soc測(cè)試資源優(yōu)化方法的研究

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1、SoC測(cè)試資源優(yōu)化方法研究摘要深亞微米工藝下IC規(guī)模和復(fù)雜度的日益增加，向SoCN試提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。現(xiàn)有的外部測(cè)試設(shè)備ATE在存儲(chǔ)容量、測(cè)試通道數(shù)等測(cè)試資源方面滿足不了測(cè)試需求，因而有必要研究SoC測(cè)試資源優(yōu)化方法。本文分別從節(jié)省測(cè)試通道、ATE存儲(chǔ)空間、減少測(cè)試時(shí)間的角度研究了SoCN試數(shù)據(jù)壓縮、SoCN試調(diào)度以及低功耗SoCN試。本文的主要貢獻(xiàn)為：首先，提出了一種適用于SoCN試數(shù)據(jù)壓縮的新方法。先將不同待測(cè)核對(duì)應(yīng)測(cè)試集中的測(cè)試向量最大限度地重疊起來(lái)，形成一個(gè)重疊向量，然后對(duì)這個(gè)重疊向量進(jìn)行變游程編碼，進(jìn)一步對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。由于測(cè)試應(yīng)用時(shí)間與重疊向量的長(zhǎng)

2、度成正比，而重疊向量的長(zhǎng)度要遠(yuǎn)小于原始測(cè)試向量長(zhǎng)度的總和，從而減少了測(cè)試時(shí)間。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，算法的最高測(cè)試壓縮率為67．4％，最低值為39．5％，平均測(cè)試壓縮率達(dá)到56％。最好情況下，測(cè)試數(shù)據(jù)被壓縮了12．3倍。除了個(gè)別情況下算法的測(cè)試時(shí)間接近最優(yōu)結(jié)果外，二級(jí)測(cè)試壓縮方法的測(cè)試時(shí)間均少于已有算法。其次，提出了基于測(cè)試響應(yīng)復(fù)用的SoCN試數(shù)據(jù)壓縮方法STC．TR和測(cè)試調(diào)度方法STS．HC。先對(duì)各個(gè)測(cè)試集進(jìn)行預(yù)處理，通過(guò)預(yù)處理，用前一個(gè)核的測(cè)試響應(yīng)壓縮本待測(cè)核的測(cè)試激勵(lì)，然后從本待測(cè)核的測(cè)試集中刪掉與它前面核的測(cè)試響應(yīng)相容的測(cè)試向量。在實(shí)際測(cè)試時(shí)，對(duì)于待測(cè)核的測(cè)試序列

3、，除了最后一個(gè)核外，直接將與后一個(gè)核的測(cè)試激勵(lì)相容的本待測(cè)核的測(cè)試響應(yīng)作為后一個(gè)核的測(cè)試輸入，對(duì)其余的測(cè)試重復(fù)上述操作。若前一個(gè)待測(cè)核的測(cè)試響應(yīng)與所要施加的測(cè)試向量都不相容，則直接從ATE中取測(cè)試數(shù)據(jù)。硬件實(shí)現(xiàn)上只需幾個(gè)二選一的多路選擇器MUX，即可控制測(cè)試數(shù)據(jù)取自何處。給出了調(diào)整待測(cè)核測(cè)試順序及與各個(gè)待測(cè)核對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量施加順序的啟發(fā)式算法，使測(cè)試效果接近最優(yōu)。提出的方法不需要解碼器?？紤]功耗的核測(cè)試流水降低了測(cè)試應(yīng)用時(shí)間。已有SoC鋇,g試調(diào)度方法的硬件開(kāi)銷(xiāo)較大，與之相比較，采用層次聚類(lèi)分析的方法STS．HC解決基于測(cè)試響應(yīng)復(fù)用的SoC測(cè)試調(diào)度，算法實(shí)現(xiàn)起來(lái)比

4、較簡(jiǎn)單。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，與經(jīng)典的算法比較，本文的算法STS．HC的測(cè)試應(yīng)用時(shí)間最少：本算法的測(cè)試壓縮率平均值高達(dá)50％哈爾濱丁程大學(xué)博士學(xué)傳論文三ii；；；；；；；暑；ii；宣；；昌；；ii；昌；ii；ii——"i"mi；i左右，與以往的算法是可比較的。值得一提的是，本文的方法分別將SoC基準(zhǔn)電路p93791和p34932的故障覆蓋率提高了1．32％和5．08％?？梢?jiàn)，算法STC．TR不但沒(méi)有降低各測(cè)試集的故障覆蓋率，反而提高了一些測(cè)試集的故障覆蓋率。再次，提出了基于進(jìn)程代數(shù)的SoCial試調(diào)度方法。為了降低測(cè)試應(yīng)用時(shí)間，可采用測(cè)試流水，然而測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的功耗可能

5、會(huì)毀壞待測(cè)系統(tǒng)，鑒于這一點(diǎn)，流水測(cè)試時(shí)應(yīng)將測(cè)試功耗控制在允許范圍之內(nèi)。進(jìn)程代數(shù)是處理并發(fā)進(jìn)程的有力工具，以進(jìn)程代數(shù)為理論基礎(chǔ)，給出了并行測(cè)試進(jìn)程的時(shí)間標(biāo)記變遷系統(tǒng)模型(TLTS)，并形成了將前者轉(zhuǎn)化為進(jìn)程代數(shù)ACSR(AlgebraofCommunicatingSharedResources)描述的幾個(gè)定理，建立了SoC鋇t]試調(diào)度模型STS．ACSR。將核的并行測(cè)試映射為并發(fā)執(zhí)行的進(jìn)程，把測(cè)試資源建模為ACSR資源，優(yōu)先級(jí)可以解決測(cè)試沖突，從而使得功耗約束下的測(cè)試獲得最大并行性同時(shí)使測(cè)試應(yīng)用時(shí)間最小。實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了進(jìn)程代數(shù)在處理SoC測(cè)試調(diào)度問(wèn)題方面優(yōu)于經(jīng)典的算

6、法。關(guān)鍵詞：SoC測(cè)試壓縮；SoC測(cè)試調(diào)度；測(cè)試響應(yīng)重用；進(jìn)程代數(shù)ACSRSoC測(cè)試資源優(yōu)化方法研究AbstractSoCtesthasattractedresearchers’attentionforyears．HoweverwiththeincreasingcomplexityandscaleofICinVDSM(VeryDeepSubmicron)，ICtestgrowscostlyandtime—consuming，asposesseverechallengestoSoCtest．Moreovertestresourcessuchasstoragecapa

7、citiesofexternalequipmentandthenumberoftestchannelsdon’tsatisfythetestrequirements．ConsequentlySoCtestresourcesoptimizationiSnecessaryforcost—effectivetest．ThisthesisexploresSoCtestdatacompression，SoCtestschedulingandlowpowerSoCtestfromtheperspectiveofreducingtestchannelsrequirement，A

8、TEsto