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《氮鎵銦和氮化銦半導體納米材料制備與表征》由會員上傳分享,免費在線閱讀,更多相關內(nèi)容在應用文檔-天天文庫。
1、氮鎵銦和氮化銦半導體納米材料制備與表征第1章緒論1.1課題背景及研究目的半導體納米材料,具有優(yōu)異的物化性質(zhì),是微電子器件和光電器件的基礎。近年來,由于其特殊的光電性質(zhì),半導體納米材料日益成為科研工研究的熱點[1,2]。它在太陽能電池、異質(zhì)結雙極晶體管、高電子遷移率晶體管及其它應用領域的重要性也日益提高[3,4]。在半導體納米材料中,Ⅲ-Ⅴ族化合物半導體以其獨特的能帶結構與性質(zhì),以及在微波與光電器件等領域的廣泛應用,在半導體材料中占有重要一席[5]。在Ⅲ-Ⅴ族化合物中,InxGa1-xN三元化合物具有特別廣的發(fā)光光譜范圍,其
2、帶隙可以從InN的0.7eV到GaN的3.4eV間連續(xù)地調(diào)節(jié),與太陽能光譜幾乎完全匹配,這一優(yōu)異的性質(zhì)引起了半導體領域的廣大關注[6-8]。隨著研究的深入,人們把它用于高亮度光發(fā)射二極管、激光二極管、InxGa1-xN有源區(qū)激光二極管等光電子器件中,并且應用越來越廣泛[9,10]。InxGa1-xN半導體納米材料也被越來越多的應用在太陽能電池中[11]。而InN二元化合物,因其具有高的遷移率、高的飽和速率、大的電子漂移速率以及最小的有效電子質(zhì)量等,在高頻器件、激光二極管等應用方面有著很大的優(yōu)勢[12,13]。其獨特的光電性
3、質(zhì),在長波長半導體光電器件、太陽能電池等方面都有著很好的應用前景[14]。但是,在InxGa1-xN、InN的制備研究中,由于Ga與N、In與N的結合溫度相差較大,同時,In與N的分解溫度低于N源氣體的理想活性溫度,導致在高溫下In與N易解離,低溫下Ga與N難結合[15]。同時低溫下N源氣體活性差,不利于InxGa1-xN、InN材料的合成,而提高襯底溫度雖然有利于N源氣體的分解,可獲得更多的活性N,但又會引起In與N熱分解,導致InxGa1-xN材料中In含量減少、InN材料中形成銦粒,同樣還會導致InxGa1-xN、I
4、nN材料性能的改變[16,17]。另外,目前對InxGa1-xN、InN的合成多采用有毒危險的三甲基銦(TMI)、三甲基鎵(TMG)做銦源和鎵源,對環(huán)境、人體都會造成危害,這不利于大量生產(chǎn)[18]。.1.2研究進展1.2.1國內(nèi)外研究現(xiàn)狀及分析早在上世紀二三十年代,Ⅲ-Ⅴ族半導體化合物就開始進入人們的視野,并以其特殊的物理和化學性質(zhì),引起很多學者的研究興趣。在1932年,Johnson等人就制備出了GaN材料[19]。在1938年,Juza和Hahn就合成出了六方纖鋅礦結構的InN[20]。之后,人們就對三元化合物InxG
5、a1-xN起了濃厚的興趣,并進行了深入的研究。但是由于材料本身合成的難度,InxGa1-xN的研究也一度進入瓶頸。到上世紀八九十年代,隨著科學技術的進步,人類對InxGa1-xN的研究也進入了一個高峰,并取得了優(yōu)異的成果[21-23]。對InxGa1-xN材料的合成,目前國際國內(nèi)研究者采用多種方法,嘗試制備出形貌更好性能更加優(yōu)良的產(chǎn)品。PanthaBN等人成功的用金屬有機氣相沉積法(MOCVD)合成了單晶InxGa1-xN,其中In元素的含量覆蓋到25%~63%[24]。S.Albert等用等離子體輔助分子束外延法成功制備
6、出了InxGa1-xN納米柱,并且通過控制反應溫度梯度而實現(xiàn)了的組合物上分級的InxGa1-xN有源區(qū)增長,同時研究了其光學性質(zhì)[25]。H等人用氫化物氣相外延法(HVPE),同樣在藍寶石襯底上,制備出了銦含量為0.1≤x≤0.2的InxGa1-xN納米棒陣列,并測試其室溫陰極激發(fā)發(fā)光光譜(CL)的發(fā)射峰從峰位從380nm移動到470nm[26]。BE法、MOVPE法、MOCVD法、溶劑熱法等,并且合成出了不同形貌結構的InN,如納米薄膜、納米棒、納米線、納米柱、納米花等。同時,對其光學性能的研究也取得了很大進
7、展[63-65]。本章實驗采用化學氣相沉積法,用氧化銦和氨氣反應制備InN納米線,探索InN納米線生長的最佳條件。通過TEM、XRD、SEM、PL等表征手段分析所制樣品的形貌、組分及性能,并通過控制反應條件,初步提出InN納米線的成長機理。本實驗中采用氧化銦(In2O3)作銦源,氨氣為氮源,二者的氣相直接反應,生成氮化銦,藥品的詳細信息參見第二章表2-1,氧化銦為分析純,使用之前不必做純化處理。對樣品的表征用透射電子顯微鏡、X射線衍射儀和場發(fā)射掃描電子顯微鏡,并用熒光光譜儀來檢測樣品光學性能,設備詳細信息參見第二章表2-2
8、。實驗所用的反應設備依然是真空中溫氣氛管式爐,見圖4-1。..結論本文采用設備簡單的化學氣相沉積法制備InxGa1-xN、InN納米材料,選用了毒性小危險小的反應原料,制備出形貌新穎的產(chǎn)品??疾炝瞬煌蛩貙Ξa(chǎn)品的影響。采用場發(fā)射掃描電子顯微鏡、X射線衍射、X射線能譜、傅里葉紅外吸收光譜、高分辨透射電子顯