x熒光測定儀（臺式）

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1、一、X熒光測定儀（臺式）技術參數*1、工作條件：環(huán)境溫度大于等于15℃，小于等于28℃；相對濕度小于75%；供電（強電、弱電）：AC220(1±10%)V，(50±0.5)Hz單相雙線+保護地線。2、技術規(guī)格2.1技術指標：2.1.1類型：順序掃描波長色散型X射線熒光光譜儀。2.1.2元素分析范圍：O（8）—鈾（92）。2.1.3濃度范圍從亞ppm到主含量。2.1.4可分析固體、粉末等樣品。2.1.5分析項目要求：樣品類型包括固體、粉末等材料及特殊不規(guī)則小樣品或少量樣品的檢測。2.2X射線管：2.2.2形式：陶瓷端窗

2、型，X射線管在使用壽命內強度無明顯衰減。*2.2.3鈹窗總厚度：≤50μm。2.2.4陽極材料：銠靶。2.2.5樣品激發(fā)距離：≤16mm*2.2.6最大功率不低于4.0kw，最大電壓不低于60KV，最大電流不低于120mA2.2.7光管濾光片：4種以上可自動交換濾光片，需要列明清單和用途。2.2.8光管具備有效防塵技術，可清洗設計。2.3高壓發(fā)生器：2.3.1發(fā)生器類型：高頻固態(tài)，水冷。2.3.2最大電壓≥60KV，最大電流≥120Ma，最大功率4.0KW2.3.3穩(wěn)定性：外電壓波動±1%時，輸出電壓波動≤±0.00

3、005%。2.3.4電壓允許波動：+15%至-10%2.3.5電壓/電流切換：自動切換，能非等功率切換，等功率切換時間小于2秒2.3.5高壓發(fā)生器可提供原廠維修，并確保能維修到任一零部件，需出具原廠售后服務承諾書。2.4樣品方式：2.4.1樣品種類：固體、粉末壓片、熔融片等2.4.2樣品旋轉：≥60rpm/min2.4.3照射方式：下照射或上照射2.5光路設計：2.5.1初級準直器：程序控制，自動切換，配置適合輕、重元素的至少4個準直器2.5.2輕元素分析：要求有比較先進的技術，以充分保證輕元素的檢出能力，詳細說明2

4、.5.4晶體：最多可安裝不低于9塊晶體。至少配置LiF200、PET、Ge111、LiFe220、O到Mg元素晶體共5塊，且晶體面積大于15cm2。2.5.5光譜室溫度穩(wěn)定性±0.1oC，晶體單獨控溫±0.1℃。2.5.5衰減器自動切換機構確保高含量元素的分析2.6探測器系統(tǒng)：2.61最大線性計數：流氣正比計數器≥3000kCPS；閃爍計數器≥1500kCPS2.6.2非線性度：從0到最大計數率范圍內偏差不大于1%2.6.3死時間修正：電腦自動處理，具有自動靈敏度控制功能2.6.4探測器并聯(lián)：兩個計數器平行放置，全部

5、在光譜室內2.6.6F-PC應具有自動芯線清洗機構和氣體密度穩(wěn)定機構2.7測角儀：2.7.1驅動方式：θ-2θ分別驅動*2.7.2定位方式：光學定位，測角儀需無齒輪，無機械磨損2.7.3最大定位轉速：≥2400°/min2.7.4連續(xù)掃描速度：不少于550°/min2.7.5角度重現(xiàn)性：優(yōu)于±0.0001°2.7.6掃描方式：連續(xù)掃描，掃描速度可調2.8激光定位機械手自動進樣器：2.8.1樣品位數：配置不低于100位的進樣器,可同時放置不低于80個樣品用于過夜連續(xù)分析,配置相應位數的原裝進口樣品盒和進樣盤，說明材質。

6、2.8.2自動校正儀器及工作曲線2.9真空系統(tǒng)：*2.9.1具有雙真空室（分析室和預抽真空室），即第一個樣品分析時，第二個樣品進入預抽真空室抽真空等待2.9.2各真空室獨立真空系統(tǒng)，保證分析室不受粉末試樣污染2.9.3光譜室全真空：要求整個光譜室、準直器、探測器等都在真空條件下。2.9.4：配備液樣分析系統(tǒng)，自動氦氣快門系統(tǒng)。2.10軟件：2.10.1操作軟件：要求能對儀器進行全面的操作控制，進行定性、定量分析。在定量方面，必須擁有單標樣定量功能。軟件必須可以監(jiān)控儀器狀態(tài)，有自動診斷功能，在線幫助功能，自動校正功能，

7、自動辨別干擾譜線功能，擁有理論α系數，經驗α系數等計算功能。2.10.2分析幫助專家軟件系統(tǒng)：能夠根據儀器的配置提供被選擇元素的最佳分析參數；用最佳的譜線和分析參數進行被選擇元素的快速掃描；用最佳譜線和分析參數進行被選擇元素的能量描跡；它可以根據靈敏度、所選擇的元素和可能的譜線重疊，用最佳元素線和分析參數建立分析程序等。*2.10.3無標樣定量分析軟件：配備原裝進口的能實現(xiàn)各種基體樣品分析的無標樣軟件，該軟件要求在無標樣的情況下可順利完成各類樣品中的元素定量分析；必須提供工廠數據庫，并做詳細說明?？煞治鏊蓄愋偷拇髩K

8、樣品、液體樣品及不規(guī)則形狀的小樣品諸如一枚螺絲釘、金屬鉆屑、松散的乃至10mg的粉末、樹木年輪等。單層、多層厚度分析及其多元素、單元素濃度計算?？蓪崿F(xiàn)背景、光譜線交迭、光譜線干擾、基體效應、物理效應、礦物效應的多重校正。必須提供至少10塊工廠漂移校正樣，用以維護曲線的長期穩(wěn)定性。*2.10.4配備完整的空氣自動站樣品分析曲線。*B必備的配件、附