cè)線和測(cè)點(diǎn)。（五）、測(cè)線端點(diǎn)、轉(zhuǎn)折點(diǎn)、物探觀測(cè)點(diǎn)、觀測(cè)基點(diǎn)應(yīng)進(jìn)行測(cè)量。二、各測(cè)線方位

2、、長(zhǎng)度及物探方法布置根據(jù)任務(wù)設(shè)計(jì)書(shū)，本課題測(cè)線、測(cè)點(diǎn)采用網(wǎng)格狀布置，分別對(duì)測(cè)網(wǎng)內(nèi)每個(gè)點(diǎn)進(jìn)行高密度電法、主動(dòng)源面波法和微動(dòng)法測(cè)量。其中高密度電法測(cè)線垂直于構(gòu)造布置以某一方位布置一條約290m-590m長(zhǎng)的測(cè)線，主動(dòng)源面波法以測(cè)點(diǎn)為中心以某一個(gè)方位（根據(jù)實(shí)際場(chǎng)地條件而定）布置一條40m-50m長(zhǎng)的測(cè)線，微動(dòng)法則對(duì)該中心點(diǎn)進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量，并用手持GPS記錄該中心點(diǎn)的位置，設(shè)計(jì)的測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)是根據(jù)湖南懷化盆地巖溶塌陷1:5萬(wàn)環(huán)境地質(zhì)調(diào)查工作部署圖選定的并計(jì)算的，精度達(dá)到經(jīng)緯度小數(shù)點(diǎn)后6位數(shù)字，精度達(dá)到15m以?xún)?nèi)，達(dá)到了設(shè)計(jì)精度要求。第二節(jié)物探方法、參數(shù)及技術(shù)指標(biāo)物探方法、參數(shù)及質(zhì)量評(píng)價(jià)，嚴(yán)格按照相關(guān)物探規(guī)范

3、、規(guī)程設(shè)計(jì)、執(zhí)行，對(duì)已有規(guī)范、規(guī)程不適應(yīng)巖溶塌陷調(diào)查的部分，參照相應(yīng)的規(guī)范、規(guī)程修改執(zhí)行。本章主要敘述與該項(xiàng)目有關(guān)的物探方法。主要有地面物探：高密度電法、主動(dòng)源面波法和微動(dòng)法。一、高密度電法(一)、高密度視電阻率聯(lián)合剖面法:高密度視電阻率聯(lián)合剖面法原理：測(cè)線垂直構(gòu)造走向或地下水流向，在測(cè)線上順序布置供電電極A、測(cè)量電極M、N和供電電極B，在測(cè)線的中垂線方向上布置“無(wú)窮遠(yuǎn)”極C，距離一般大于AB/2距的5倍以上，A或B分別與C組合，分別供電測(cè)量獲得視電阻率和。這樣的視電阻率曲線是在固定A、M、N、B間距下獲得，沿水平向測(cè)量可獲得一定深度范圍內(nèi)的電性分布信息，其中、的曲線形態(tài)（正交點(diǎn)、反交點(diǎn)、同步

4、起伏等），可用于評(píng)價(jià)地下地質(zhì)體的導(dǎo)電性；曲線在交點(diǎn)附近的變化形態(tài)（對(duì)稱(chēng)、傾斜），可推測(cè)地下地質(zhì)體的產(chǎn)狀；對(duì)比不同極距的聯(lián)合剖面曲線，可推測(cè)地下異常體的空間形態(tài)；通過(guò)曲線異常段與背景值的相對(duì)大小、變化劇烈程度可估算地下地質(zhì)體的位置和寬度。該方法是追索直立或陡立脈狀低阻體最為有效的方法之一。（1）儀器：WDJD-3（2）測(cè)量參數(shù)：電位，供電電流（3）利用參數(shù)：視電阻率（4）布置方式：剖面（5）技術(shù)指標(biāo)：高密度聯(lián)合剖面法和高密度電測(cè)深法采用重慶奔騰數(shù)控技術(shù)研究所生產(chǎn)的WDJD-3多功能數(shù)字直流激電儀為控制主機(jī)，配以WDZJ-3多路電極轉(zhuǎn)換器構(gòu)成高密度電阻率測(cè)量系統(tǒng)。在野外通過(guò)重復(fù)測(cè)量、檢查試驗(yàn)來(lái)判斷

5、儀器是否工作正常。①儀器技術(shù)指標(biāo)、裝備技術(shù)指標(biāo)滿(mǎn)足（DZ/T0073-1993表4及5.2）的規(guī)定。②曲線具有極值類(lèi)型的異常值Y估計(jì)表達(dá)式為：3-1為正常背景值。③曲線具有階梯狀類(lèi)型的異常值Y估計(jì)表示為：3-2、分別為階梯兩側(cè)的視電阻率值。④供電電極距AB至少應(yīng)為勘察對(duì)象頂部埋深的4～6倍；“無(wú)窮遠(yuǎn)”極垂直測(cè)線，距離大于最大電極距AO的5～10倍。⑤系統(tǒng)檢查工作量為總工作量的5%，觀測(cè)結(jié)果的均方相對(duì)誤差M計(jì)算公式如下：3-3式中：為第點(diǎn)原始觀測(cè)數(shù)據(jù)。為第點(diǎn)系統(tǒng)檢查觀測(cè)數(shù)據(jù)。為第點(diǎn)與的平均值。n為參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)點(diǎn)數(shù)。受檢點(diǎn)的相對(duì)誤差的分布應(yīng)滿(mǎn)足如下要求：①1/2超過(guò)實(shí)達(dá)精度的測(cè)點(diǎn)數(shù)應(yīng)不大于受檢

6、點(diǎn)總數(shù)的32%。②1/2超過(guò)二倍實(shí)達(dá)精度的測(cè)點(diǎn)數(shù)應(yīng)不大于受檢點(diǎn)總數(shù)的5%。③1/2超過(guò)三倍實(shí)達(dá)精度的測(cè)點(diǎn)數(shù)應(yīng)不大于受檢點(diǎn)總數(shù)的1%。2.高密度對(duì)稱(chēng)四極電測(cè)深法高密度視電阻率測(cè)深法原理：在普查的基礎(chǔ)上，或已大致確定了異常的發(fā)育范圍和走向，重新調(diào)整測(cè)線方向，使測(cè)線垂直異常走向。在地面順序布置A、M、N和B極，以一定的極距關(guān)系相對(duì)MN中點(diǎn)同時(shí)向外側(cè)移動(dòng)，測(cè)量供電電流及MN間的電位差，計(jì)算獲得一條視電阻率隨極距變化的曲線。探測(cè)深度隨極距的增大而增大，異常的深度可以通過(guò)極距的對(duì)應(yīng)關(guān)系來(lái)?yè)Q算。其視電祖率的單支曲線，多點(diǎn)視電阻率斷面等值線可反映地下電性的空間變化特征。單支電測(cè)深曲線上升斜率大于40°的陡升段

7、，揭示較完整或完整基巖段；而單支電測(cè)深曲線呈臺(tái)階狀的緩升或鋸齒狀段，揭示為巖溶裂隙發(fā)育段；電測(cè)深等ρs斷面曲線上的“V”和“U”型低電阻率區(qū)或低阻圈閉揭示地下水富集區(qū)，低電阻率異常區(qū)的稀疏等值線部位揭示巖溶裂隙發(fā)育段。（1）儀器：WDJD-3（2）測(cè)量參數(shù)：一次電位，供電電流（3）利用參數(shù)：視電阻率（4）布置方式：剖面（5）技術(shù)指標(biāo)：①儀器技術(shù)指標(biāo)、裝備技術(shù)指標(biāo)滿(mǎn)足（DZ/T0072-1993表4