左手材料奈米平板的表面電漿量子簡介

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1、左手材料奈米平板的表面電漿量子簡介文/邱國斌、蔡定平摘要左手材料奈米平板(nanoslab)上的奈米光學(xué)性質(zhì)是目前奈米科技中一個極熱門的研究課題,本文就左手材料與表面電漿量子之性質(zhì),以及奈米平板與電磁波之作用,做一個簡介。一、左手材料簡介1967年Veselago於理論研究上[1]指出,在介電係數(shù)(permittivity)以及導(dǎo)磁率(permeability)同時為負(fù)值時的物質(zhì)中,電磁波將會有不同於在普通一般物質(zhì)中的特異性質(zhì),藉由Maxwell方程式以及Poynting的能量流理論:(1)可以清楚知道在一般介質(zhì)中(e>0且m>0),電場(E)、磁場(H)與波向量(

2、k)符合右手系的向量關(guān)係(圖一、a),且電磁波群速度方向(平行S之方向)與相速度方向(平行k之方向)一致;然而當(dāng)e和m同時為負(fù)值時,電場、磁場以及波向量構(gòu)成左手系的向量關(guān)係(圖一、b),所以便稱這種具有e和m同時為負(fù)值的物質(zhì)為左手材料(left-handedmaterial)[2]。左手材料具有許多異於一般物質(zhì)的電磁波特性[1,2],例如圖二a中所示電磁波經(jīng)由一般物質(zhì)進入左手材料之物質(zhì)時,折射波的偏折方向?qū)⑴c入射波皆位於法線的同一邊,而非一般所熟悉的情形,即是分別在法線的兩邊;也由於一般物質(zhì)與左手材料介面有此一特殊的折射性質(zhì),使得以左手材料製作的凸透鏡或凹透鏡,分別

3、轉(zhuǎn)變成具有散光或聚光性質(zhì)的透鏡,如圖二b中所示;另一方面,圖二c顯示出平板狀的左手材料,則可表現(xiàn)出對於點光源進行聚焦的特性。圖一:電磁波在(a)一般材料與(b)左手材料中之電場、磁場、波向量與能量流密度方向之間的向量關(guān)係。另外,如Doppler效應(yīng)(見圖三、a)或Cerenkov輻射效應(yīng)(見圖三、b),在左手材料中亦會有與在一般物質(zhì)內(nèi)截然不同的結(jié)果。對於Doppler效應(yīng),若光源發(fā)出頻率w0的光,而偵測器以速度v接近光源時,在一般介質(zhì)之中偵測器所圖二:(a)入射光在經(jīng)過一般物質(zhì)與左手材料介面時,折射光偏折方向會與入射光在法線的同一邊。(b)以左手材料為材質(zhì)製作的凸透

4、鏡或凹透鏡,分別會表現(xiàn)出散光或聚光的效果。(c)平板狀的左手材料,會有類似一般凸透鏡的聚光效果。接收到的電磁波頻率將比w0高,而在左手介質(zhì)中時,則會收到比w0低的頻率;而在Cerenkov輻射效應(yīng)中,當(dāng)一個粒子在介質(zhì)中以速度v沿一直線運動,其輻射出的場會遵循ei(kzz+krr-wt)的形式,波向量k(k=kz/cosq)的方向會主要順著v的方向,但kr方向分量則在一般物質(zhì)與左手物質(zhì)中恰好會完全相反。此外,圖三、c中亦顯示電磁輻射對反射體造成的光壓,在左手材料的環(huán)境之中會是形成對反射體的拉曳力,而不是如在一般介質(zhì)中的推力。由於自然界中,過去一直並沒有發(fā)現(xiàn)介電係數(shù)和導(dǎo)

5、磁率同時為負(fù)值的物質(zhì)存在,所以左手材料雖圖三:(a)一般介質(zhì)與左手材料中Doppler效應(yīng)的比較。(b)一般介質(zhì)與左手材料中Cerenkov輻射效應(yīng)的比較。(c)處於左手介質(zhì)中的反射體在受到電磁波照射時,會受到吸引的應(yīng)力。然具有種種特殊的電磁特性,卻一直未受到太多人的注意。直至1996年P(guān)endry提出結(jié)合split-ringresonator(SRR)陣列與金屬線陣列的系統(tǒng),來達到對某一微波波段的電磁波此系統(tǒng)會同時具有負(fù)的介電係數(shù)與導(dǎo)磁率的想法[3],且在2001年Shelby等人以實驗[4]證實了微波波段左手材料的可行性,左手材料才開始成為人們所矚目的研究方向。

6、2000年P(guān)endry更首先提出perfectlens的概念[5],他認(rèn)為以一般物質(zhì)製作的光學(xué)透鏡,光源經(jīng)過透鏡再聚焦成像時,由於高頻率短波長的Fourier分量(即消散場部分)並無法被收集至成像平面上,以致於所成的像,其解析度受限於約一個波長大小的限制;然而以左手材料平板當(dāng)作透鏡時,若是能使平板的e及m與周圍物質(zhì)的介電係數(shù)及導(dǎo)磁率數(shù)值相等但卻是負(fù)值時,入射光在介面上的反射係數(shù)將為零,且在透鏡之中,電磁場Fourier成分中高頻率短波長的分量(消散場)會被放大,因此穿透至另一端介面的消散場振幅會有增強的效應(yīng),以致於成像的解析度可以突破波長的限制或是可以將光源聚焦至小

7、於波長平方的面積範(fàn)圍之內(nèi),他稱此一特殊現(xiàn)象為perfectlens。Perfectlens的效應(yīng)主要建立於消散場在左手材料中有增強的現(xiàn)象,後續(xù)的一些研究相繼提出,必須考慮介面處表面電漿量子(surfaceplasmonpolariton)的作用[6,7],才能比較合理地解釋此穿透的消散場的放大現(xiàn)象,本篇文章將介紹一些左手材料奈米平板之表面電漿量子的基本特性。二、金屬表面電漿的基本介紹[17]電磁輻射和物質(zhì)介面的交互作用常會產(chǎn)生出一些有趣且奇特的現(xiàn)象,近幾十年來,自從Wood[8]發(fā)現(xiàn)電磁波在刻有光柵(grating)的金屬表面,產(chǎn)生異常的反射光譜之後,對於介電物

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