上房溝鉬礦輝鉬礦俄歇能譜分析-論文.pdf

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1、第32卷第4期礦物學(xué)報Vb1．32．No．42012年12月ACTAMIERALoGICASINICADec．，2012文章編號：1000—4734(2012)04．0543．05上房溝鉬礦輝鉬礦俄歇能譜分析王守敬，衛(wèi)敏，趙平，卞孝東，馬馳(中國地質(zhì)科學(xué)院鄭州礦產(chǎn)綜合利用研究所國家非金屬礦資源綜合利用工程技術(shù)研究中心，河南鄭州450006)摘要：通過掃描電鏡分析和俄歇能譜分析對上房溝鉬礦原礦、浮選精礦和浮選尾礦以及三道莊鉬礦(易選礦)中輝鉬礦進(jìn)行了表面元素組成和微形貌研究。結(jié)果顯示上房溝鉬礦中輝鉬礦表面呈陡峭階梯狀，且氧化強(qiáng)烈，而三道莊鉬礦中輝鉬礦表面平整，氧化較弱。綜合分析認(rèn)為上房溝鉬礦中輝

2、鉬礦陡峭階梯狀表面會增加其表面極性面的比重；表面氧化會增加輝鉬礦表面非極勝面的表面能，改變其表面疏水性。兩者都會降低輝鉬礦的可浮性。因此上房溝鉬礦中輝鉬礦表面氧化程度高、表面不平整是影響其浮選效果的主要因素之一。關(guān)鍵詞：上房溝鉬礦；輝鉬礦；表面元素組成和微形貌；俄歇能譜分析；掃描電鏡分析中圖分類號：P578．2；P579；TD913文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A作者簡介：王守敬，男，1982年生，碩士，研究實習(xí)員，礦物學(xué)、巖石學(xué)、礦床學(xué)專業(yè)，工藝礦物學(xué)方向．E．mail：shj_wang@163．corn上房溝鉬礦位于河南省欒川縣，Mo平均品的成果。位0．187％，金屬儲量70．5萬t(2004年資源儲本次研

3、究采用俄歇電子能譜分析和掃描電量核實報告)，是我國特大型鉬礦床之一，但也鏡分析等方法研究上房溝鉬礦中輝鉬礦表面特是世界著名的難利用鉬礦之一。其難利用的癥結(jié)征，分析其對輝鉬礦浮選效果的影響，對于探索是輝鋁礦浮選效果較差J。上房溝鉬礦輝鋁礦難選原因，指導(dǎo)其選礦工藝革眾所周知，浮選是根據(jù)礦物顆粒表面物理化新具有重要意義。學(xué)性質(zhì)的不同，從礦石中分離有用礦物的技術(shù)方法，其實質(zhì)是在固一液氣三相界面上發(fā)生的復(fù)雜1樣品采集與制備表面化學(xué)物理過程L3J，即利用礦物原料自身具有本次研究采取了上房溝鉬礦花崗斑巖型、夕的表面活性或經(jīng)藥劑處理后獲得的疏水、親氣卡巖型、角巖型及輝長巖型4種類型的礦石。同(或親油)特性，在

4、相界面聚集，或發(fā)生氣泡吸時，還采取了欒川地區(qū)三道莊鉬礦(易選礦)樣附，進(jìn)而進(jìn)行分選【4J。礦物表面元素分布，尤其是最外層l～3個原子層區(qū)問內(nèi)的元素分布及化品進(jìn)行對比研究。學(xué)鍵直接影響礦物表面性質(zhì)l4J。因此礦物表面性將上房溝鉬礦各類型樣品破碎至2mm以質(zhì)研究對于指導(dǎo)選礦具有重要意義。目前已有人下，按各類型礦石儲量配礦。把配好的礦縮分后用量子化學(xué)討論礦物表面原子層與浮選劑作用，細(xì)磨，并進(jìn)行輝鉬礦浮選，制備浮選精礦樣品和從微觀上很好地說明了浮選試驗事實和浮選機(jī)尾礦樣品。理[。-剛。分別挑選上房溝鉬礦原礦樣品、浮選精礦和隨著物質(zhì)表面科學(xué)的發(fā)展，各種表面分析儀尾礦樣品以及三道莊鉬礦原礦中的輝鉬礦單礦器

5、的誕生，礦物表面的研究也隨之成為礦物學(xué)的物進(jìn)行掃描電鏡照相和俄歇能譜分析。熱點之一。國內(nèi)外很多專家、學(xué)者利用俄歇電子能譜分析(AES)等方法，在礦物表面元素分布2掃描電鏡結(jié)果與討論特征和微形貌]和礦物表面性質(zhì)與礦物浮選關(guān)系[4,6,15-17等方面進(jìn)行了深入的研究，取得了矚目本次掃描電鏡分析主要研究輝鉬礦0001解理面的形貌特征。結(jié)果顯示上房溝鉬礦中輝鉬礦收稿日期：20l2—03—18晶形較差(圖1A，B，C)，表面多呈陡峭的階梯狀基金項目：地質(zhì)調(diào)查項目(編號1212010816038)：國家“十一五”科技支撐計劃課題(編號：2008BAB32B11)(圖lE，F(xiàn))。三道莊鉬礦中輝鉬礦晶形較好

6、，多第4期王守敬，等．上房溝鉬礦輝鉬礦俄歇能譜分析上房溝鉬礦中輝鉬礦表面多呈陡峭的階梯的對比，這里主要討論C、0、S和Mo等元素的狀，其實際作用增加了輝鉬礦表面的棱面比，提分布特征。高了輝鉬礦表面親水性的極性面比重，降低了輝2個礦床的輝鉬礦表面C、S和Mo等元素含鉬礦的可浮性，對輝鉬礦浮選具有一定的影響。量隨剝蝕深度的變化趨勢基本一致，即表面C含量很高，S和Mo含量較低，隨著剝蝕深入，C3俄歇能譜分析結(jié)果與討論含量迅速降低，S和Mo含量迅速升高(圖2)。一般來說，樣品在空氣中由于吸附或吸收，俄歇能譜分析點位見圖1，剝蝕方向基本垂其表面污染層常達(dá)0．5nnl左右，成分以C、O、直解理面，分析結(jié)果

7、見表1，圖2。分析結(jié)果顯H為主。AES的取樣深度為0．1～2．0nlTl，所以示上房溝輝鉬礦表面主要組成元素為c、O、Mg、其分析結(jié)果中總顯示有C和O(AES不能分析H)Mo和S，其中C含量最高。x(C)為44．61％～的存在。因此輝鉬礦表面c可能是表面污染。隨82．34％，x(S)為7．65％~24．83％，x(O)2．43％著碳污染層被剝蝕掉，S和Mo含量快速升高。16．72％，x(Mo13．