正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)應(yīng)用于聚合物微觀結(jié)構(gòu)研究的進(jìn)展.pdf

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1、第30卷第2期高分子材料科學(xué)與工程Vo1.30.No.22014年2月POLYMERMATERIALSSCIENCEANDENGINEERINGFeb.2014正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)應(yīng)用于聚合物微觀結(jié)構(gòu)研究的進(jìn)展廖霞,張瓊文,何汀,安竹2,楊其,李光憲(1.四川大學(xué)高分子科學(xué)與工程學(xué)院高分子材料工程國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;2.四川大學(xué)原子核科學(xué)技術(shù)研究所輻射物理及技術(shù)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,四川成都610065)摘要:聚合物的晶區(qū)堆砌密度、無(wú)定形區(qū)自由體積的尺寸和數(shù)量、晶區(qū)一非晶區(qū)的界面等微觀結(jié)構(gòu),對(duì)其宏觀性能,如滲透性能、力學(xué)性能、松弛行為等有重

2、要影響。正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)是一種強(qiáng)有力的微觀結(jié)構(gòu)探測(cè)與表征技術(shù),能夠靈敏有效地探測(cè)聚合物的晶區(qū)堆砌密度、無(wú)定形區(qū)自由體積以及兩相界面等信息,從而提供了一種直接、簡(jiǎn)單的研究聚合物微觀結(jié)構(gòu)的途徑。文中介紹了該技術(shù)的基本原理和應(yīng)用理論,綜述了該技術(shù)在聚合物研究領(lǐng)域的應(yīng)用,如:聚合物本征特性與自由體積之間的關(guān)系,應(yīng)力、輻照、外界壓力、物理老化等外界因素對(duì)聚合物微觀結(jié)構(gòu)的影響,以及聚合物共混物、復(fù)合材料的相容性和界面特性等。最后總結(jié)了正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)在聚合物微觀結(jié)構(gòu)研究中存在的問(wèn)題。關(guān)鍵詞:正電子湮沒(méi)壽命譜;聚合物;自由體積;微觀結(jié)構(gòu)中

3、圖分類(lèi)號(hào):0631.13文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A文章編號(hào):1000—7555(2014)02—0198—07正電子湮沒(méi)技術(shù)(PAT)是一種強(qiáng)有力的核分析技題。術(shù),它利用正電子在物質(zhì)中與電子相互作用產(chǎn)生的湮1正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)應(yīng)用于聚合物的基本原理沒(méi)輻射得到物質(zhì)內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)、電子動(dòng)量分布及缺英國(guó)物理學(xué)家Dirac在1928年從理論上預(yù)言了陷狀態(tài)等信息。正電子湮沒(méi)壽命譜學(xué)(PALS)是正電子湮沒(méi)技術(shù)的應(yīng)用之一,它是通過(guò)測(cè)量正電子在物質(zhì)正電子的存在,美國(guó)物理學(xué)家Anderson于1932年在中的湮沒(méi)壽命、強(qiáng)度從而得到物質(zhì)缺陷、孔洞的大小與宇宙射

4、線中發(fā)現(xiàn)了正電子。正電子是電子的反粒子,所帶電荷與電子相等、符號(hào)相反,質(zhì)量與電子相當(dāng),是數(shù)量等微觀信息?,F(xiàn)在已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、凝聚態(tài)物理、原子分子物理、化學(xué)及生物醫(yī)學(xué)等l_lJ領(lǐng)域。人類(lèi)發(fā)現(xiàn)的第1個(gè)反物質(zhì)。正電子進(jìn)入聚合物內(nèi)部目前,測(cè)量聚合物自由體積的方法有光致變色技后,受到同樣帶正電的原子實(shí)的強(qiáng)烈排斥,通過(guò)與原子術(shù)2、熒光光譜技術(shù)_3_、小角x射線衍射[、正電子湮實(shí)、電子等的非彈性碰撞,很快損失動(dòng)能轉(zhuǎn)化為熱能,沒(méi)壽命譜技術(shù)_5_等。與前3種方法相比,PALS無(wú)需這一階段為正電子的熱化階段,通常在1ps~3ps內(nèi)加入示蹤元素,排

5、除外加物質(zhì)的干擾;探針尺寸較小完成。熱化后的正電子在聚合物中進(jìn)人擴(kuò)散階段,遇(電子偶素直徑約0.106m),對(duì)于埃米級(jí)的自由體積到電子直接發(fā)生湮沒(méi)或者與1個(gè)電子結(jié)合形成電子一孔洞探測(cè)特別敏感;由于孔洞對(duì)正電子具有強(qiáng)烈的捕正電子亞穩(wěn)態(tài)原子(電子偶素,Ps),然后發(fā)生湮沒(méi)。獲作用,使得PALS探測(cè)孔洞非常靈敏,濃度約10Wheeler于1946年最早預(yù)言了電子偶素的存在,并得的孔洞也可以被檢測(cè)出來(lái)。正是由于PALS具有無(wú)到有關(guān)電子偶素能級(jí)、精細(xì)結(jié)構(gòu)、衰變率等重要理論研損、干擾小、靈敏性高等特點(diǎn),成為目前直接探測(cè)聚合究結(jié)果。Deutsch

6、于1951年在氣體實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)了電子物微觀結(jié)構(gòu),特別是自由體積的一種最有效的手段。偶素的存在。電子偶素包括2種狀態(tài):若電子自旋與本文介紹了正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)應(yīng)用于聚合物的基正電子自旋平行,則電子偶素的總自旋為1,是自旋三本原理,綜述了該技術(shù)在聚合物微觀結(jié)構(gòu)研究中的國(guó)重態(tài),稱(chēng)為正態(tài)電子偶素(o-Ps),占電子偶素的75%;內(nèi)外最新進(jìn)展,最后總結(jié)了它在應(yīng)用過(guò)程中存在的問(wèn)若電子與正電子自旋反平行,則電子偶素的總自旋為收稿日期:2013.12.26基金項(xiàng)目:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51133005,51121001,51103091);高

7、等學(xué)校博士學(xué)科點(diǎn)專(zhuān)項(xiàng)科研基金(201201811300132O11O181110029)通訊聯(lián)系人:李光憲,主要從事多組分高分子相行為與形態(tài)控制、高分子材料老化行為和壽命預(yù)測(cè)等相關(guān)研究,E.mail:guangxianli@SOUedu.cn第2期廖霞等:正電子湮沒(méi)壽命譜技術(shù)應(yīng)用于聚合物微觀結(jié)構(gòu)研究的進(jìn)展0,是自旋單態(tài),稱(chēng)為仲態(tài)電子偶素(p—Ps),占25%。其有重要影響。PALS是探測(cè)聚合物自由體積最直接有中,p—Ps的自湮沒(méi)壽命為125ps,湮沒(méi)后發(fā)射2條7射效的方法,一切與自由體積相關(guān)的結(jié)構(gòu)及性能都可以線;o—Ps的自湮沒(méi)壽命

8、為142ns,湮沒(méi)后發(fā)射3條7射通過(guò)PALS進(jìn)行研究。目前PALS在聚合物中的應(yīng)用線。由于電子偶素優(yōu)先定域于低電子密度區(qū)域,即孔主要包括以下幾方面。洞(自由體積、缺陷)中,并與周?chē)橘|(zhì)發(fā)生相互作用,2.1聚合物本征特性與自由體積之間的

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