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《ICP等離子體儀器及原理介紹》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內(nèi)容在教育資源-天天文庫。
1、安捷倫電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（7700ICPMS）原理介紹安捷倫科技生命科學與化學分析儀器部TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage2ICP-MS簡介ICP-MS全稱電感耦合等離子體質(zhì)譜（InductivelyCoupledPlasmaMassSpectrometry），可分析幾乎地球上所有元素（Li-U）ICP-MS技術是80年代發(fā)展起來的新的分析測試技術。它以將ICP的高溫（8000K）電離特性與四極桿質(zhì)譜計的靈敏快速掃描的優(yōu)點相結(jié)合而形成一種新型的最強有力的元素分析、同位素分析和形態(tài)分析技術。該技術提供了極低的
2、檢出限、極寬的動態(tài)線性范圍、譜線簡單、干擾少、分析精密度高、分析速度快以及可提供同位素信息等分析特性。自1984年第一臺商品儀器問世以來，這項技術已從最初在地質(zhì)科學研究的應用迅速發(fā)展到廣泛應用于環(huán)境保護、半導體、生物、醫(yī)學、冶金、石油、核材料分析等領域。被稱為當代分析技術最激動人心的發(fā)展。TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage3Agilent4500-#1sellingICP-MSworldwide1995-1998inclusive!!Source-Myers&AssocMarketStudy2/99等離子體色譜
3、軟件Agilent4500SeriesAgilent7500SeriesShieldTorchInterface安捷倫ICPMS的發(fā)展歷史1987年:第一代產(chǎn)品，第一臺計算機控制ICPMS儀器，型號PMS-100。1988年：第二代產(chǎn)品，型號PMS-200,高基體分析接口。1990年：第三代產(chǎn)品，型號PMS-2000。技術發(fā)明：Omega離軸偏轉(zhuǎn)透鏡“被證明優(yōu)于采用中心光子阻擋片的透鏡"－《電感耦合等離子體質(zhì)譜手冊》1992年：發(fā)明專利屏敝炬系統(tǒng)（ShieldTorch）應用于半導體行業(yè)ppt級K,Ca,Fe等元素的測定1994年：第四代產(chǎn)品，型號HP4500。第
4、一臺臺式ICP-MS1998年：第五代產(chǎn)品，HP4500+；發(fā)明Plasma-Chrom軟件，使ICPMS與色譜技術聯(lián)用實現(xiàn)一體化，使形態(tài)分析成為標準技術1999年：HP4500按專業(yè)應用分為100型，200型，300型。2000年：第六代產(chǎn)品，Agilent7500系列,按專業(yè)應用區(qū)分：7500a：基本配置；7500i：快速、大量樣品分析；7500s：半導體行業(yè)專用；2001年：第七代產(chǎn)品，Agilent7500c第一代八極桿反應池系統(tǒng)應用于環(huán)保、海水、臨床、醫(yī)藥等高基體樣品的分析及聯(lián)用技術和形態(tài)分析2002年：第八代產(chǎn)品，Agilent7500cs，第二代八極
5、桿反應池系統(tǒng)應用于半導體高純樣品及其他高基體樣品的分析2003年：第九代產(chǎn)品Agilent7500ce應用于海水、臨床、醫(yī)藥、環(huán)保及聯(lián)用技術和形態(tài)分析，高性能2007年：第十代產(chǎn)品Agilent7500cxHMI系統(tǒng)使儀器在高基體樣品分析中更加穩(wěn)定，高效2009Agilent7700seriesICP-MS上市TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage5ICP-MS的應用領域分布環(huán)境:49%飲用水、海水、環(huán)境水資源食品、衛(wèi)生防疫、商檢等土壤、污泥、固體廢物生產(chǎn)過程QA/QC，質(zhì)量控制煙草／酒類質(zhì)量控制,鑒別真?zhèn)蔚菻g,
6、As,Pb,Sn等的價態(tài)形態(tài)分析半導體:33%高純金屬(電極)高純試劑(酸,堿,有機)Si晶片的超痕量雜質(zhì)光刻膠和清洗劑醫(yī)藥及生理分析6%頭發(fā)、全血、血清、尿樣、生物組織等醫(yī)藥研究，藥品質(zhì)量控制藥理藥效等的生物過程研究地質(zhì)學:2%金屬材料，合金等土壤、礦石、沉積物同位素比的研究激光熔蝕直接分析固體樣品核工業(yè):5%核燃料的分析放射性同位素的分析初級冷卻水的污染分析化工，石化等:4%R&DQA/QC法醫(yī)，公安等:1%射擊殘留物分析特征材料的定性來源分析毒性分析TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage6什么是ICP-MS?
7、ICP-InductivelyCoupledPlasma電感耦合等離子體質(zhì)譜的高溫離子源樣品蒸發(fā)、解離、原子化、電離等過程MS-MassSpectrometer質(zhì)譜四極桿快速掃描質(zhì)譜儀通過高速順序掃描分離測定所有元素高速雙通道模式檢測器對四極桿分離后的離子進行檢測一種強有力的無機元素分析技術+ICP-MS的基本原理與Agilent7700介紹TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage7氬的第一電離能高于絕大多數(shù)元素的第一電離能(除He、F、Ne外)，且低于大多數(shù)元素的第二電離能(除Ca、Sr、Ba等)。因此，大多數(shù)元素
8、在氬氣等離
