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《熒光光譜儀與直讀光譜儀的區(qū)別.doc》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、X-熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區(qū)別和聯(lián)系1、分析原理：X—熒光光譜分析儀——是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元素的內(nèi)層電子被激發(fā)打走，次內(nèi)層電子回落到內(nèi)層，同時產(chǎn)生一個光子，這個光子具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產(chǎn)生的光子不同，儀器再經(jīng)過光柵色散，把這一種元素產(chǎn)生的單色光分離出來，再利用一個光電管，把這一種光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?，這個電信號與試樣中被測物質(zhì)的含量成一定的比例關系。但是這樣并不能獲得試樣中被測物質(zhì)的含量，還必須與標準試樣在同樣條件下獲得的電信號進行比較才能獲得試樣中被測物質(zhì)的百分含量。?熒光光譜儀原理，當能量高于原子內(nèi)層電子
2、結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為(10)-12-(10)-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài).這個過程稱為馳豫過程.馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷.當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子.X熒光光譜法也是一種發(fā)射光譜法，但它的激發(fā)過程是利用光來激發(fā)，而且輻射的波長在比紫外更短的X射線區(qū)。2、分析特點X——熒光
3、光譜分析儀的特點是，儀器由計算機控制，自動化水平高，分析速度快，它不需要象火花(光電)直讀光譜那樣要求試樣具有導電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時完成多個被測元素或者被測組分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時完成。一般多數(shù)用戶的X—熒光光譜分析儀僅專門用來分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、熔劑等不導電的試樣。同時它也可以進行金屬材料等導電試樣的分析。其他特點與直讀光譜相同。X射線熒光直讀光譜儀可以分析粉末樣品、熔融樣品、液體樣品、固體樣品等，非金
4、屬或金屬都可以分析；火花直讀光譜儀只能分析固體樣品，而且要求樣品是導電介質(zhì)，簡單的說就是分析金屬固體樣品中的金屬或者非金屬元素。主要用途：儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。火花直讀及ICP用來做
5、純金屬,火花直讀對樣品要求比ICP要求高,X熒光用來做合金,但也可以做純金屬,但他的效率就不及火花直讀了.但在做純金屬主量元素分析時,火花直讀和ICP是間接分析,而X熒光可以直接分析主量元素.精度(分析正確度)除了ICP以外，直讀光譜和Ｘ熒光都依靠標準樣品的質(zhì)量。如果，不能準備完全的標準樣品，不可能得到標準偏差。標準樣品是當然一定要沒有偏析，正確的標準值。X射線熒光光譜法有如下特點：分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm
6、量級，元素稍差；分析樣品不被破壞，分析快速，準確，便于自動化。
