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《基于jtag和fpga的嵌入式soc驗(yàn)證系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。
1、合肥工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC驗(yàn)證系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)姓名：孫強(qiáng)申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：電路與系統(tǒng)指導(dǎo)教師：竇建華20090201基于JTAG和FPGA的嵌入式SoC驗(yàn)證系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)摘要隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)不斷的進(jìn)步，SOC(SystemOnaChip)是未來(lái)IC產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究關(guān)注的重點(diǎn)。由于SOC設(shè)計(jì)的日趨復(fù)雜化，芯片的面積增大，芯片功能復(fù)雜程度增大，其設(shè)計(jì)驗(yàn)證工作也愈加繁瑣。復(fù)雜ASIC設(shè)計(jì)功能驗(yàn)證已經(jīng)成為整個(gè)設(shè)計(jì)中最大的瓶頸。使用FPGA系統(tǒng)對(duì)ASIC設(shè)計(jì)進(jìn)行功能驗(yàn)證，就是利用FPGA器件實(shí)現(xiàn)用戶待驗(yàn)證的IC設(shè)計(jì)。利用測(cè)試向量或通過(guò)真實(shí)目標(biāo)系統(tǒng)產(chǎn)生激勵(lì)
2、，驗(yàn)證和測(cè)試芯片的邏輯功能。通過(guò)使用FPGA系統(tǒng)，可在ASIC設(shè)計(jì)的早期，驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)功能，支持硬件、軟件及整個(gè)系統(tǒng)的并行開(kāi)發(fā)，并能檢查硬件和軟件兼容性，同時(shí)還可在目標(biāo)系統(tǒng)中同時(shí)測(cè)試系統(tǒng)中運(yùn)行的實(shí)際軟件。FPGA仿真的突出優(yōu)點(diǎn)是速度快，能夠?qū)崟r(shí)仿真用戶設(shè)計(jì)所需的對(duì)各種輸入激勵(lì)。由于一些SOC驗(yàn)證需要處理大量實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，而FPGA作為硬件系統(tǒng)，突出優(yōu)點(diǎn)是速度快，實(shí)時(shí)性好?？梢詫OC軟件調(diào)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和ASIC的開(kāi)發(fā)同時(shí)進(jìn)行。此設(shè)計(jì)以ALTERA公司的FPGA為主體來(lái)構(gòu)建驗(yàn)證系統(tǒng)硬件平臺(tái)，在FPGA中通過(guò)加入嵌入式軟核處理器NIOSII和定制的JTAG(JointTestAction
3、Group)邏輯來(lái)構(gòu)建與PC的調(diào)試驗(yàn)證數(shù)據(jù)鏈路，并采用定制的JTAG邏輯產(chǎn)生測(cè)試向量，通過(guò)JTAG控制SOC目標(biāo)系統(tǒng)，達(dá)到對(duì)SOC內(nèi)部和其他IP(IntellectualProperty)的在線測(cè)試與驗(yàn)證。同時(shí)，該驗(yàn)證平臺(tái)還可以支持SOC目標(biāo)系統(tǒng)后續(xù)軟件的開(kāi)發(fā)和調(diào)試。本文介紹了芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，包括系統(tǒng)的性能、組成、功能以及系統(tǒng)的工作原理；搭建了基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC驗(yàn)證系統(tǒng)的硬件平臺(tái)，提出了驗(yàn)證系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案，重點(diǎn)對(duì)驗(yàn)證系統(tǒng)的數(shù)據(jù)鏈路的實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了闡述；詳細(xì)研究了嵌入式軟核處理器NIOSII系統(tǒng)，并將定制的JTAG邏輯與處理器NIOSII相結(jié)合，構(gòu)建出調(diào)試與驗(yàn)證數(shù)據(jù)
4、鏈路；根據(jù)芯片驗(yàn)證的要求，設(shè)計(jì)出軟核處理器NIOSII系統(tǒng)與PC建立數(shù)據(jù)鏈路的軟件系統(tǒng)，并完成芯片在線測(cè)試與驗(yàn)證。本課題的整體任務(wù)主要是利用FPGA和定制的JTAG掃描鏈技術(shù)，完成對(duì)國(guó)產(chǎn)某型DSP芯片的驗(yàn)證與測(cè)試，研究如何構(gòu)建一種通用的SOC芯片驗(yàn)證平臺(tái)，解決SOC驗(yàn)證系統(tǒng)的可重用性和驗(yàn)證數(shù)據(jù)發(fā)送、傳輸、采集的實(shí)時(shí)性、準(zhǔn)確性、可測(cè)性問(wèn)題．本文在SOC驗(yàn)證系統(tǒng)在芯片驗(yàn)證與測(cè)試應(yīng)用研究領(lǐng)域，有較高的理論和實(shí)踐研究?jī)r(jià)值。關(guān)鍵詞：SOC驗(yàn)證；FPGA；定制JTAG；NIOSII4ADesignofEmbeddedVerificationSystemBasedOilJTAGandFPGAA
5、BSTRACTAssemiconductormanufacturingtechnologycontinuestoprogress，SOC(SystemOnaChip)arethefutureofICindustry,thefocusoftechnologyresearch．DuetothegrowingcomplexityofSOCdesign，andchipsizeincreases，thecomplexityofthechipfunctionalityincreases，thedesignverificationworkhasbecomeevenmorecumbersome．
6、FunctionalverificationofcomplexASICdesignhasbecomethebiggestbottleneckindesign．ASICusingFPGAsystemdesignsfunctionalverificationiStouseFPGAdevicestoverifythedesignoftheuserquestion．Usingoftestvectorsorthroughthetargetsystemtoproduceatrueincentive，validatesandtestschiplogicfunction．Throughtheus
7、ingofFPGAsystems，intheASICdesignbeginning，itiseasytoverificationofchipdesigncapabilities，supportingforhardware，softwareandtheparalleldevelopmentofthewholesystemandcheckthehardwareandsoftwarecompatibility．Atthesametime，itcanalsobetestedintheta
