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《顯微紅外光學(xué)成像系統(tǒng)的設(shè)計(jì)》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫。
1、天津理工大學(xué)碩士學(xué)位論文顯微紅外光學(xué)成像系統(tǒng)的設(shè)計(jì)姓名：郭世苗申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：光學(xué)工程指導(dǎo)教師：魏臻20081201AbstractThetechnologyofIRandthermalimageisanemergingtechnologyinmodemimagingtechnology．TheprincipleofthetechnologyofIRandthermalimageisnotthesameasx-ray,B—chao，CT,magneticresonanceimagingtechnology．Itdoesnottakethein
2、itiativetolaunchanyray,onlyapassiveacceptanceofheatemittedbytheinfra-red，aftertreatment，drawingheatoutoftheimage．ItsgreatestfeatureisthecontactsdonothavetobeDetectedobjects．．Therefore，。regardingsomehigh—riskprofessions，forinstanceinthenuclearindustrytheprimarydeviceexaminationb
3、ecameextremelyeasy．Thispaperaimstomakeuseofinfraredthermalimagingtechnologyandtheorganicintegrationoffibertechnology，theestablishmentofamicro-infraredopticalimagingsystem，Throughthesystem，wecanboardinlarge—scaleintegratedcircuitswithtensofthousandsoftinycomponentsoftheimagetran
4、sfertoyourcomputer,Aftercomputeranalysisoftreatment,wecalleasilyanalyzethestateofintegratedcircuitboardsandidentifythefailureofcomponents．Inthisway，large—scaleintegratedcircuitcomponentson—boardfaultdetectionExpresschangedveryeasily．KeyWords：‘‘[Infi'aredthermalimagerytechnology
5、]’’，‘‘[Microtechnology]9'9‘‘[Infraredmicroscope】”獨(dú)創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學(xué)位論文是本人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作和取得的研究成果，除了文中特別加以標(biāo)注和致謝之處外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果，也不包含為獲得天津理工大學(xué)或其他教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中作了明確的說明并表示了謝意?！蹖W(xué)位論文作者簽名：駕侈也餳簽字日期：o口。7年，月釤日學(xué)位論文版權(quán)使用授權(quán)書本學(xué)位論文作者完全了解墨盜墨墨盤堂有關(guān)保留、使用學(xué)位論文的規(guī)定。特授
6、權(quán)墨盜墨蘭盤至可以將學(xué)位論文的全部或部分內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢索，并采用影印、縮印或掃描等復(fù)制手段保存、匯編，以供查閱和借閱。同意學(xué)校向國家有關(guān)部門或機(jī)構(gòu)送交論文的復(fù)本和電子文件。(保密的學(xué)位論文在解密后適用本授權(quán)說明)學(xué)位論文作者簽名：蠡也蕩導(dǎo)師簽名：學(xué)位論文作者簽名：‘缸也蕩導(dǎo)師簽名：瑰京簽字日期：≥。。7年／月弘日簽字日期：乒01D7年J月華日第一章緒論1．1課題背景及意義現(xiàn)代社會(huì)中的各種電子儀器和設(shè)備，都離不開形形色色的電路。在電子用品的生產(chǎn)和使用過程中，電路都可能由于這樣或那樣的原因而工作不正常，并影響到電子用品的正常使用。如何在生產(chǎn)過程
7、中及早發(fā)現(xiàn)電路的故障，以及在電路發(fā)生故障時(shí)，如何迅速、準(zhǔn)確地查出故障點(diǎn)，保證電子產(chǎn)品的良好質(zhì)量和正常運(yùn)行，這是目前我國檢測技術(shù)的薄弱之處。因此，需要研究和開發(fā)快速、方便、有效、非接觸式的電路故障診斷方法和技術(shù)。隨著紅外熱成像技術(shù)的不斷發(fā)展，借助于數(shù)字圖像處理技術(shù)，可以用于快速檢測電子設(shè)備的熱故障。電子設(shè)備在通電激勵(lì)狀態(tài)下，耗能電子元器件，如電阻、集成芯片均會(huì)發(fā)熱而使其溫度高于室溫。用紅外熱像儀采集電路產(chǎn)生的熱輻射形成的熱像，通過觀察、分析電路熱像的變化，可以探測和定位電路故障點(diǎn)。在國外，應(yīng)用紅外技術(shù)檢測電氣設(shè)備故障始于60年代中期，70自年代開始把熱
8、像儀裝在面包車或直升機(jī)上對(duì)變電站設(shè)備或高壓輸電線路連接件故障做巡回檢測，并分別制訂出相應(yīng)的技術(shù)規(guī)范或紅外診斷
