主板診斷卡代碼詳解(對照表),

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1、主板診斷卡代碼詳解(對照表),特殊代碼"00"和"ff"及其它起始碼有三種情況出現(xiàn)：①已由一系列其它代碼之后再出現(xiàn)："00"或"ff"，則主板ok。②如果將cmos中設置無錯誤，則不嚴重的故障不會影響bios自檢的繼續(xù)，而最終出現(xiàn)"00"或"ff"。③一開機就出現(xiàn)"00"或"ff"或其它起始代碼并且不變化則為主板沒有運行起來。2、本表是按代碼值從小到大排序，卡中出碼順序不定。3、未定義的代碼表中未列出。4、對于不同bios（常用ami、award、phoenix）用同一代碼代表的意義不同，因此應弄清您所檢測的電腦是屬于

2、哪一種類型的bios，您可查閱您的電腦使用手冊，或從主板上的bios芯片上直接查看，也可以在啟動屏幕時直接看到。5、有少數(shù)主板的pci槽只有一部分代碼出現(xiàn)，但isa槽有完整自檢代碼輸出。且目前已發(fā)現(xiàn)有極個別原裝機主板的isa槽無代碼輸出，而pci槽則有完整代碼輸出，故建議您在查看代碼不成功時，將本雙槽卡換到另一種插槽試一下。另外，同一塊主板的不同pci槽，有的槽有完整代碼送出，如dell810主板只有靠近cpu的一個pci槽有完整代碼顯示，一直變化到"00"或"ff"，而其它pci槽走到"38"后則不繼續(xù)變化。6、復位

3、信號所需時間isa與pci不一定同步，故有可能isa開始出代碼，但pci的復位燈還不熄，故pci代碼停要起始代碼上。代碼對照表00.已顯示系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引導裝入。01處理器測試1，處理器狀態(tài)核實,如果測試失敗，循環(huán)是無限的。處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。CPU寄存器測試正在進行或者失敗。02確定診斷的類型（正?；蛘咧圃欤Ｈ绻I盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。CMOS寫入／讀出正在進行或者失靈。03清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH）通

4、電延遲已完成。ROMBIOS檢查部件正在進行或失靈。04使8042鍵盤控制器復位，核實TESTKBRD。鍵盤控制器軟復位／通電測試?？删幊涕g隔計時器的測試正在進行或失靈。05如果不斷重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復位／通電；即將啟動ROM。DMA初如準備正在進行或者失靈。06使電路片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機字節(jié)。已啟動ROM計算ROMBIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進行或失靈。07

5、處理器測試2，核實CPU寄存器的工作。ROMBIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。.08使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huán)。已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。RAM更新檢驗正在進行或失靈。09EPROM檢查總和且必須等于零才通過。核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jié)。第一個64KRAM測試正在進行。0A使視頻接口作初始準備。發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。第一個64KRAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。0B測試8254通道0。寫入鍵盤控制器

6、命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。第一個64KRAM奇／偶邏輯失靈。0C測試8254通道1。鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。第一個64KRAN的地址線故障。0D1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。第一個64KRAM的奇偶性失靈0E測試CMOS停機字節(jié)。CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總和。初始化輸入／輸出端口地址。0F測試擴展的CMOS。

7、已計算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準備。.10測試DMA通道0。CMOS已作初始準備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時間作初始準備。第一個64KRAM第0位故障。11測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。第一個64DKRAM第1位故障。12測試DMA頁面寄存器。停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。第一個64DKRAM第2位故障。13測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備；即將開始電路片初始化／存儲

8、器自動檢測。第一個64DKRAM第3位故障。14測試存儲器更新觸發(fā)電路。電路片初始化／存儲器處自動檢測結(jié)束；8254計時器測試即將開始。第一個64DKRAM第4位故障。15測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。第2通道計時器測試了一半；8254第2通道計時器即將完成測試。第一個64DKRAM第5位故障。16建立8259所用的中斷矢量表。第2