實驗四 IDW和Spline空間插值對比與克里格方法內(nèi)插生成曲面

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1、實驗四IDW和Spline空間插值對比與克里格方法內(nèi)插生成曲面IDW和Spline空間插值對比實驗?zāi)康模和ㄟ^練習(xí)熟練掌握如何利用IDW內(nèi)插方法和Spline內(nèi)插方法進(jìn)行GDP空間分布特征的分析，以及兩種插值方法的適用條件，并以此來加強(qiáng)對空間插值的認(rèn)識。實驗內(nèi)容：用IDW法和Spline法內(nèi)插生成GDP曲面實驗數(shù)據(jù)與要求：數(shù)據(jù)：GDP為某地區(qū)的統(tǒng)計GDP數(shù)據(jù)，bound為該地區(qū)的邊界數(shù)據(jù)。要求：1)經(jīng)濟(jì)發(fā)展具有一定的連帶效應(yīng)和輻射作用。以該地區(qū)各區(qū)域年GDP數(shù)據(jù)為依據(jù)，采用IDW和Spline內(nèi)插方法創(chuàng)建該地區(qū)GDP空間分異柵格圖。2）分析每種插值方法

2、中主要參數(shù)的變化對內(nèi)插結(jié)果的影響。IDW：P=2和P=5。Spline：規(guī)則樣條法，Weight=0和Weight=0.01；張力樣條法，Weight=0和Weight=5。3）分析兩種內(nèi)插方法生成的GDP空間分布圖的差異性，簡單說明形成差異的主要原因。實驗過程與步驟：（1）運(yùn)行ArcMap，點(diǎn)擊Tools菜單下的Extensions，選擇SpatialAnalyst，點(diǎn)擊Close按鈕（2）單擊File菜單下的Open命令，選擇E:Chp8Ex4GDP.mxd（3）打開Options對話框中的General選項卡，設(shè)置默認(rèn)工作路徑為：“E:

3、Chp8Ex4result”并設(shè)置Analysismask為bound（3）在SpatialAnalyst下拉菜單中選擇InterpolatetoRaster,在彈出的下一級菜單中點(diǎn)擊InverseDistanceWeighted，彈出如下圖所示的對話框，設(shè)置Zvaluefield為GDP；設(shè)置Power為2；設(shè)置Outputcellsize為500；其他參數(shù)不變，點(diǎn)擊OK，進(jìn)行計算Power=2時，生成的結(jié)果將Power值改為5，重復(fù)上述步驟。下圖為Power=5時，生成的結(jié)果（5）在SpatialAnalyst下拉菜單中選擇RasterCa

4、lculator，求Abs（（Power=2）—（Power=5））2、Spline內(nèi)插法（1）在SpatialAnalyst下拉菜單中選擇InterpolatetoRaster,在彈出的下一級菜單中點(diǎn)擊Spline。彈出對話框后，設(shè)置Zvaluefield為GDP；設(shè)置Splinetype為Regularized；設(shè)置Weight值為0；設(shè)置Outputcellsize為500；其他參數(shù)不變，點(diǎn)擊OK，進(jìn)行計算當(dāng)weight=0時，生成的圖像如下圖所示將Weight值改為0.01，重復(fù)上述步驟。當(dāng)Weight=0.01時，生成的圖像如下圖所示（2）

5、設(shè)置Splinetype為Tension,并分別取Weight值為0和5進(jìn)行計算當(dāng)weight=0時，生成的圖像如下圖所示將Weight值改為5，重復(fù)上述步驟。當(dāng)Weight=5時，生成的圖像如下圖所示在SpatialAnalyst下拉菜單中選擇RasterCalculator，并求Regularized中Abs（（Weight=0）-（Weight=0.01))SplineRegularized插值結(jié)果如下圖所示SplineTension插值結(jié)果如下圖所示3、IDW與Spline對比分析（1）選取IDW（Power=2）內(nèi)插結(jié)果圖和Spline（R

6、egularized，Weight=0.01）內(nèi)插結(jié)果圖；在SpatialAnalyst下拉菜單中選擇RasterCalculator，輸入公式，點(diǎn)擊Evaluate來完成運(yùn)算運(yùn)算結(jié)果如下圖所示泰森多邊形做的插值如下：克里格方法內(nèi)插生成曲面實驗?zāi)康模和ㄟ^練習(xí)熟練掌握并理解每種克里格方法的原理及實現(xiàn)過程，體會在具體應(yīng)用中的適應(yīng)性。實驗內(nèi)容：用克里格法內(nèi)插生成曲面實驗數(shù)據(jù)與要求：數(shù)據(jù)：某地區(qū)的高程采樣點(diǎn)（jyg.shp）；要求：根據(jù)數(shù)據(jù)特征，至少選用兩種克里格方法內(nèi)插生成高程表面，比較不同方法的優(yōu)劣，并分析對于此例該方法的適用性。實驗過程與步驟：1、在A

7、rcMap中加載jyg.shp，如圖1所示。?2、右擊工具欄，啟動地理統(tǒng)計模塊GeostatisticalAnalyst。3點(diǎn)擊CreateSubsets命令4、在彈出的對話框中，Input選項中選擇需要生成子集的數(shù)據(jù)jyg，點(diǎn)擊Next按鈕。5、在彈出的對話框中，通過滑塊設(shè)置訓(xùn)練子集與檢驗子集的比例，在OutputPersonalGeodatabase中設(shè)置子集的輸出路徑及名稱，點(diǎn)擊完成按鈕（圖4）。?6、單擊選中jyg_training層面，隨后點(diǎn)擊GeostatisticalAnalyst模塊的下拉箭頭選擇ExploreData并點(diǎn)擊Histo

8、gram命令，生成如下結(jié)果（圖5、6）。7、點(diǎn)擊GeostatisticalAnalyst模塊的下拉箭頭選擇