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《基于向量優(yōu)化重組的soc測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。
1、基于向量優(yōu)化重組的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究ResearchonTestDataCompressionofSoCbasedonDividingandrecombiningTestCubes作學(xué)學(xué)研者位科究姓類專方名型業(yè)向李光宇高校教師計算機(jī)應(yīng)用嵌入式系統(tǒng)與SoC導(dǎo)師及職稱梁華國教授2011年11月合肥工業(yè)大學(xué)本論文經(jīng)答辯委員會全體委員審查，確認(rèn)符合合肥工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文質(zhì)量要求。答辯委員會簽名：（工作單位、職稱）主席：熊焰中科大教授委員：侯鋒平周國祥安徽省經(jīng)信委合肥工業(yè)大學(xué)高工教授唐邵昊堃合肥工業(yè)大
2、學(xué)合肥工業(yè)大學(xué)教授教授導(dǎo)師：梁華國合肥工業(yè)大學(xué)教授獨創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學(xué)位論文是本人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。據(jù)我所知，除了文中特別加以標(biāo)志和致謝的地方外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果，也不包含為獲得合肥工業(yè)大學(xué)或其他教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中作了明確的說明并表示謝意。學(xué)位論文作者簽字：李光宇簽字日期：2011年11月日學(xué)位論文版權(quán)使用授權(quán)書本學(xué)位論文作者完全了解合肥工業(yè)大學(xué)有關(guān)保留、使用學(xué)位論文的規(guī)定，
3、有權(quán)保留并向國家有關(guān)部門或機(jī)構(gòu)送交論文的復(fù)印件和磁盤，允許論文被查閱或借閱。本人授權(quán)合肥工業(yè)大學(xué)可以將學(xué)位論文的全部或部分論文內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢索，可以采用影印、縮印或掃描等復(fù)制手段保存、匯編學(xué)位論文。（保密的學(xué)位論文在解密后適用本授權(quán)書）學(xué)位論文作者簽名：李光宇導(dǎo)師簽名：梁華國簽字日期：2011年11月日簽字日期：2011年11月日學(xué)位論文作者畢業(yè)后去向：工作單位：通訊地址：電話：郵編：基于向量優(yōu)化重組的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究摘要近年來，隨著電子工藝水平的提高，集成電路的集成度也越來越高，由于SOC中
4、集成了相關(guān)IP核，其功能愈加強(qiáng)大，但相應(yīng)也使芯片測試時所需的測試數(shù)據(jù)量迅速增加。這樣以來傳統(tǒng)的自動測試設(shè)備由于存儲量、工作頻率以及帶寬有限，測試SOC時會出現(xiàn)測試時間長、測試成本高等問題。面對海量的測試數(shù)據(jù)，測試數(shù)據(jù)壓縮提供了一種可行有效的解決方案，使得SoC測試數(shù)據(jù)量過大和測試時間過長等問題得到有效緩解。本論文研究的正是SoC測試數(shù)據(jù)的壓縮問題。本文首先對SoC測試的相關(guān)概念和一些經(jīng)典的測試數(shù)據(jù)壓縮方法作了介紹，重點介紹了LFSR重新播種及其改進(jìn)方法，并對其優(yōu)缺點進(jìn)行了詳細(xì)的分析。針對確定測試集中各個測試向量所包含確定位的位
5、數(shù)差異較大的特點和各個測試向量中所含的確定位大多連續(xù)出現(xiàn)的特點，本文提出了一種基于向量優(yōu)化重組的LFSR重播種方法。針對測試集中測試向量的確定位位數(shù)不同的特點，先對測試向量進(jìn)行奇偶切分，接著進(jìn)行重組，使新生成的測試向量中確定位大致相等。然后對新測試向量集進(jìn)行LFSR編碼，從而提高測試壓縮率。本方案解壓電路結(jié)構(gòu)簡單，并且種子的位數(shù)較少。與目前國內(nèi)外同類方法相比，具有測試數(shù)據(jù)壓縮率高、解壓結(jié)構(gòu)簡單及測試時間少等特點。實驗結(jié)果顯示，這種編碼能夠有效地壓縮測試數(shù)據(jù)。關(guān)鍵詞：片上系統(tǒng)；測試數(shù)據(jù)壓縮；LFSR；奇偶切分；優(yōu)化重組；重新播種
6、ResearchonTestDataCompressionofSoCbasedonDividingandrecombiningTestCubesAbstractWiththedevelopmentofintegratedcircuitmanufacturingcraft,theintegrationofsinglechipisincreasing.Duetointegratingvariousintellectual-property(IP)cores,thefunctionofSoCisdevelopedstronglyan
7、dtestdatavolumegrowsquickly.Howeverthestoragecapacity,frequencyandbandwidthofthetraditionalautomatictestequipment(ATE)arelimited.ThisresultsinlongertesttimeandmorehighcostintheSoCtest.ThetestdatacompressionisafeasiblemeasuretoresolvetheproblemsofSoCtestandcanbeusedt
8、odecreasetheSoCtestdatavolumeandtesttime.ThedissertationmakesresearchintestdatacompressionofSoC.AfterSoCtestconceptsandanalyzingsometradit
