顯微紅外光學成像系統(tǒng)的設計

顯微紅外光學成像系統(tǒng)的設計

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1、天津理工大學碩士學位論文顯微紅外光學成像系統(tǒng)的設計姓名:郭世苗申請學位級別:碩士專業(yè):光學工程指導教師:魏臻20081201AbstractThetechnologyofIRandthermalimageisanemergingtechnologyinmodemimagingtechnology.TheprincipleofthetechnologyofIRandthermalimageisnotthesameasx-ray,B—chao,CT,magneticresonanceimagingtechnology.Itdoesnottakethein

2、itiativetolaunchanyray,onlyapassiveacceptanceofheatemittedbytheinfra-red,aftertreatment,drawingheatoutoftheimage.ItsgreatestfeatureisthecontactsdonothavetobeDetectedobjects..Therefore,。regardingsomehigh—riskprofessions,forinstanceinthenuclearindustrytheprimarydeviceexaminationb

3、ecameextremelyeasy.Thispaperaimstomakeuseofinfraredthermalimagingtechnologyandtheorganicintegrationoffibertechnology,theestablishmentofamicro-infraredopticalimagingsystem,Throughthesystem,wecanboardinlarge—scaleintegratedcircuitswithtensofthousandsoftinycomponentsoftheimagetran

4、sfertoyourcomputer,Aftercomputeranalysisoftreatment,wecalleasilyanalyzethestateofintegratedcircuitboardsandidentifythefailureofcomponents.Inthisway,large—scaleintegratedcircuitcomponentson—boardfaultdetectionExpresschangedveryeasily.KeyWords:‘‘[Infi'aredthermalimagerytechnology

5、]’’,‘‘[Microtechnology]9'9‘‘[Infraredmicroscope】”獨創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學位論文是本人在導師指導下進行的研究工作和取得的研究成果,除了文中特別加以標注和致謝之處外,論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果,也不包含為獲得天津理工大學或其他教育機構(gòu)的學位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻均已在論文中作了明確的說明并表示了謝意?!蹖W位論文作者簽名:駕侈也餳簽字日期:o口。7年,月釤日學位論文版權(quán)使用授權(quán)書本學位論文作者完全了解墨盜墨墨盤堂有關(guān)保留、使用學位論文的規(guī)定。特授

6、權(quán)墨盜墨蘭盤至可以將學位論文的全部或部分內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫進行檢索,并采用影印、縮印或掃描等復制手段保存、匯編,以供查閱和借閱。同意學校向國家有關(guān)部門或機構(gòu)送交論文的復本和電子文件。(保密的學位論文在解密后適用本授權(quán)說明)學位論文作者簽名:蠡也蕩導師簽名:學位論文作者簽名:‘缸也蕩導師簽名:瑰京簽字日期:≥。。7年/月弘日簽字日期:乒01D7年J月華日第一章緒論1.1課題背景及意義現(xiàn)代社會中的各種電子儀器和設備,都離不開形形色色的電路。在電子用品的生產(chǎn)和使用過程中,電路都可能由于這樣或那樣的原因而工作不正常,并影響到電子用品的正常使用。如何在生產(chǎn)過程

7、中及早發(fā)現(xiàn)電路的故障,以及在電路發(fā)生故障時,如何迅速、準確地查出故障點,保證電子產(chǎn)品的良好質(zhì)量和正常運行,這是目前我國檢測技術(shù)的薄弱之處。因此,需要研究和開發(fā)快速、方便、有效、非接觸式的電路故障診斷方法和技術(shù)。隨著紅外熱成像技術(shù)的不斷發(fā)展,借助于數(shù)字圖像處理技術(shù),可以用于快速檢測電子設備的熱故障。電子設備在通電激勵狀態(tài)下,耗能電子元器件,如電阻、集成芯片均會發(fā)熱而使其溫度高于室溫。用紅外熱像儀采集電路產(chǎn)生的熱輻射形成的熱像,通過觀察、分析電路熱像的變化,可以探測和定位電路故障點。在國外,應用紅外技術(shù)檢測電氣設備故障始于60年代中期,70自年代開始把熱

8、像儀裝在面包車或直升機上對變電站設備或高壓輸電線路連接件故障做巡回檢測,并分別制訂出相應的技術(shù)規(guī)范或紅外診斷

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