溶膠凝膠法制備鈦酸鍶鋇基鐵電薄膜的性能研究

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1、摘要(Sr,Ba)Ti03薄膜在DRAM、相位移器、熱釋電探測器等領(lǐng)域的應用前景已成為國內(nèi)外材料研究的主要領(lǐng)域之一。本文以Ba(0Ac)2,Sr(OAc)2.1/2H20和Ti(Oc4H9)4為主要前驅(qū)化合物,采用S01.Gel技術(shù)制備了光滑均一的BST薄膜,研究了退火溫度、摻雜元素以及襯底對BST薄膜結(jié)構(gòu)和性能的影響規(guī)律。采用P“Ti02/si02/Si結(jié)構(gòu)能穩(wěn)定Pt電極,當升/降溫速度為O.5—1℃/min,保溫時間為1小時時,薄膜的表面顆粒分布均勻、無裂紋、孔洞少。退火溫度為750℃時,BST薄膜轉(zhuǎn)化為完整的AB03型鈣鈦礦結(jié)構(gòu),薄膜表面平滑致密,顆粒發(fā)育完整、尺寸較大,存在微

2、疇區(qū)域,且薄膜的介電性能最佳。微量元素鎂、錳(其摻量范圍為O.000.0.100m01)摻加到BsT中制備的薄膜表面光滑平整、無缺陷裂紋。且微量元素鎂、錳提高了BST薄膜的介電常數(shù)e,,降低了其介電損耗tan6,且隨著微量元素添加量的增加,最大介電常數(shù)溫度點Tm逐漸移向低溫,介電常數(shù)峰的半高寬增加,呈現(xiàn)較強的彌散相變特征。只有當適量的微量元素存在時,薄膜的介電常數(shù)得到明顯的提高,當測試頻率為lKHz,Mg元素的摻量為0.100mol時,薄膜Sr05Ba04MgolTi03的£,、tall6分別為55,O.06,優(yōu)于其它Mg摻雜量的薄膜。Mn的摻加大大降低了薄膜的Tm溫度,O.100m

3、01的Mn元素使Sro5Ba05Ti03薄膜的Tm從304K降低到272K。微量元素取代Ba2+后形成了不同的缺陷類型及濃度,影響了退火處理時離子的擴散速率、晶粒的生長以及偶極子的形成及極化,呈現(xiàn)出性質(zhì)的差別。srTi03襯底具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu),晶格常數(shù)與BsT薄膜相匹配,且具有極好的化學和熱穩(wěn)定性。Nb:SrTi03(100)襯底上和純Sr,ri03(100)襯底上制備的BST薄膜的主要衍射峰為(100)、(200),薄膜的(100)面是沿著Nb:srTi03(100)、sr]n03(100)面外延生長的。Nb:SrTi03(100)襯底上制各的Sro5Ba04MgoITi03薄膜在測

4、試頻率為1M時,介電常數(shù)、損耗因子分別為100、O.019l,比同條件下Pt/Ti02/si02/si襯底上的Sro5Ba04MgoITi03(8r=50,taJl6=0.054)薄膜的介電性能要好。用高分辨率透射電鏡研究了sr0sBa05Ti03薄膜的鐵電微疇結(jié)構(gòu),疇的寬度估計在1.2m,晶格條紋整體上貫穿疇區(qū)與非疇區(qū)。測試條件為1000Hz、20V時,I溶膠.凝膠法制各鈦酸鑼鋇基鐵電薄膜的性能研究Sro5Bao4MnolTi03薄膜的剩余極化強度Pr和矯頑場Ec分別為O.16uC/cm2,90Kv/cm。關(guān)鍵詞:溶膠.凝膠法,Bs丁薄膜,介電性能,摻雜元素,外延生長IIABSTR

5、ACTTheapplicationsof(Sr,Ba)Ti03thin6lmsinDRAM(DynamicRandomAccessMemory),phaseshmersandp”oelectricuncooledinfrareddetectorhavebeenoneofthemostimponantfieldsaboutmaterialandsciencehomeandabroad.(S‘Ba)Ti03minfilmswithhi曲propertieswerepreparedbySoI—GeIprocessingusingbariumacetate,stmntiumacelateaI

6、ldtitatlium·tetrabutoxideasprecursormaterials.Inthisp印eLthee圩cctsofannealingtemperature,dopantandsubstrateonthemicrostructureandpropenieswereinVestigated.Smooth,crack-freesurfacewasobtainedatO.5—1℃,minofhyperthemicorcoolingtreatmentwitha60mjnhoIdat750℃onsubsIrateP們102/si02/Si.(Sr,Ba)Ti03thinfil

7、mscrystallinedimoAB03perovskitephaseatthearulealingtempemtureof750℃.Smooth,dense,defect-仔eesurfacephotograph,la唱egrains,micro-domainswereobtainedat750℃.Besides,thebestdielectricpropertiesweredetectedat750℃.DuetodopantsMgandMn(dopj

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