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《試論基于dna計(jì)算的組合電路測(cè)試生成研究》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。
1、分類(lèi)號(hào)密級(jí)UDC編號(hào)桂林電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文題目:基于DNA計(jì)算的組合電路測(cè)試生成研究(英文)ResearchonAutomaticTestGenerationofCombinationalCircuitBasedonDNAComputing研究生姓名：馬麗指導(dǎo)教師姓名、職務(wù)：許川佩教授申請(qǐng)學(xué)科門(mén)類(lèi)：工學(xué)碩士學(xué)科、專(zhuān)業(yè)：檢測(cè)技術(shù)與自動(dòng)化裝置提交論文日期：2008年4月論文答辯時(shí)間：2008年6月15日年月日萬(wàn)方數(shù)據(jù)獨(dú)創(chuàng)性（或創(chuàng)新性）聲明本人聲明所呈交的論文是我個(gè)人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知，除了文中特別
2、加以標(biāo)注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫(xiě)過(guò)的研究成果；也不包含為獲得桂林電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書(shū)而使用過(guò)的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中做了明確的說(shuō)明并表示了謝意。申請(qǐng)學(xué)位論文與資料若有不實(shí)之處，本人承擔(dān)一切相關(guān)責(zé)任。本人簽名：日期：關(guān)于論文使用授權(quán)的說(shuō)明本人完全了解桂林電子科技大學(xué)有關(guān)保留和使用學(xué)位論文的規(guī)定，即：研究生在校攻讀學(xué)位期間論文工作的知識(shí)產(chǎn)權(quán)單位屬桂林電子科技大學(xué)。本人保證畢業(yè)離校后，發(fā)表論文或使用論文工作成果時(shí)署名單位仍然為桂林電子科技大學(xué)。學(xué)校有權(quán)
3、保留送交論文的復(fù)印件，允許查閱和借閱論文；學(xué)?？梢怨颊撐牡娜炕虿糠謨?nèi)容，可以允許采用影印、縮印或其它復(fù)制手段保存論文。（保密的論文在解密后遵守此規(guī)定）本學(xué)位論文屬于保密在年解密后適用本授權(quán)書(shū)。本人簽名：日期：導(dǎo)師簽名：日期：萬(wàn)方數(shù)據(jù)摘要摘要隨著數(shù)字集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路的測(cè)試生成變得越來(lái)越困難，花費(fèi)的時(shí)間也越來(lái)越多。對(duì)于大規(guī)模的集成電路，傳統(tǒng)的測(cè)試生成算法已不再適用，尋找新型、有效的測(cè)試生成算法已成為一個(gè)重要的研究課題。DNA計(jì)算是在計(jì)算科學(xué)和分子生物學(xué)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一個(gè)新穎而極具發(fā)展?jié)摿Φ膶W(xué)科。它與遺傳算法（GA
4、）天生就具有某種必然的聯(lián)系。本文采用GA作為DNA計(jì)算進(jìn)行復(fù)雜優(yōu)化問(wèn)題求解的橋梁，在基于故障模擬的基礎(chǔ)上，建立了應(yīng)用DNA-GA解決組合電路測(cè)試生成問(wèn)題的算法流程。針對(duì)基于模擬的測(cè)試生成流程的特點(diǎn)，在算法流程中引入了兩個(gè)啟發(fā)性過(guò)程。本算法通過(guò)DNA的四字符集§=fA;C;G;Tg的編碼，引入基因級(jí)的遺傳操作，保證了種群的多樣性；控制測(cè)試生成不同階段中DNA鏈生成測(cè)試集的大小，減小了測(cè)試集的冗余，加快了測(cè)試生成速度。為將本算法與其他算法進(jìn)行比較，在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)電路iscas'85上對(duì)該算法進(jìn)行了驗(yàn)證，并對(duì)結(jié)果進(jìn)行了分析。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本文算
5、法獲得到了較高的故障覆蓋率，同時(shí)生成的測(cè)試矢量集大幅度縮小，證明本算法用于組合電路測(cè)試生成是有效的。從DNA生化實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)計(jì)算的角度，本文研究了組合電路測(cè)試生成的SAT解決方法，并建立了基于表面型的DNA生化計(jì)算模型。通過(guò)分析組合電路測(cè)試生成的CNF特點(diǎn)，引入了兩點(diǎn)改進(jìn)方法。在DNA計(jì)算模型中將原電路CNF和故障電路CNF的變量分別編碼，降低了DNA編碼的復(fù)雜度，使原電路CNF的DNA解鏈重復(fù)使用，降低了耗材。最后給出了應(yīng)用DNA計(jì)算解決組合電路測(cè)試生成的算法流程。由于DNA計(jì)算所具有的高度并行性、海量存儲(chǔ)能力等特點(diǎn)，本文算法將在特大
6、規(guī)模組合電路測(cè)試生成中顯現(xiàn)出優(yōu)越性。關(guān)鍵詞：組合電路；自動(dòng)測(cè)試生成；故障模擬；DNA計(jì)算；SAT問(wèn)題.{I{萬(wàn)方數(shù)據(jù)桂林電子科技大學(xué)學(xué)位論文AbstractWiththedevelopmentofmicroelectronicstechnologyandtheincreasingIC(Integr-ateCircuit)scale,ICtestisbecomingincreasinglydi±cultandtakesmoreandmoretime.Forlarge-scaleIC,thetraditionaltestgenerati
7、onalgorithmisnolongerapplica-ble.Soitneedstoˉndanewande?ectivetestgenerationalgorithm.DNAcomputingisanovelandhighlypotentialsubjectsdevelopedonthebasisofcomputerscienceandmolecularbiology.Onceitwasborn,ithasainherentlinkwithGA(GeneticAlgorithm).ThispaperusesGAasthebrid
8、geofDNAcomputingsolvingthecomplexoptimizationproblems.Itproposesanewalgorithm°owexploitedDNA-GAtosolvetestgenerationf
