材料現(xiàn)代分析測試方法

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1、一、名詞解釋（共有20分，每小題2分。）1.輻射的發(fā)射：指物質(zhì)吸收能量后產(chǎn)生電磁輻射的現(xiàn)象。2.俄歇電子：X射線或電子束激發(fā)固體中原子內(nèi)層電子使原子電離，此時原子(實際是離子)處于激發(fā)態(tài)，將發(fā)生較外層電子向空位躍遷以降低原子能量的過程，此過程發(fā)射的電子。3.背散射電子：入射電子與固體作用后又離開固體的電子。4.濺射：入射離子轟擊固體時，當(dāng)表面原子獲得足夠的動量和能量背離表面運動時，就引起表面粒子（原子、離子、原子團(tuán)等）的發(fā)射，這種現(xiàn)象稱為濺射。5.物相鑒定：指確定材料（樣品）由哪些相組成。6.電子透鏡：能使電子束聚焦的裝置。7.質(zhì)厚襯度：樣品上的不同微區(qū)無論是質(zhì)量還是厚度的差別，均可

2、引起相應(yīng)區(qū)域透射電子強(qiáng)度的改變，從而在圖像上形成亮暗不同的區(qū)域，這一現(xiàn)象稱為質(zhì)厚襯度。最大）向短波方l8.藍(lán)移：當(dāng)有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)發(fā)生變化時，其吸收帶的最大吸收峰波長或位置（向移動，這種現(xiàn)象稱為藍(lán)移（或紫移，或“向藍(lán)”）。9.伸縮振動：鍵長變化而鍵角不變的振動，可分為對稱伸縮振動和反對稱伸縮振動。10.差熱分析：指在程序控制溫度條件下，測量樣品與參比物的溫度差隨溫度或時間變化的函數(shù)關(guān)系的技術(shù)。二、填空題（共20分，每小題2分。）1.電磁波譜可分為三個部分，即長波部分、中間部分和短波部分，其中中間部分包括（紅外線）、（可見光）和（紫外線），統(tǒng)稱為光學(xué)光譜。2.光譜分析方法是基于電磁輻射

3、與材料相互作用產(chǎn)生的特征光譜波長與強(qiáng)度進(jìn)行材料分析的方法。光譜按強(qiáng)度對波長的分布（曲線）特點（或按膠片記錄的光譜表觀形態(tài)）可分為（連續(xù)）光譜、（帶狀）光譜和（線狀）光譜3類。3.分子散射是入射線與線度即尺寸大小遠(yuǎn)小于其波長的分子或分子聚集體相互作用而產(chǎn)生的散射。分子散射包括（瑞利散射）與（拉曼散射）兩種。4.X射線照射固體物質(zhì)(樣品)，可能發(fā)生的相互作用主要有二次電子、背散射電子、特征X射線、俄歇電子、吸收電子、透射電子5.多晶體（粉晶）X射線衍射分析的基本方法為（照相法）和（X射線衍射儀法）。6.依據(jù)入射電子的能量大小，電子衍射可分為（高能）電子衍射和（低能）電子衍射。依據(jù)電子束是

4、否穿透樣品，電子衍射可分為（投射式）電子衍射與（反射式）電子衍射。2≠0）。

5、F

6、7.衍射產(chǎn)生的充分必要條件是（(衍射矢量方程或其它等效形式)加8.透射電鏡的樣品可分為（直接）樣品和（間接）樣品。9.單晶電子衍射花樣標(biāo)定的主要方法有（嘗試核算法）和（標(biāo)準(zhǔn)花樣對照法）。10.掃描隧道顯微鏡、透射電鏡、X射線光電子能譜、差熱分析的英文字母縮寫分別是（stm）、（tem）、（xps）、（DTA）。11.X射線衍射方法有、、和。12.掃描儀的工作方式有和兩種。13.在X射線衍射物相分析中，粉末衍射卡組是由委員會編制，稱為JCPDS卡片，又稱為PDF卡片。14.電磁透鏡的像差有、、和。15.透

7、射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)分為。16.影響差熱曲線的因素有、、和。三、判斷題，表述對的在括號里打“√”，錯的打“×”（共10分，每小題1分）1.干涉指數(shù)是對晶面空間方位與晶面間距的標(biāo)識。晶面間距為d110/2的晶面其干涉指數(shù)為（220）。（√）2.倒易矢量r*HKL的基本性質(zhì)為：r*HKL垂直于正點陣中相應(yīng)的（HKL）晶面，其長度r*HKL等于(HKL)之晶面間距dHKL的2倍。（×）倒數(shù)3.分子的轉(zhuǎn)動光譜是帶狀光譜。（×）線狀光譜4.二次電子像的分辨率比背散射電子像的分辨率低。（×）高5.一束X射線照射一個原子列（一維晶體），只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射。（×）6.俄歇電子能譜不能分

8、析固體表面的H和He。（√）7.低能電子衍射（LEED）不適合分析絕緣固體樣品的表面結(jié)構(gòu)。（√）8.d-d躍遷受配位體場強(qiáng)度大小的影響很大，而f-f躍遷受配位體場強(qiáng)度大小的影響很小。（√）9.紅外輻射與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生紅外吸收光譜必須有分子極化率的變化。（×）10.樣品粒度和氣氛對差熱曲線沒有影響。（×）四、單項選擇題（共10分，每小題1分。）1.原子吸收光譜是（A）。A、線狀光譜B、帶狀光譜C、連續(xù)光譜2.下列方法中，（A）可用于測定方解石的點陣常數(shù)。A、X射線衍射線分析B、紅外光譜C、原子吸收光譜D紫外光譜子能譜m)的物相鑒定，可以選擇（D）。m3.合金鋼薄膜中極小彌散顆粒(直徑

9、遠(yuǎn)小于1A、X射線衍射線分析B、紫外可見吸收光譜C、差熱分析D、多功能透射電鏡4.幾種高聚物組成之混合物的定性分析與定量分析，可以選擇（A）。A、紅外光譜B、俄歇電子能譜C、掃描電鏡D、掃描隧道顯微鏡5.下列（B）晶面不屬于[100]晶帶。A、（001）B、（100）C、（010）D、（001）6.某半導(dǎo)體的表面能帶結(jié)構(gòu)測定，可以選擇（D）。A、紅外光譜B、透射電鏡C、X射線光電子能譜D紫外光電子能譜7.要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量，一般應(yīng)選用（A）