EL測試中單晶電池片隱裂判定標(biāo)準(zhǔn).docx

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1、EL測試中單晶電池片隱裂判定標(biāo)準(zhǔn)1目的在滿足組件電性能不受影響的條件下,一些隱裂組件實行降級通過。2適用范圍適用于EL測試中單晶電池片的隱裂判定。3定義無4職責(zé)、權(quán)限工藝部負責(zé)編制EL測試中電池片隱裂的判定標(biāo)準(zhǔn),并對質(zhì)量部檢驗過程中電池片發(fā)現(xiàn)的新隱裂方式進行判定和標(biāo)準(zhǔn)的修訂。質(zhì)量檢驗人員負責(zé)根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)對組件進行檢驗,并將檢驗過程中出現(xiàn)的新隱裂方式反映給工藝部。5內(nèi)容標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容分為兩個部分:不合格的隱裂方式圖示和可以降級通過的隱裂圖示。5.1不合格的隱裂方式圖示:5.1.2電池片邊角沒有對稱感,其中一個角黑色區(qū)域較大。5.1.3電池片邊沿裂片/電池片邊沿有不規(guī)則形狀的黑色區(qū)

2、域。5.1.4電池片邊沿有明顯三角狀黑色區(qū)域。5.1.5兩條裂紋在主柵線上相交呈90°。5.1.6裂片。5.1.7裂紋兩邊顏色相差較大,其中一邊有明顯黑色區(qū)域。5.1.8裂紋兩邊顏色相差較大,其中一邊有明顯黑色區(qū)域,并且兩條裂紋相交呈90°角。5.1.9裂紋兩邊顏色相差較大,其中一邊有明顯黑色條狀細線。5.1.10裂紋兩邊顏色相差較大,其中一邊有明顯黑色條狀細線,裂紋不整齊。5.1.11裂紋與電池片邊沿交界處有明顯三角狀黑色區(qū)域。5.1.12同一片電池片中的兩條裂紋呈十字交叉狀。5.1.13虛焊或焊接不良。5.2可以降級通過的隱裂圖示:5.2.1形如發(fā)絲狀,周圍整齊,無明

3、顯黑色區(qū)域,為不明顯裂紋,不影響電池片的電性能。5.2.2裂紋與主柵線有交叉,周圍整齊,無明顯黑色區(qū)域,這樣的裂紋不影響電池片的電性能。6支持性文件無7附錄

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